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热成像技术综述

  克日什托夫·克尔扎诺夫斯基

书作者:克日什托夫·赫尔扎诺夫斯基

书名:热成像技术综述
  出版社:Inframet
INSB 编号:978-83-972882-0-1
出版日期:2024年08月23日
版权所有 ® 2024 ® 2024 ^(®)2024{ }^{\circledR} 2024 Krzysztof Chrzanowski
这是一本开放获取电子书,可以在任何媒介复制、再现并免费分发,但需要正确引用书籍,使用不得用于商业目的,并且不得进行任何修改或改编。

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综述 热成像技术

  克日什托夫·赫尔扎诺夫斯基

  作者序言

热成像仪是国防/安全应用中最重要的光电成像系统。这些成像仪对于实现非接触式温度测量也极其重要的一系列民用应用。
因此,热成像技术已经得到了全球科技界的广泛关注。关于这项技术已经发表了数万篇科学论文。还有数十本专门讨论热成像的书籍或综述论文。
然而,现有的热成像技术书籍/综述论文主要集中于该技术的特定应用、热成像物理学、成像仪特定模块的设计,或其他狭窄的技术层面。
本书独特之处在于,它试图全面回顾广域热成像技术,并对与该技术相关的基础性问题提供答案:
  1. 热成像仪是如何设计和制造的,
  2. 热成像仪的构建模块是什么,
  3. 世界市场上可用的热成像仪如何进行技术分类,
  4. 热成像仪表征的基本规则是什么,
  5. 热成像的未来技术趋势是什么。
作者希望这篇现代热成像技术的综述能帮助读者理解热成像仪的设计和制造、国际热成像市场的复杂情况以及潜在的未来技术趋势。
作者是热成像仪测试设备制造商之一的首席执行官 1 1 ^(1){ }^{1} ,同时也是一名科学家兼大学教授 2 2 ^(2){ }^{2} ,在热成像领域工作已有三十多年。这两份工作使他积累了大量热成像领域的实践知识,这些知识也被用于撰写本书。
作为一家商业公司的首席执行官,作者生产和销售公司产品。然而,作为一名科学家,作者相信科学知识应以开放获取文献的形式自由共享。
因此,这本开放获取的书籍是作者送给广大对这项迷人技术感兴趣的国际社区的礼物。
附注:作者希望阅读这本书比发音他的姓氏要容易得多😉。作者还为本书语言不够完美道歉,因为英语不是他的母语。
  2024年8月
  克日什托夫·赫尔扎诺夫斯基

  目录

  1.   引言 … 1
  2. 热成像术语 … 3
  3. 热成像的基本物理原理 … 5
  4. 热成像仪的代际发展 … 7
  5. 热成像仪的制造模式 … 9
  6. 热成像仪的组成模块 … 12
    6.1 红外焦平面阵列图像传感器。 … 12
    6.2 焦平面阵列控制器。 … 19
    6.3 光学目标 … 27
    6.4 成像仪外壳。 … 35
    6.5 可选模块。… 35
  7. 图像增强方法。… 37
    7.1 空间噪声的减小。… 37
    7.2 盲点的校正。… 39
    7.3 热成像仪温度跨度的调节 … 40
    7.4 图像质量改进方法 … 42
  8. 热成像仪的商业划分 … 44
  9. 热成像仪的技术划分 … 45
    9.1 传感器冷却。… 45
    9.2 成像仪光谱波段。… 48
    9.3 辐射度校准。… 49
    9.4 不同输出图像类型的成像仪 … 51
    9.5 最大监控范围 ... 54
    9.6 辐射测量能力 ... 55
    9.7 与其他成像/激光系统的集成 ... 59
  10. 热像仪表征基础 ... 60
    10.1 热成像仪的表征概念 … 61
    10.2 热成像仪的性能参数 … 63
    10.3 最常见的参数 … 65
    10.4 关键重要的参数 … 69
    10.5 热成像仪的探测、识别和识别距离范围。… 73
  11. 热成像技术的未来发展趋势 … 75
    11.1 汽车热成像图像。… 76
    11.2 长寿命、低尺寸/重量/功耗的制冷型热成像仪 … 77
    11.3 高采样热像仪 … 79
    11.4 超高图像分辨率热像仪 … 80
    11.5 融合热像仪 … 81
    11.6 制冷型长波红外热像仪的复兴 … 83
    11.7 超远程热像仪 ... 84
    11.8 折叠式热像仪 ... 85
    11.9 用于地球观测的空间热像仪 ... 85
    11.10 热像仪的批量生产 ... 87
  12.   结论。… 88
  13. 缩略语列表。… 89
      致谢。… 91
      参考文献。… 92

  1. 引言

热像仪是一种利用目标自身发射的热辐射,主要生成地球典型温度下观测目标图像的电光成像系统。
它们在国防安全领域(军事、边防、警察等)和民用领域(工业非接触温度测量、汽车行业、无损热测试、电力线测试、建筑行业、医疗应用、消防救援等)都找到了众多应用。热像仪的民用市场正在增长(尤其是汽车行业),但国防安全市场仍然占据主导地位。
热像仪被视为国防安全应用中最重要的成像技术。它们对于在夜间和复杂大气条件下执行任务至关重要。这项技术对于前面列出的民用应用同样极为重要。
热成像技术已从20世纪70年代的稀罕新奇发展成为可实现规模化制造的成熟技术。从商业角度来看,热成像已成为一个价值数十亿美元的产业。
热成像技术在全球科学界得到了广泛关注。科学家们对这项技术表现出极大的兴趣,这促使发表了数千篇科学论文。
在 Google 学术搜索中,使用"热成像"关键词可以找到超过 5560 篇文献[1]。如果使用类似的关键词(如红外成像、热成像仪、热成像法),相关出版物的数量还可以成倍增加。
SPIE 数字图书馆也生成了数千篇关于热成像技术的出版物[2]。
对这大量文献的分析表明,已发表了一系列关于热成像的综述论文[3-13]。同时也有一些可用的书籍,至少部分地回顾了热成像技术[14-21]。
此外,热成像仪器制造商的网站还设有教育栏目,旨在教育潜在客户[22-23]。更进一步,科学家们准备的众多教育网站上也可以找到热成像信息[24-27]。
最后,对热成像仪中作为关键模块的红外焦平面阵列(FPA)图像传感器的物理学和技术已有极好的综述(或使用更广泛的术语"红外探测器")[28-32]。这些论文还包括描述热成像技术的章节。
然而,尽管科学论文数量众多,但可用的热成像技术文献仍存在显著局限性。
首先,现有的热成像评论论文中,绝大多数都是针对热成像的特定应用领域进行一些回顾(尤其是医学应用方面的论文数量众多)。目前还没有一篇论文尝试对整体热成像技术进行全面回顾。
此外,书籍中描述热成像仪设计的章节通常已过时,或仅专注于辐射度测量成像仪。
其次,现有文献主要集中于红外探测器的物理学/技术,并未提供热成像技术的完整视角。
第三,不同出版物中使用的热成像术语混乱,这使得外行人难以理解这些论文。
第四,现有文献未呈现国际市场上可用的热成像仪实际制造模型。
第五,市场上尚未提出使用明确技术标准来将这些热像仪进行逻辑分类的方案。
第六,从设计者的角度来看,还缺乏与其他成像技术(如可见近红外相机)的比较。
第七,要找到描述热像仪的明确规则很困难。
第八,虽然很容易找到红外焦平面阵列技术的未来趋势文献,但缺乏更广泛的热成像技术趋势文献。
在这种情况下,本书的目的是以一种能够消除或至少减少这些缺陷的方式对热成像技术进行回顾。
第2章介绍了热成像术语中的混乱状况。这种澄清尤其可以帮助技术新手。
第3章介绍了热成像的基本物理学知识。讨论了理解热成像物理学所需的主要物理现象(辐射定律、大气传输)。
第4章提出了热成像仪的三代历史划分。还讨论了现代定焦成像仪与人眼成像系统的比较。
第5章介绍了制造热成像仪的独特且易于理解的模型。还讨论了使用不同模型的制造阶段。
第6章可以被视为本书最重要的章节。它详细描述了热成像仪的主要组成部分:红外焦平面阵列传感器、焦平面阵列控制器、红外目镜、成像仪机壳以及可选模块。还讨论了这些组件的设计规则。
第7章介绍了图像增强方法,这些方法在热成像仪的工作中发挥重要作用。
讨论了热成像仪生成的视频图像中空间噪声的减少方法、盲点校正、成像仪温度范围调节以及提高热成像仪生成的视频图像的分辨率/清晰度的方法。
第8章介绍了热像仪的商业划分。这种热像仪的划分是基于世界顶级制造商使用的预期市场/应用标准。
第9章根据作者提出的七个技术标准对热像仪进行技术划分:1)图像传感器冷却、2)成像光谱波段、3)辐射测量校准、4)输出图像形式、5)工作范围、6)辐射测量能力、7)与成像/激光传感器的集成。
第10章介绍了热像仪特征表征的基础。首先,呈现了特征描述的总体概念和热像仪性能参数的详细列表。随后,详细讨论了最流行和最重要的参数。
第11章介绍了热成像的未来发展趋势。具体讨论了十个技术趋势:
  1. 汽车热像仪,
  2. 基于 HOT 光电红外焦平面阵列的长寿命、小重量、低功耗制冷型热像仪,
  3. 基于超小像素红外焦平面阵列的高采样热像仪,
  4. 基于大型红外焦平面传感器的超高图像分辨率热像仪,
  5.   热像仪融合技术,
  6. 军事应用中冷却型 LWIR 热像仪的复兴,
  7. 超远程热像仪,
  8.   折叠式热像仪,
  9. 用于地球观测的空间热成像仪,
  10. 中等性能、批量生产、低成本的热成像仪。
第12章对本书之前讨论的章节进行了简要总结。
最后,第13章列出了本书中使用的缩略语。

2. 热成像术语

热成像是一个已经存在约六十年的成熟技术(起源于1960年代)。
尽管拥有相对悠久的历史,但至今仍未建立一个被国际认可的术语标准(或被全球接受的书籍/科学论文),以规范热成像技术的术语。
作者倾向于将热像仪定义为:在典型地球温度下,主要利用目标本身发出的热辐射生成观测目标图像的电光成像系统。
应当注意,要成为一个热像仪,系统必须同时满足三个条件:
  1. 电光成像系统(将光学图像转换为电子图像,并可选择逆向过程)
  2. 系统必须能够生成处于典型地球温度范围(约 250 K 至约 330 K)的目标图像
  3. 热辐射必须在成像系统的光谱波段中占主导地位。
这一定义间接地指出了热成像仪的光谱波段。这是一个从大约 3 μ m 3 μ m 3mum3 \mu \mathrm{~m} 到大约 15 μ m 15 μ m 15 mum15 \mu \mathrm{~m} 的波段,因为在这个光谱波段热辐射占据主导地位。
文献中至少有十种不同的术语用于描述具备热成像能力的成像系统:
  1.   热成像仪[33-36],
  2.   热像仪[37-38],
  3. 热成像摄像机
  4.   菲力尔(FLIR)
  5. 热视觉摄像机
  6. 热成像摄像机
  7. 红外成像辐射计[47-48],
  8. 热成像系统[49-50],
  9.   热成像仪[51-52],
  10. 热视频系统[53-55]。
作者认为序号2-10基本上是热像仪这一基本名称的同义词。在某些情况下(序号6-8),这些名称指的是热像仪的子类型。
然而,不同文献来源的作者认为这个列表中的成像系统名称之间存在显著差异,从而加剧了术语混乱。
为了缩短讨论,我们仅讨论流行网站维基百科提出的术语:
  1.   红外热像术[56],
  2. 热成像摄像机[57],
  3. 热像仪[58],
  4.   FLIR[59]。
热图像章节在开头提到,术语"热图"是本书中使用的"热成像"一词的同义词。
再往下,本节还将红外热像法(IRT)定义为通过使用对象本身发出的红外辐射,由热像仪捕获并创建对象图像的过程。
这个定义存在明显缺陷,根据该定义,所有红外成像系统(包括近红外相机或短波红外成像仪)都可被视为热像法/热成像。这是毫无意义的,因为近红外相机无法看到普通目标发出的热辐射。
这一结论对短波红外成像仪同样适用。此外,该定义的某些片段仅适用于工业应用中的热像仪,而热成像还覆盖了监视/军事应用。
再往下,热像仪摄像机部分实际上仅展示了专门为消防员优化的热像仪。热像仪摄像机(俗称 TIC)被定义为用于消防的热像仪的一种类型。
实际上,这意味着维基百科仅推荐了热成像摄像机这一术语非常
狭窄的含义,通常用于描述几乎任何能够进行热成像的设备类型。
最后,热成像摄像机部分将热成像摄像机定义为使用红外(IR)辐射创建图像的设备,类似于普通相机使用可见光形成图像。
与可见光相机 400-700 纳米(nm)的波长范围不同,红外相机对从约 1 , 000 nm 1 , 000 nm 1,000nm1,000 \mathrm{~nm} (1 微米或 μ m μ m mum\mu \mathrm{m} )到约 14 , 000 nm ( 14 μ m ) 14 , 000 nm ( 14 μ m ) 14,000nm(14 mum)14,000 \mathrm{~nm}(14 \mu \mathrm{~m}) 的波长敏感。在作者看来,这个定义有两个错误。首先,未提及应使用热辐射来创建输出图像。其次,它暗示即使在 1 1.7 μ m 1 1.7 μ m 1-1.7 mum1-1.7 \mu \mathrm{~m} 波段敏感的非制冷短波红外摄像机也可以被视为热成像摄像机,而实际上这种成像仪无法观测典型地球温度的目标。
最后,维基百科的 FLIR 章节将前视红外(FLIR)定义为通常在军用和民用飞机上使用的、利用红外辐射成像的热成像系统。这意味着 FLIR 系统是机载热成像仪。
然而,在实践中,术语 FLIR 在文献中也被用于描述非机载热成像仪。
此外,热成像仪主要制造商使用的术语主要忽略了维基百科的建议。
例如,根据 Teledyne-FLIR(可能是世界上最大的热成像仪制造商)的网站,"热成像相机"这个术语仅描述用于工业非接触温度测量的狭窄类型的辐射热成像仪,而根据维基百科,这个术语几乎描述了所有类型的热成像仪,甚至包括消防成像仪。
总之,对热成像文献的回顾表明,由于缺乏术语标准或其他半标准文件,造成了几乎完全的术语混乱。同一个成像系统可能被称为不同的名称。
更重要的是,提供热成像的同一个系统也可能被不同地命名。不同的作者在科学论文、手册和目录中使用不同的术语,这使得即使对专业人士来说也难以理解。
热成像术语缺乏标准化是理解这项技术的最大障碍之一,尤其对于该技术的新手而言。

3. 热成像的基本物理原理

光辐射(波长约 100 纳米至约 1 mm 的光)通常根据不同的光谱范围按波长划分:红外线、可见光和紫外线。红外线范围进一步划分为:近红外线 NIR( 0.78 1 μ m 0.78 1 μ m 0.78-1mum0.78-1 ~ \mu \mathrm{~m} )、短波红外线 SWIR( 1 3 μ m 1 3 μ m 1-3mum1-3 ~ \mu \mathrm{~m} )、中波红外线 MWIR( ( 3 6 μ m ) ( 3 6 μ m ) (3-6mum)(3-6 \mu \mathrm{~m}) )、长波红外线 LWIR( ( 6 15 μ m ) ( 6 15 μ m ) (6-15 mum)(6-15 \mu \mathrm{~m}) )以及远红外线 FIR( ( 15 1000 μ m ) ( 15 1000 μ m ) (15-1000 mum)(15-1000 \mu \mathrm{~m}) )。
然而,还应注意,所有这些光谱波段的辐射还可以根据起源标准分为两组:
  1.   热辐射,
  2.   非热辐射。
热辐射是由绝对零度以上的所有热源产生的辐射,并由普朗克定律所支配。
非热辐射是由所有非热现象产生的辐射:激光、电致发光、光致发光、回旋加速/同步辐射等。
在地球条件下遇到的几乎所有光学辐射都是热辐射。应该注意的是,太阳光(包括可见光范围)实际上是由极高温发射体(即太阳)以辐射形式发出的热辐射。
月光也是如此,实际上是太阳反射到月球表面的热辐射。
来自典型地球温度目标的热辐射主要集中在中波红外和长波红外波段(光谱范围约从 3 μ m 3 μ m 3mum3 \mu \mathrm{~m} 到 15 μ m μ m mum\mu \mathrm{m} ),这一波段的辐射远超过太阳、月球、恒星和天空发出的辐射。在可见光、近红外和短波红外范围(VIS-SWIR 波段 - 波长低于 3 μ m 3 μ m 3mum3 \mu \mathrm{~m} )则完全相反,此范围内地球目标发出的热辐射几乎不存在。
因此,通常被监视的目标(如人员、机械车辆、船舶、飞机)的辐射主要发生在 MWIR-LWIR 光谱波段,而这些目标在 VIS-SWIR 光谱波段则是反射光学辐射(图 1)。
基于这些原因,热辐射一词通常被理解为在 MWIR-LWIR 光谱波段由典型地球温度目标发出的辐射。
图1. 成像系统接收到的目标光学辐射
目标感兴趣的热辐射在目标与热像仪之间经过大气衰减。
大气传输取决于多种因素(距离、湿度、温度、海拔、天气条件),但对于任何情况,都可以说大气仅在两个所谓的大气窗口中相对良好地传输:MWIR 窗口(约 3 5 μ m 3 5 μ m 3-5mum3-5 \mu \mathrm{~m} )和 LWIR 窗口(约 8 2 μ m 8 2 μ m 8-2mum8-2 \mu \mathrm{~m} )。应该注意的是,在 MWIR 窗口内存在一个内部吸收带(约 4.15 4.35 μ m 4.35 μ m 4.35 mum4.35 \mu \mathrm{~m} )。典型的传输光谱如图 2 所示。
进一步强调,与 MWIR 光谱波段相比,典型目标的平均光谱辐射在 LWIR 光谱波段要高得多。具体而言,对于典型实验室温度 20 C 20 C 20^(@)C20^{\circ} \mathrm{C} 的目标,这个比率约为 24 倍。这个比率清楚地表明,即使两个大气窗口都可用于热成像,但 MWIR 成像仪需要更高的灵敏度来补偿这个光谱波段中较弱的辐射。
此外,由于温度与辐射信号之间存在更高的非线性关系,MWIR 成像仪的电子设备必须设计为接受比 LWIR 成像仪更高动态范围的可变强度输入辐射信号。
最后,需要指出的是,由于波长较长,LWIR 光学系统的衍射模糊度约为 MWIR 光学系统衍射模糊度的 2.5 倍,假设光圈相同。
这意味着可以设计出比相同空间分辨率的 LWIR 成像仪更小的 MWIR 成像仪光学系统。
图 2. 在 100 米距离下大气的近似透过率和温度为 300 K 的典型目标的相对光谱。

4. 热成像仪的代际发展

理解当前和未来热成像技术并不需要详细了解其悠久的历史。
然而,热成像仪的代际划分需要在此讨论,因为这种历史划分有助于理解当今的技术。
从历史上看,热成像仪通常被划分为三代。
第一代是双向扫描成像仪。它们采用像素数量极低的图像传感器,因此需要进行双向扫描。
图像传感器可以呈现不同形式:分立检测器、简单的非复用光电导线性阵列(通常为 PbSe , InSb PbSe , InSb PbSe,InSb\mathrm{PbSe}, \mathrm{InSb} 或 HgCdTe),元件数量不超过约一百个,或 SPRITE 检测器。这些成像仪通常在 8 12 μ m 8 12 μ m 8-12 mum8-12 \mu \mathrm{~m} 光谱范围内工作,使用 F / 2 F / 4 F / 2 F / 4 F//2-F//4\mathrm{F} / 2-\mathrm{F} / 4 数量的光学系统,并以约 0.2 K 的温度分辨率 NETD 为特征。如今,第一代相机可以被视为已完全消失的热成像仪群组。
第二代热成像仪是单向扫描成像仪。它们采用线性图像传感器构建,该传感器的像素数量非常高,因此只需要单向扫描。详细来说,第二代。
扫描摄像机是使用元素数量高于约 100 但低于约 612 的线性阵列构建的。这些摄像机的温度分辨率 NETD 提高到约 0.1 K 的水平。
使用改进的多线性焦平面阵列(FPAs)构建的热像仪可被视为第二代成像仪的子类,并被称为第二代 plus(Gen 2+)成像仪。第二代 plus 的温度分辨率可提高到约 0.05 K 的水平。这些系统的典型例子是 Sofradir(现为 Lynred)制造的汞镉碲多线性 288 × 4 288 × 4 288 xx4288 \times 4 阵列,适用于 3 5 μ m 3 5 μ m 3-5mum3-5 \mu \mathrm{~m} 8 10.5 μ m 8 10.5 μ m 8-10.5 mum8-10.5 \mu \mathrm{~m} 波段,并在焦平面上进行信号处理/增强(包括光电流积分、扫描、分区、时间延迟积分功能、输出预放大等)。第二代 plus 成像仪的特点是重量和尺寸更小,可靠性更高。
全球使用的大部分军用热像仪是第二代/第二代 plus 热像仪,但其市场份额正在下降。
然而,第二代 plus 成像仪仍在生产,因为它们具有许多优点:冷却功耗低、单芯片与读出电路完全集成、体积小、扫描器可靠。
第三代成像仪是非扫描的热像仪,使用二维阵列探测器,像素数量足以消除对机械扫描的需求。这些定焦阵列通过与阵列集成的电路进行电子扫描。
这些读出集成电路(ROICs)包括像素反选、每个像素的防溢出、子帧成像、输出前置放大器等功能。光学系统的唯一任务是将红外图像聚焦到图像传感器上。
使用了不同技术的图像传感器:基于 InSb、HgCdTe、QWIP 技术的制冷型焦平面阵列,以及基于微测辐射计或铁电/压电技术的非制冷型焦平面阵列。第三代热像仪目前主导市场,而第二代及以上型号的市场份额相当微小。
令人惊讶的是,第三代定焦成像仪的块结构与人眼的块结构相似(图3)。红外目镜相当于眼球晶状体。
两者都能生成感兴趣场景的图像。FPA 控制器的电子系统相当于由神经和大脑构成的系统。两个模块都将光学图像转换为电信号,并进行一些图像处理。
这种比较可以帮助理解热像仪的工作概念。
图 3. 两个系统的框图:a) 人眼,b) 定置热像仪
总之,现代热像仪使用能够生成二维热图像且无需任何机械扫描的红外 FPA 图像传感器。由于不需要扫描系统,热像仪的设计比几十年前要简单得多。
目前,早先提出的热像仪三代分类已经几乎过时,因为市场上提供的绝大多数热像仪都是第三代定焦成像仪。
本书旨在成为当前和未来热成像技术的实用指南。因此,热像仪的早期几代(第一代和第二代)将不作分析。
红外焦平面阵列(IR FPA)传感器是第三代热像仪的主要组件。现在应该强调的是,红外焦平面阵列图像传感器也分为三代。
第一代 - 用于扫描式热像仪的线性阵列(在1990-2000年期间流行,但如今很少制造)。
第2代 - 定置热成像仪的典型二维阵列(截至2020年的制造技术被视为典型)
第三代 - 与典型的红外焦平面阵列相比,提供增强功能的红外焦平面阵列,如超高像素数量、超高速度、超低热分辨率、多色功能和/或其他片上信号处理功能。第三代。
3项规范尚未完全明确,且对此存在讨论。
应当指出,热像仪和红外焦平面阵列传感器的这些分类会产生令人困惑的结果,因为三代热像仪通常是使用二代红外焦平面阵列图像传感器构建的。

5. 热像仪的制造模式

简单来说,热像仪实际上可以看作是四个主要模块的集合(红外焦平面阵列(FPA)成像传感器(对于光子传感器,与冷却器集成),FPA 控制器、光学目镜、成像仪外壳、电源)以及几个可选模块(快门、显示屏、目镜),如图 4 所示。
因此,热像仪的制造方式可以根据生产这些模块的方法进行分类。
详细来说,制造热像仪可以类比于使用一系列可以从第三方购买(较简单的解决方案)或内部开发(较困难的解决方案)的模块来构建系统。
图4. 热像仪构建的图形概念
详细来说,热像仪还有第五个主要模块:电源。这是一个电气模块,为热像仪的其他模块提供电力:红外焦平面阵列(FPA)传感器、FPA 控制器和红外目镜。
然而,从设计角度来看,热像仪的电源与同等功率的通用电源之间没有差异。因此,在后续讨论中将省略这一模块。
红外焦平面阵列(FPA)图像传感器是热像仪中最重要且最难制造的模块。然而,热像仪制造商从第三方或大型企业内部的独立实体购买这些模块是很常见的情况。
因此可以认为,开发热成像仪所需的红外焦平面阵列传感器需要购买。对于可选模块也可以说是同样的情况。这些模块可以在市场上以相对较低的价格轻松获得。
第四个模块的情况则相反:成像仪外壳。这是一个广义的术语,描述了用于保持热成像仪所有电子设备和光学部件在正确位置的机械部件。
这个模块通常根据热成像仪制造商开发的机械文档进行制造。因此,这种获取该模块的方式可以被视为内部制造。
在这种情况下,可以根据获取两个关键模块的方法来定义不同的热成像仪制造方式:
  1.   焦平面阵列控制器,
  2.   红外目标镜头。
这些模块可以通过两种方式获得:从第三方购买 - 编码为 0,或内部制造 - 编码为 1。这为我们提供了四种热像仪制造模式(表 1)。
表 1. 热像仪制造模式(0-购买模块,1-内部制造)
  制造模型   红外焦平面阵列传感器   焦平面阵列控制器   光学物镜   热成像仪外壳   可选模块
  集成商 0 0 0 1 0
  混合1 0 1 0 1 0
  混合2 0 0 1 1 0
  内部制造 0 1 1 1 0
Model of manufacturing IR FPA sensor FPA controller Optical objective Imager housing Optional blocks Integrator 0 0 0 1 0 Mixed 1 0 1 0 1 0 Mixed 2 0 0 1 1 0 Internal manufacturing 0 1 1 1 0| Model of manufacturing | IR FPA sensor | FPA controller | Optical objective | Imager housing | Optional blocks | | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | | Integrator | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | | Mixed 1 | 0 | 1 | 0 | 1 | 0 | | Mixed 2 | 0 | 0 | 1 | 1 | 0 | | Internal manufacturing | 0 | 1 | 1 | 1 | 0 |
热像仪制造有两种限定模式:
  1. 集成商模式(代码00010),在这种模式下,两个主要模块都从第三方购买,
  2. 先进的制造模型(代码01110),两个主要部件均在内部制造。
    在第一种情况下,热成像仪采用六步算法进行构建:
  3. 购买热摄像机核心(红外焦平面阵列图像传感器集成焦平面阵列控制器)。对于制冷型红外焦平面阵列传感器,传感器与制冷器集成。
  4. 购买为待设计的热成像仪优化的红外目镜,
  5. 购买可选模块(快门、显示屏、目镜(如需要)),
  6. 开发一种机械外壳,能够组合将要设计的热像仪的所有模块。
  7. 将热像仪机身与相机核心、光学系统和可选模块进行机械/电子/软件集成。
  8. 按照相机核心制造商确定的范围对热像仪进行校准。
这种热像仪的制造方式看起来非常简单。
然而,尽管设计看似简单,但使用集成器模型制造热像仪的过程仍然相当困难和有风险,即便关键部件是从第三方购买的。
首先,购买热像仪所需模块存在商业和技术风险。主要挑战是红外焦平面阵列(IR FPA)传感器。红外焦平面阵列传感器的制造商数量非常有限,这些传感器被视为双重用途产品。
因此存在一些出口限制。此外,一些红外焦平面阵列制造商有规定,仅为其战略客户销售最佳图像传感器。因此,购买高品质红外焦平面阵列传感器通常是一项困难且有风险的任务。
其次,其他主要部件也存在类似的风险。基本上,需要具备业务经验、技术诀窍和测试所购买模块的能力,以确保获得制造高性能热成像仪所需的高质量部件。
第三,为了制造高性能热成像仪,必须充分理解与部件集成以及完整热成像仪的校准/噪声校正相关的诸多规则。
即使所有购买的部件都是完美的,仍有可能制造出性能较差的热成像仪。
在第二种情况下,热成像仪是使用八步算法构建的:
  1. 以原始红外焦平面阵列(FPA)传感器与读出电路(ROIC)集成的形式购买红外焦平面阵列(FPA)图像传感器。
  2. 开发焦平面阵列(FPA)控制器模块。
  3. 将红外焦平面阵列(FPA)传感器与 FPA 控制器模块集成,形成热像仪核心(热成像模块)。
  4. 开发专为热像仪设计的红外目标镜头。
  5. 可选模块(快门、显示屏、目镜)的购置,
  6. 开发一种能够组合所有热成像仪模块的成像仪外壳。
  7. 热成像仪外壳与相机核心、光学系统和可选模块的机械/电子/软件集成。
  8. 扩展成像仪校准(噪声校正、对比度/亮度设置、图像清晰度改进)。
    正如我们所看到的,与之前分析的集成商模型相比,存在两个主要差异:
  • FPA 控制器模块和红外目镜是内部开发的,
  • 热成像仪的校准得到扩展。
这种获取 FPA 控制器模块和红外目镜的新方式并不保证最终的热成像仪在技术上会更好,或在商业上比使用集成商模型制造的成像仪更有利可图。
然而,先进的制造模式为开发技术更先进且可以以更高价格销售的热像仪创造了潜力。
这种更高潜力的原因主要有两个。首先,对所制造的焦平面阵列控制器和红外目标有更深入的了解,使得这些模块能够得到更好的优化。
其次,通过质量控制和选择最佳单元用于内部使用,关键部件的质量得到提高。第三,相比集成商模式,这种模式对图像增强方法没有限制。
先进的制造模式创造了新的机遇,但与集成商模式相比,其难度也大得多。
因此,这种模式主要由大公司使用,这些公司能够同时掌握制造 FPA 控制器所需的先进电子技术、制造红外目镜所需的先进光学技术,以及开发提高输出图像效率的高级软件。
可以估计,只有大约 25 % 25 % 25%25 \% 的热成像仪市场使用先进的制造模式。集成商模式的份额可以估计约为 25 % 25 % 25%25 \% ,其余 50%为混合模式。
上述基于红外 FPA 图像传感器设计热成像仪的方法与基于硅图像传感器(主要是 CMOS 传感器)设计可见光近红外(VNIR)相机的方法相似。
然而,热成像仪的市场价格通常至少比具有相当输出图像分辨率的 VNIR 相机高 10 倍以上,这是由于商业和技术原因的综合作用:
  1. 红外焦平面阵列(IR FPA)传感器在热成像仪中使用的成本,比可见近红外(VNIR)相机中使用的 CMOS 传感器要高得多(非制冷红外 FPA 的价格约高 10 倍,制冷红外 FPA 的价格约高 50 倍)。
  2. 大多数 CMOS 传感器与先进的数字读出集成电路(ROIC)集成,可以在输出端生成标准数字视频图像。而红外 FPA 的 ROIC 则生成非标准视频图像。
  3. 热成像仪中使用的红外光学系统比 VNIR 光学系统更为昂贵。主要原因是中波红外(MWIR)/长波红外(LWIR)波段的光学材料成本高,而 VNIR 波段使用的玻璃成本较低。
  4. 红外光学系统必须校正 VNIR 波段中未遇到的效应:自身反射效应和高遮光晕。
  5. 红外光学(折射率)对环境温度更为敏感,这种依赖性必须通过适当的非热敏设计进行校正。
  6. 红外焦平面阵列(FPA)传感器的空间噪声比 CMOS 传感器的空间噪声高得多,因此需要特殊的图像处理/增强电子设备来减少这种噪声(如图 5)。
  7. 由于特殊的要求,热成像仪需要特殊的机械设计:机械快门、散热等。
  8. 可见近红外(VNIR)相机代表了完全成熟的大规模制造技术。热成像仍处于起步阶段的技术。
图 5. 来自两种图像传感器的示例原始图像:a)未冷却的 LWIR 焦平面阵列,b) VNIR 波段的 CMOS 传感器

6. 热像仪的组成模块

如前所述,热像仪通过购买和/或内部制造四个关键模块(红外焦平面阵列传感器、焦平面阵列控制器、红外目镜和相机机身)以及一些可选模块,然后将这些模块组合成热成像系统。
因此,为了基本了解热像仪的设计规则,接下来的章节将详细讨论这些模块。此外,热成像中至关重要的图像增强方法也将被讨论。
最后对比了设计挑战与可见光近红外(VNIR)相机的差异。

6.1 红外焦平面阵列(IR FPA)图像传感器

市场上提供的红外焦平面阵列图像传感器是通过将对热辐射敏感的光学探测器阵列(通常是 MWIR 或 LWIR 波段)与专门设计用于读取该探测器阵列电信号的集成电路相结合而制成的成像芯片。
探测器阵列和读出集成电路(ROIC)通常作为两个独立实体制造,并使用先进的互连方法(通常是铟凸点)进行混合集成。这一理念如图 6 所示。
检测器阵列(有时称为原始红外焦平面阵列)的任务是将传入到检测器的光学信号转换为电信号阵列。
ROIC 的主要功能是充当复用器,能够捕获电信号阵列并生成包含电信号阵列所有有用信息的串行视频信号。
ROIC 还可以可选地放大和数字化输入的电信号。
应该注意,ROIC 是为特定检测器阵列优化的电子电路。此外,ROIC 可能因所需的串行视频信号特征而有所不同。因此,市场上不同红外焦平面阵列传感器的制造所使用的 ROIC 差异很大。
最后,应强调的是,ROIC 仅应被视为构建能够以电子视频图像标准之一生成电子图像的热成像仪所需电子设备的第一阶段。
图 6. 探测器阵列与 ROIC 的混合集成概念
用于制造热成像仪的红外焦平面阵列传感器有很多。这些成像传感器可以根据六个主要标准进行分类:
  1. 传感器类型(工作概念)
  2.   传感器冷却
  3.   传感器光谱波段
  4. 传感器输出图像(分辨率/传感器尺寸)
  5. 输出图像的最大帧率
  6.   成像芯片类型。
红外焦平面阵列的这一分类将在后续章节中详细阐述。

6.1.1 红外焦平面阵列传感器类型

根据离散红外探测器的工作概念,红外焦平面阵列传感器可以分为两个主要类型,如图7所示:
  1. 光子(光电)焦平面阵列
  2.   热电焦平面阵列
光子焦平面阵列是使用能够吸收入射光并产生与入射光子数量成正比的输出电信号(电压、电流)的探测器制成的。
热电焦平面阵列是使用能够吸收入射光(主要在中红外和远红外光谱波段)并改变其温度的探测器制成的。温度变化会引起其他物理特性的变化,这些变化可以通过电学方式检测。
图 7. 两种红外焦平面阵列(FPA)传感器照片:a)来自 Lynred 公司的非制冷 PICO640GEN2™,b)来自 Lynred 公司的 SCORPIO IDCA 模块(与制冷器集成的中波红外传感器)
在过去的三十年里,科研中心已开发出大约十几种用于潜在光子焦平面阵列的光子探测器或光子离散探测器。
然而,到目前为止,只有三种类型已经在热成像仪制造中得到大规模应用,并可被视为完全成熟的技术:
  1.   汞镉碲(HgCdTe)焦平面阵列
  2.   InSb 焦平面阵列
  3.   QWIP 焦平面阵列。
详细来说,目前商用的光子焦平面阵列类型列表最近新增了所谓的"HOT"焦平面阵列。然而,这些图像传感器在市场上仍是新颖产品。使用这些新型图像传感器制造的热成像仪数量还很少。
因此,HOT 焦平面阵列传感器将在第 11.2 节(涉及热成像的未来)中详细讨论。
可以粗略估计,使用汞镉碲焦平面阵列(HgCdTe FPAs)制造的热成像仪占全球光子热成像仪总量的至少 80 % 80 % 80%80 \% 。使用锑化铟焦平面阵列(InSb FPAs)制造的热成像仪的百分比可估计在约 18 % 18 % 18%18 \% 的水平。最后,量子阱红外探测器焦平面阵列(QWIP FPAs)的市场份额可估计在约 2 % 2 % 2%2 \% 的水平。
汞镉碲焦平面阵列(HgCdTe FPAs)是使用由汞镉碲制成的半导体光电二极管阵列构建的成像传感器。
这是一种由碲化镉(CdTe)和碲化汞(HgTe)组成的化合物,能够实现可调节的带隙,覆盖 SWIR 范围、MWIR 范围和 LWIR 范围的较长部分。
因此,这些焦平面阵列可以优化以感知 MWIR 辐射或 LWIR 辐射。接近完美的探测率是这类红外焦平面阵列的最大优势。
然而,这些成像传感器容易出现图像均匀性差,以及以缓慢波动的空间噪声形式呈现的时间稳定性问题。
InSb 焦平面阵列是使用由锑化铟(InSb)制成的半导体光电二极管阵列构建的成像传感器。它是由铟(In)和锑(Sb)混合制成的晶体化合物。与 HgCdTe 相比,InSb 是一种无法调节的窄带隙半导体。
因此,砷化铟(InSb)焦平面阵列(FPA)只能用于
对中波红外光谱范围敏感的热像仪。这些焦平面阵列的性能与针对中波红外波段优化的汞镉镉(HgCdTe)焦平面阵列相似,但砷化铟焦平面阵列的探测率通常略低。
量子阱光电探测器阵列(QWIP FPAs)是基于量子阱原理构建的光学光电导器阵列成像传感器。详细来说,这些是一种特殊的光学探测器,其中窄带隙半导体层位于两层宽带隙半导体层之间。
入射光子被量子阱层吸收,产生电流。QWIP 探测器通常使用砷化镓制造。QWIP 焦平面阵列的光谱波段通常优化为覆盖长波红外波段的短波部分(从约 7.5 μ m 7.5 μ m 7.5 mum7.5 \mu \mathrm{~m} 到约 9.5 μ m 9.5 μ m 9.5 mum9.5 \mu \mathrm{~m} )。QWIP 焦平面阵列以近乎完美的图像均匀性、稳定性和像素可操作性为特征,但传感器探测率处于中等水平。
正如之前所述,热成像焦平面阵列(Thermal FPAs)使用基于入射辐射导致温度变化概念的热探测器。
热探测器主要有四种类型:
  1. 利用热电效应的热电偶和热电堆,
  2. 受到辐射时产生热电压的热电探测器,
  3. 利用热膨胀的戈莱电池,
  4. 以温度相关电阻为特殊材料的测温电阻器。
然而,事实上几乎所有热焦平面阵列都是基于微测温电阻器阵列构建的,后者可以被视为测温电阻器检测器的特殊微型化、超小型版本。
微测温电阻器的设计基于一个简单的概念:热隔离的吸收体在受到辐射时会改变其电阻。热焦平面阵列通过在真空下封装微测温电阻器并配备只读集成电路(ROIC)电子元件而构建。
热红外焦平面阵列(FPA)图像传感器的市场情况与之前描述的光子红外焦平面阵列图像传感器市场情况相似。已有报告提到了一些可能用于制造热 FPA 的技术和材料。
然而,实际上市场主要由两种类型的热 FPA 主导
  1. 使用钒氧化物(VOx)制造的传感器
  2. 使用非晶硅(a-Si)制造的传感器。
文献中存在相互矛盾的说法,但基本上 VO x VO x VO_(x)\mathrm{VO}_{\mathrm{x}} 和非晶硅技术提供类似的性能。其他硅衍生物,如硅-锗(非晶硅锗、多晶硅锗和非晶 Ge x Si 1 x O y Ge x Si 1 x O y Ge_(x)Si_(1-x)O_(y)\mathrm{Ge}_{x} \mathrm{Si}_{1-x} \mathrm{O}_{y} )近年来显示出希望,但市场情况尚未改变。

  6.1.2 传感器冷却

前面章节讨论的三种成熟的光子红外焦平面阵列都需要低温冷却(温度低于约 80 K)以实现热成像仪所需的适当性能。这三种成熟的光子焦平面阵列( HgCdTe , InSb , QWIP HgCdTe , InSb , QWIP HgCdTe,InSb,QWIP\mathrm{HgCdTe}, \mathrm{InSb}, \mathrm{QWIP} )在焦平面阵列传感器处于典型实验室温度时,其可探测性非常差(尤其是在长波红外波段)。更重要的是,当温度高于之前提到的低温极限时,可探测性仍处于适度水平。
详细来说,当探测器从环境温度冷却到低于约 80 K 的温度时,可探测性提高了几个数量级。因此,为了实现高可探测性( 10 11 cm Hz 0.5 W 1 10 11 cm Hz 0.5 W 1 10^(11)cmHz^(0.5)W^(-1)10^{11} \mathrm{~cm} \mathrm{~Hz}^{0.5} \mathrm{~W}^{-1} 对于中波红外探测器或约 2 × 10 10 cm 2 × 10 10 cm 2xx10^(10)cm2 \times 10^{10} \mathrm{~cm} Hz 0.5 W 1 Hz 0.5 W 1 Hz^(0.5)W^(-1)\mathrm{Hz}^{0.5} \mathrm{~W}^{-1} 对于长波红外探测器),这些光子焦平面阵列必须在低温下工作。因此,前面章节讨论的所有成熟光子焦平面阵列都与斯特林制冷器集成在一起(见图 7b),或很少与液氮杜瓦罐集成(用于科学研究)。
因此,光子型平面探测器阵列(FPA)通常被称为制冷型 FPA。
然而,应当注意的是,在之前章节中提到的作为市场新颖产品的所谓的高温 FPA 可以在约 150 K 的较高工作温度下工作,并且需要使用更小、低功耗的斯特林制冷机。
对微测辐射热成像平面探测器阵列进行一定程度的制冷或至少进行温度稳定,可以提高这些图像传感器的性能(空间噪声的时间漂移大幅降低)。
因此,大部分早期的微测辐射热成像平面探测器阵列都配备了微型帕尔帖制冷器。然而,这种解决方案使传感器变得笨重并增加了功耗。
很快发现,可以使用 FPA 控制器软件运行的图像增强方法来补偿空间噪声的时间漂移。因此,实际上所有现代微测辐射阵列(FPA)都不使用任何冷却
或稳定其温度的机制,并且通常在接近环境温度的条件下运行。在这种情况下,热测辐射阵列通常被称为非制冷红外 FPA。

6.1.3 传感器光谱波段

如第 3 节所示,热成像光谱波段中存在两个大气窗口:MWIR 波段和 LWIR 波段。因此,全球几乎所有的热成像仪都工作在这些光谱波段之一,这是很自然的。
但是,对于所有红外焦平面阵列(FPA)传感器来说,选择光谱波段并非总是相同的。
汞镉碲(HgCdTe)焦平面阵列可以针对中波红外(MWIR)波段(或子波段)或长波红外(LWIR)波段进行优化。具体而言,这类焦平面阵列可以优化为对这两个光谱波段都敏感。
锑化铟(InSb)焦平面阵列无法在长波红外波段工作。这种材料仅能制造出对中波红外波段敏感的红外焦平面阵列传感器。
量子阱红外光电(QWIP)焦平面阵列理论上可以针对从 3 μ m 3 μ m 3mum3 \mu \mathrm{~m} 20 μ m 20 μ m 20 mum20 \mu \mathrm{~m} 的任何光谱范围进行优化。然而,实际上,QWIP 焦平面阵列通常对长波红外波段的较短部分敏感:从约 7.5 μ m 7.5 μ m 7.5 mum7.5 \mu \mathrm{~m} 到约 9.5 μ m 9.5 μ m 9.5 mum9.5 \mu \mathrm{~m}
对于非制冷焦平面阵列的情况则不同。这里存在物理学更有利于 LWIR 波段的情况:典型地球温度目标主要在 LWIR 光谱波段发射辐射。
因此,典型的非制冷焦平面阵列在光谱上是优化的(吸收光谱曲线、窗口透射率)以适应 LWIR 范围。
从技术上讲,制造 MWIR 焦平面阵列(吸收光谱曲线和窗口透射率针对 MWIR 波段优化)并不困难,但这类焦平面阵列的温度分辨率 NETD 特征较差(性能至少比非制冷 LWIR 焦平面阵列差二十倍)。
因此,规律是几乎所有非制冷焦平面阵列都是 LWIR 焦平面阵列,所有非制冷热成像仪都是 LWIR 热成像仪。

6.1.4 红外焦平面阵列图像传感器的分辨率/像素尺寸

红外焦平面阵列图像传感器通过行数 x x xx 列数的表格形式和单个像素的尺寸,生成具有特定分辨率的空间数字图像。这一规则适用于任何类型的红外焦平面阵列(即使是模拟输出的焦平面阵列)。
定焦热像仪(第三代成像仪)的历史基本上就是改进红外焦平面阵列生成的空间离散图像的历史:更多的像素和更小的像素。
自1980年代末第一个定焦红外焦平面阵列传感器出现以来,提高图像分辨率和减小像素尺寸一直是研发团队的主要目标。
从表 2 中可以看出,在过去 30 年里红外焦平面阵列(IR FPA)技术取得了巨大进步。这种传感器的变革使得热成像仪的设计从非常低分辨率( 160 × 120 160 × 120 160 xx120160 \times 120 )影像仪发展到高分辨率(至少 1024 × 768 1024 × 768 1024 xx7681024 \times 768 )影像仪。在非制冷热成像仪中这种变化更为显著。此外,还应注意的是,在过去三十年间,像素尺寸已经从约 45 μ m 45 μ m 45 mum45 \mu \mathrm{~m} 缩小到 12 μ m / 10 μ m 12 μ m / 10 μ m 12 mum//10 mum12 \mu \mathrm{~m} / 10 \mu \mathrm{~m} 水平。
其后果是巨大的。具有更多像素的传感器使得能够减少/消除空间采样效应(人眼将图像视为离散部分的阵列)。
像素更小的传感器使得设计出具有更高奈奎斯特频率的热成像仪(增加了对目标有效监视的 DRI 范围),或在使用更小的短焦距光学系统时保持相同频率。
表2:不同图像分辨率/像素尺寸的焦平面阵列批量生产的大致就绪日期
  日期/焦平面阵列类型 1990 2000 2010 2015 2020   研发水平
  制冷型 320 × 240 320 × 240 320 xx240320 \times 240 30 μ m 30 μ m 30 mum30 \mu \mathrm{~m} 320 × 240 320 × 240 320 xx240320 \times 240 25 μ m 25 μ m 25 mum25 \mu \mathrm{~m} 640 × 480 640 × 480 640 xx480640 \times 480 20 μ m 20 μ m 20 mum20 \mu \mathrm{~m} 640 × 480 640 × 480 640 xx480640 \times 480 15 μ m 15 μ m 15 mum15 \mu \mathrm{~m} 1024 × 768 1024 × 768 1024 xx7681024 \times 768 10 μ m 10 μ m 10 mum10 \mu \mathrm{~m}    1280 × 1024 1280 × 1024 1280 xx10241280 \times 1024 5 微米
  非制冷   研发项目 320 × 240 320 × 240 320 xx240320 \times 240 35 μ m 35 μ m 35 mum35 \mu \mathrm{~m} 320 × 288 320 × 288 320 xx288320 \times 288 25 μ m 25 μ m 25 mum25 \mu \mathrm{~m} 640 × 512 640 × 512 640 xx512640 \times 512 17 μ m 17 μ m 17 mum17 \mu \mathrm{~m}    1024 × 768 1024 × 768 1024 xx7681024 \times 768 12 微米
Date/ FPA type 1990 2000 2010 2015 2020 R/D level Cooled 320 xx240 30 mum 320 xx240 25 mum 640 xx480 20 mum 640 xx480 15 mum 1024 xx768 10 mum 1280 xx1024 5 um Uncooled RD projects 320 xx240 35 mum 320 xx288 25 mum 640 xx512 17 mum 1024 xx768 12 um | Date/ FPA type | 1990 | 2000 | 2010 | 2015 | 2020 | R/D level | | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | | Cooled | $320 \times 240$ $30 \mu \mathrm{~m}$ | $320 \times 240$ $25 \mu \mathrm{~m}$ | $640 \times 480$ $20 \mu \mathrm{~m}$ | $640 \times 480$ $15 \mu \mathrm{~m}$ | $1024 \times 768$ $10 \mu \mathrm{~m}$ | $1280 \times 1024$ 5 um | | Uncooled | RD projects | $320 \times 240$ $35 \mu \mathrm{~m}$ | $320 \times 288$ $25 \mu \mathrm{~m}$ | $640 \times 512$ $17 \mu \mathrm{~m}$ | $1024 \times 768$ 12 um | |
这项增加图像分辨率并减小像素尺寸的技术竞赛将在近期继续进行。然而,应该强调的是,现代非制冷焦平面阵列( 12 μ m 12 μ m 12 mum12 \mu \mathrm{~m} )的像素尺寸现在与 LWIR 成像仪的平均波长相当。在制冷 MWIR 成像仪的情况下差异仍然更大(像素尺寸为 10 微米,平均波长为 4 μ m 4 μ m 4mum4 \mu \mathrm{~m} ),但像素尺寸与 MWIR 成像仪的平均波长的比率仅小 2.5 倍。这意味着成像仪光学系统的衍射效应很快将成为这场竞赛的限制因素。

6.1.5 输出图像的最大帧率

由红外焦平面阵列传感器生成的输出图像的最大帧率是一个重要参数,它决定了这些视频图像是否以足够的速度呈现:对于人类观察者或图像分析软件而言几乎没有时间延迟。
过去普遍认为25-30帧/秒的帧率足以生成可接受速度的视频图像。如今,帧率为50-60帧/秒的热成像仪更受青睐。
在某些研究与开发应用中,当需要通过软件记录或分析动态现象时,帧率要求可能高达每秒数百帧。
另一方面,还有一些热成像仪用于非接触温度测量,生成近乎静态的图像(帧率低于每秒2帧)。
红外焦平面阵列(IR FPA)传感器生成图像的最大帧率受到两种现象的限制:
  1. 传感器像素的时间惯性,
  2. 受限的 ROIC 电子系统频带宽度。
传感器像素时间迟滞的原因取决于红外焦平面阵列传感器的类型。
对于非制冷微热电堆红外焦平面阵列传感器,时间迟滞是由于微热电堆像素的热惯性造成的。
详细来说,微热电堆红外焦平面阵列的热时间常数由像素与其环境之间的热容量 C 和热导率 G 的比率决定。表 3 中列出的当今微热电堆红外焦平面阵列的时间惯性参数(时间常数和最大信号时的响应时间)表明,这些传感器可以在钒氧化物(VOx)传感器帧率高达 50/60 帧/秒,或非晶硅(a:Si)传感器帧率高达 100 帧/秒的情况下生成几乎没有延迟的图像。
表 3. 两种当前主要微测辐射热红外焦平面阵列的时间惯性参数(时间常数和在 95 % max 95 % max 95%max95 \% \max 信号下的响应时间)[61]
  材料
时间常数 [ ms ] [ ms ] [ms][\mathrm{ms}]
Time constant [ms]| Time constant | | :---: | | $[\mathrm{ms}]$ |
95%最大信号下的响应时间 [ ms ] [ ms ] [ms][\mathrm{ms}]
Response time at 95% of max signal [ms]| Response time at 95% of max signal | | :---: | | $[\mathrm{ms}]$ |
氧化钒 VO x VO x VO_(x)\mathrm{VO}_{\mathrm{x}} 15 45
  非晶硅 a:Si 7 21
Material "Time constant [ms]" "Response time at 95% of max signal [ms]" Vanadium oxide VO_(x) 15 45 Amorphous silicon a:Si 7 21| Material | Time constant <br> $[\mathrm{ms}]$ | Response time at 95% of max signal <br> $[\mathrm{ms}]$ | | :---: | :---: | :---: | | Vanadium oxide $\mathrm{VO}_{\mathrm{x}}$ | 15 | 45 | | Amorphous silicon a:Si | 7 | 21 |
对于冷却光子红外焦平面阵列传感器,时间惯性是由于像素材料的电容。
然而,由于这种效应导致的光子探测器时间常数非常短(几纳秒),相比微测辐射器焦平面阵列,因此可以将光子红外焦平面阵列的传感器时间惰性视为可忽略的因素。
第二个限制因素 - 读出集成电路(ROIC)模拟电子元件的频率带宽 - 决定了 ROIC 读取红外焦平面阵列(IR FPA)传感器所有像素信号所需的最小时间(帧率的倒数)。
因此,对于指定的 ROIC 电子元件,可以使用以下公式(1)近似计算最大帧率
F R = k Δ f N F P A , F R = k Δ f N F P A , FR=(k*Delta f)/(N_(FPA)),F R=\frac{k \cdot \Delta f}{N_{F P A}},
其中 FR 是理论最大帧率,k 是红外焦平面阵列传感器的模拟输出数量, Δ f Δ f Deltaf\Delta \mathrm{f} 是 ROIC 模拟电子元件的频率带宽,NFPA 是红外焦平面阵列传感器的像素数量。
公式(1)展示了提高帧率的三种方法
  1. 提高频带宽度,
  2. 增加输出通道数量),
  3. 降低红外焦平面阵列传感器的图像分辨率。
当前技术对于读出集成电路(ROIC)频带宽度的限制约在 10 MHz 水平。正如我们在表 4 中所见,仅具有单一输出的简单读出集成电路即使对于中等高清分辨率的红外焦平面阵列传感器,也无法提供适当的帧速率(至少超过 25 / 30 25 / 30 25//3025 / 30 帧每秒)。因此,对于高清分辨率的红外焦平面阵列传感器,有必要使用具有增加通道数量的读出集成电路(对于特殊的红外焦平面阵列传感器,通道数可达 8 个或更多)。另一种解决方案是设计带宽更高的模拟电子学(可达 40 MHz 或更高)。
然而,还应该记住,更高的频率带宽/输出通道数会增加红外焦平面阵列传感器控制器模块的设计难度,该模块需要与红外焦平面阵列传感器协同工作。
表 4. 在 10 MHz 级别的频率带宽有限的电子设备下,根据传感器像素数和传感器输出通道数确定的红外焦平面阵列最大帧率
最大帧率 FR
  列数   行数   像素数 通道号 = 1 通道号 = 2 通道号 = 4 = 4 =4=4
320 240 76800 130.2 260.4 520.8
384 288 97920 90.4 180.8 361.7
640 480 307200 32.6 65.1 130.2
640 512 327680 30.5 61.0 122.1
1024 768 786432 12.7 25.4 50.9
1280 960 1228800 8.1 16.3 32.6
2560 1920 4915200 2.0 4.1 8.1
Maximal frame rate FR No of column No of rows No of pixels Channel No = 1 Channel No = 2 Channel No =4 320 240 76800 130.2 260.4 520.8 384 288 97920 90.4 180.8 361.7 640 480 307200 32.6 65.1 130.2 640 512 327680 30.5 61.0 122.1 1024 768 786432 12.7 25.4 50.9 1280 960 1228800 8.1 16.3 32.6 2560 1920 4915200 2.0 4.1 8.1| | | | Maximal frame rate FR | | | | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | | No of column | No of rows | No of pixels | Channel No = 1 | Channel No = 2 | Channel No $=4$ | | 320 | 240 | 76800 | 130.2 | 260.4 | 520.8 | | 384 | 288 | 97920 | 90.4 | 180.8 | 361.7 | | 640 | 480 | 307200 | 32.6 | 65.1 | 130.2 | | 640 | 512 | 327680 | 30.5 | 61.0 | 122.1 | | 1024 | 768 | 786432 | 12.7 | 25.4 | 50.9 | | 1280 | 960 | 1228800 | 8.1 | 16.3 | 32.6 | | 2560 | 1920 | 4915200 | 2.0 | 4.1 | 8.1 |

  6.1.6 ROIC 类型

ROIC 是一个专门设计用于读取原始红外焦平面阵列(FPAs)像素信号的集成电子电路。因此,逻辑上可以根据其预期配合的原始红外焦平面阵列的参数对 ROIC 进行分类:
  1. 图像分辨率 ( 160 × 120 , 320 × 240 , 640 × 480 , 640 × 512 , 1024 × 768 , 1280 × 1024 ( 160 × 120 , 320 × 240 , 640 × 480 , 640 × 512 , 1024 × 768 , 1280 × 1024 (160 xx120,320 xx240,640 xx480,640 xx512,1024 xx768,1280 xx1024(160 \times 120,320 \times 240,640 \times 480,640 \times 512,1024 \times 768,1280 \times 1024
  2. 像素尺寸: 45 μ m , 35 μ m , 25 μ m , 17 μ m , 15 μ m , 12 μ m , 10 μ m 45 μ m , 35 μ m , 25 μ m , 17 μ m , 15 μ m , 12 μ m , 10 μ m 45 mum,35 mum,25 mum,17 mum,15 mum,12 mum,10 mum45 \mu \mathrm{~m}, 35 \mu \mathrm{~m}, 25 \mu \mathrm{~m}, 17 \mu \mathrm{~m}, 15 \mu \mathrm{~m}, 12 \mu \mathrm{~m}, 10 \mu \mathrm{~m}
  3. 红外平面阵列的物理原理合作:1)光子(光电阵列)探测器,2)热探测器(微测辐射阵列)。
    前两个标准的解释很容易且无需进一步说明。然而,在第三个标准的情况下,情况不同:红外平面阵列传感器的物理原理。
    物理原理的变化(光子(光电阵列)探测器或热探测器(微测辐射阵列)会引起读出集成电路(ROIC)任务的变化和读出集成电路电子系统的变化。
光子焦平面阵列(FPA)的读出集成电路(ROIC)的任务是积累来自每个像素的光电流。光子探测器读出电路的主要元件是电荷放大器(图 8a)。
光子探测器读出电路对探测器上产生的电流进行积分,并将该值表示为电压。
为了使积分探测器矩阵读出电路能够正常运行,还需要一些额外的元件,如复位开关、锁存器(采样/保持)和用于读取单个像素的切换系统。
微测辐射计红外焦平面阵列(FPA)的读出集成电路(ROIC)的任务是测量单个元件(像素)的电阻,该电阻随入射辐射而变化。电阻测量基于所谓的盲目测辐射计概念(图 8b)。
通过盲元探测器的电流被积分并呈现为电压值。应当注意,这个电流还取决于偏置电压和盲元探测器的电阻,以补偿环境温度的变化。
图 8. ROIC 的输入模块:a) 光子红外焦平面阵列的 ROIC,b) 微辐射热探测器红外焦平面阵列的 ROIC
实际上,这两种类型焦平面阵列的 ROIC 之间的差异仅限于图 8 中所示的输入模块。来自同一制造商的两种类型 ROIC 的其他模块可能相当相似。然而,还有其他标准会导致更大的设计变化。
ROIC 的主要分类是根据 ROIC 使能的从原始焦平面阵列读取信号的方法:
  1. 模拟区域读出集成电路(ROICs) - 从像素生成模拟输出信号
  2. 数字(DROIC) - 生成数字输出信号(在典型模拟区域读出集成电路输出端添加模数转换器)
  3. 数字像素(DPROIC)区域读出集成电路 - 一种先进方法,可实现每个像素的同步模数转换。可以单独或从像素组测量信号,以增加图像传感器的读取速度。
    将原始红外焦平面阵列与数字 DROIC,甚至更高级的数字像素 DPROIC 集成,可降低对焦平面阵列控制器的要求,实现超微型化、低功耗且 potentially 可变速度的热像仪核心。
    然而,数字/数字像素读出集成电路的开发极其困难且成本高昂(尤其是对于高分辨率焦平面阵列)。因此,市场上提供的绝大多数热成像仪都是使用采用模拟读出集成电路的红外焦平面阵列制造的。
    这一规则对于研发项目中使用的读出集成电路尤其适用。

6.1.7 红外焦平面阵列传感器测试

红外焦平面阵列传感器的制造技术非常困难,无法完全控制影响这些传感器质量的所有因素。因此,制造出的传感器之间存在一些质量差异是典型的。
大多数制造商根据性能参数将红外焦平面阵列(FPA)传感器划分为 A、B、C、D 等几个等级,这些参数包括探测能力、NETD(噪声等效温差)、增益/偏移、1/f 噪声、动态范围、死点数量和位置、MTF(调制传递函数)、串扰以及相对光谱灵敏度。
A 级和 D 级传感器之间存在巨大的性能差异。在这种情况下,获取属于最高等级的传感器是非常理想的。
对购买的红外焦平面阵列传感器进行测试的能力,可以提高买家的议价地位,并增加获得更好红外焦平面阵列传感器的机会。
热成像仪制造商对红外焦平面阵列传感器的测试通常仅限于噪声/响应性参数。这些测试使用均匀辐射测试传感器的测试系统进行,并分析被测红外焦平面阵列传感器输出端的信号。
这种测试概念意味着需要近乎完美的焦平面阵列(FPA)控制器,以将原始红外焦平面阵列输出信号转换为视频信号的标准之一。FPA 控制器的性能是常见争议的主题,因为其性能不佳可能会 deteriorate 测试结果。
由于测试设备的高成本,包括 MTF 测量、串扰、光谱函数在内的更全面的测试很少进行。
关于红外焦平面阵列传感器测试的更多细节,可以在专业文献[62-65]中找到。

  6.2 焦平面阵列控制器

6.2.1 FPA 控制器的目的

红外焦平面阵列(IR FPA)图像传感器本身实际上是无用的光电芯片,原因有很多:
  1. 典型的红外焦平面阵列图像传感器如果没有连接精密偏置电压和时钟发生器,根本无法工作,
  2. 红外焦平面阵列传感器生成的原始电子图像通常噪声很大,存在死点,有时还会模糊不清。
  3. 红外焦平面阵列(IR FPA)传感器无法生成符合电子视频图像标准的输出电子视频图像。
    由于这些原因,红外焦平面阵列传感器总是与焦平面阵列控制器模块相结合。这两个模块组合在一起,形成所谓的热像仪核心,并能够生成符合标准视频格式的低噪声输出图像(图9)。
图 9. 两种热像仪核心/模块的照片:a)Photonis 公司的非制冷型 XTM+摄像机核心,b)Lynred 公司的 SCORPIO 中波红外摄像机核心/模块
目前存在数百种不同类型的红外焦平面阵列传感器,用于构建热像仪。
因此,任何焦平面阵列(FPA)控制器最重要的标准,不出所料,就是能够控制的红外焦平面阵列传感器类型数量,以生成高质量的输出图像。根据这一标准,FPA 控制器可分为两个主要不同的组:
  1. 准通用型 FPA 控制器,
  2. 专用型 FPA 控制器。

6.2.2 专用型 FPA 控制器与通用型 FPA 控制器

第一组的 FPA 控制器是多板、可重编程、体积庞大的实验室电子系统(图 10)。
详细来说,它们是商业可用的系统,能够控制、成像处理和增强市场上大多数红外 FPA 图像传感器[66-68]。
这种通用控制器可以成为研发项目中验证不同类型红外 FPA(或 ROICs)性能的优秀工具,但由于其尺寸、重量和成本过大,无法用于构建真正的热像仪。同时,还存在一些在科学项目(主要是天文项目)中开发的非商业 FPA 控制器[69-71]。
图 10. 三种商业可用的准通用 FPA 控制器照片:a) CONIR 控制器[66],b) Gen IV ARC 控制器[67],c) PI-3105 多通道数据采集系统[68]
几乎所有用于设计和制造热像仪的焦平面阵列(FPA)控制器都是为控制一种特定类型的红外焦平面阵列传感器(有时是几种相似的传感器)而优化的专用控制器。
实际上这意味着设计团队精确地知道红外焦平面阵列传感器的规格:偏置电压、时钟、放大、输出电子格式等。限制可控制的传感器群组使得设计得以简化,并实现微型化和成本降低。
因此,商业可用的相机核心实际上是红外焦平面阵列传感器与这种微型化的专用 FPA 控制器的组合(图 9)。
在最先进的形式中,它们被构建为专用集成电路(ASIC),旨在执行读出集成电路(ROIC)的驱动、放大和数字化功能。
专用的焦平面阵列控制器的一个重大缺点是缺乏灵活性。
这种局限性,再加上开发焦平面阵列控制器所需的长时间,解释了为什么热像仪制造商很难更换红外焦平面阵列传感器的供应商,甚至难以更换同一焦平面阵列制造商的图像传感器类型。
有时,即使是同一类型焦平面阵列传感器的制造工艺发生细微变化(制造商即便在继续生产同一类型的红外焦平面阵列时,也常常改变偏置电压),也会导致需要对专用红外焦平面阵列控制器的电子系统进行重大更改。
最后需要指出的是,一些制造商提供所谓的"邻近电路板"(参见第6.2.10节),以帮助其红外焦平面阵列传感器的购买者开发焦平面阵列控制器。

6.2.3 FPA 控制器的设计图

用于热像仪制造的红外 FPA 传感器有数百种类型。同一种红外 FPA 传感器可以通过一系列不同电子设计的专用控制器成功控制。
在这种情况下,可以预期全球使用了数千种专用 FPA 控制器。同时,通用型或半通用型 FPA 控制器的数量则要少得多。
正如之前章节所示,专用控制器和通用控制器之间存在显著差异。然而,尽管存在这些明显的视觉差异,可以说所有 FPA 控制器都遵循相同的任务和设计规则。
热像仪图像传感器控制器(FPA 控制器)的四个主要任务是:
  1. 控制红外焦平面阵列(IR FPA)图像传感器(向读出集成电路(ROIC)提供适当的偏置电压和时钟信号,使其工作并生成输出信号),
  2. 红外焦平面阵列传感器信号的模拟放大和数字捕获,
  3. 由红外焦平面阵列传感器生成的电子图像的图像增强(空间噪声校正、对比度/亮度调节、图像分辨率提升、图像锐化等)。
  4. 电子视频图像标准中的输出图像生成。
能够完成这些任务的焦平面阵列(FPA)控制器可以通过多种方式构建,但基本上总是使用六个主要模块构建的电子系统(图 11):
  1.   偏置发生器
  2.   图案/时钟发生器
  3. 模拟放大器/数字转换器
  4.   片上系统
  5. 视频接口/发射器
  6.   近端电路板
图 11 所示的框图通常适用于几乎任何焦平面阵列(FPA)控制器。
图 11. 典型 FPA 控制器的框图

  6.2.4 偏置发生器

偏置发生器是一个能够向红外焦平面阵列(IR FPA)传感器输入端提供一组超精确调节的电压信号的模块。提供这些模拟电压是使红外焦平面阵列传感器正常工作的基本条件之一。
红外焦平面阵列(IR FPA)传感器所需的偏置电压数量,从简单的低分辨率传感器的 1-2 个电压,到用于航天应用的复杂高分辨率图像传感器的 32 个不等。
大多数红外焦平面阵列传感器需要 0V 至 5V 范围内的正极化偏置电压,但有些传感器需要 0V 至 15V 范围内的正负极化电压。
商用电子偏置卡可作为偏置发生器,能够生成多达四个正极性电压 0 5 V 0 5 V 0-5V0-5 \mathrm{~V} (表 5)。通过组合多张卡片,可以增加偏置电压的数量。因此,大部分焦平面阵列控制器都是使用这类商用偏置卡构建的。另一类是定制的偏置发生器,这些发生器是专门开发的
旨在克服商业偏置卡的局限性:更宽的电压调节范围、正负极性、更低的噪声谱密度以及更好的微型化。
表 5. 红外焦平面阵列传感器常用偏置卡 TIDA-01583 的技术规格 [72]
  序号   参数名称   参数值
1 输出通道数量 4
2   电压范围 0 V 至 5 V
3   极性   正极性
4 0.1 Hz 1 MHz 0.1 Hz 1 MHz 0.1Hz-1MHz0.1 \mathrm{~Hz}-1 \mathrm{MHz} 波段的总噪声 < 4 μ V RMS < 4 μ V RMS  < 4muV_("RMS ")<4 \mu \mathrm{~V}_{\text {RMS }}
5   电压精度 < ± 10 mV < ± 10 mV < +-10mV< \pm 10 \mathrm{mV}
6 数模转换器的数字化分辨率   16位
7   输出电流 从 10 mA - 两个通道到 75 mA - 两个通道
No Parameter name Parameter value 1 Number of output channels 4 2 Voltage range 0 V to 5 V 3 Polarity Positive 4 Total noise at 0.1Hz-1MHz band < 4muV_("RMS ") 5 Voltage accuracy < +-10mV 6 Digitization resolution of DAC 16 bit 7 Output current from 10 mA - two channels up to 75 mA - two channels| No | Parameter name | Parameter value | | :--- | :--- | :--- | | 1 | Number of output channels | 4 | | 2 | Voltage range | 0 V to 5 V | | 3 | Polarity | Positive | | 4 | Total noise at $0.1 \mathrm{~Hz}-1 \mathrm{MHz}$ band | $<4 \mu \mathrm{~V}_{\text {RMS }}$ | | 5 | Voltage accuracy | $< \pm 10 \mathrm{mV}$ | | 6 | Digitization resolution of DAC | 16 bit | | 7 | Output current | from 10 mA - two channels up to 75 mA - two channels |

6.2.5 模式/时钟生成器

模式/时钟生成器是一个向红外焦平面阵列(FPA)传感器的数字输入端提供同步模式(主时钟、视频同步信号)的模块(如图 12 所示)。
提供这种多通道同步数字信号是使红外焦平面阵列传感器能够正常工作的第二个基本条件。具体来说,这个模块需要能够生成由红外焦平面阵列传感器像素产生的有序读出(采样)信号。
如果这个模块要成为一个准通用的模块,并且服务于一组传感器(高通道数、不同电压集、每个通道高内存、内部和外部时钟、内部和外部触发),那么它就是焦平面阵列控制器的一个独立模块。
表 6 显示了这个模块的规格。但是,如果控制任务仅限于单个特定的红外焦平面阵列(IR FPA)传感器,则由片上系统(SoC)模块执行时钟任务,直接提供基本同步时钟信号。
图12. 模式/时钟生成器生成的示例时钟信号
表 6. 准通用 FPA 控制器的模式/时钟生成器规格
  序号   参数名称   参数值
1   通道数量 8(两张4通道的卡)
2   每个通道内存   16 兆比特
3   时钟频率 高达 250 兆赫兹
4   时钟 内部和外部
5   触发器 内部和外部
6   电压 1.8 V , 2.5 V , 3.3 V , 5.5 V 1.8 V , 2.5 V , 3.3 V , 5.5 V 1.8V,2.5V,3.3V,5.5V1.8 \mathrm{~V}, 2.5 \mathrm{~V}, 3.3 \mathrm{~V}, 5.5 \mathrm{~V} (选项 6 V)
7   输出阻抗 50 Ω 50 Ω 50 Omega50 \Omega,
No Parameter name Parameter value 1 Number of channels 8 (two cards of 4 channels) 2 Memory per channel 16 Mbit 3 Clock rate up to 250 MHz 4 Clock both internal and external 5 Trigger both internal and external 6 Voltages 1.8V,2.5V,3.3V,5.5V (option 6 V ) 7 Output impedance 50 Omega,| No | Parameter name | Parameter value | | :--- | :--- | :--- | | 1 | Number of channels | 8 (two cards of 4 channels) | | 2 | Memory per channel | 16 Mbit | | 3 | Clock rate | up to 250 MHz | | 4 | Clock | both internal and external | | 5 | Trigger | both internal and external | | 6 | Voltages | $1.8 \mathrm{~V}, 2.5 \mathrm{~V}, 3.3 \mathrm{~V}, 5.5 \mathrm{~V}$ (option 6 V ) | | 7 | Output impedance | $50 \Omega$, |

6.2.6 模拟放大器/数字转换器

红外焦平面阵列(IR FPA)传感器输出端生成的原始模拟信号较弱,需要放大。通常还需要调节这些模拟信号的直流分量,以实现进一步数字化的最佳输出模拟信号范围。
此外,这些输出模拟信号传输的电子图像存在噪声、死点,有时还会模糊不清。因此,需要对红外焦平面阵列生成的模拟电子视频图像进行广泛的图像增强。
这种图像增强实际上只能通过处理数字图像来实现。基于前面列出的原因,模拟放大器/数字转换器模块是焦平面阵列控制器设计中的基本必需品。
看起来像是一个悖论,但即使是最终生成模拟视频图像的焦平面阵列控制器,也需要模数转换。
模拟放大器/数字转换器模块(简称 A/D 转换器)是焦平面阵列控制器的一个模块,执行两项主要任务:
  1. 对输入的原始模拟信号进行增益/偏移调节,
  2. 将经过放大和偏移修正的模拟信号转换为数字信号。
这些任务可以通过市场上提供的一系列高性能 A/D 转换器来实现,其技术规格如表 7 所示。
A/D 动态范围可被视为对 FPA 控制器设计和图像增强方法使用有显著影响的模数转换器最重要的参数。
高动态的 14/16 位模数转换器能够以高分辨率捕获目标在地球条件下几乎全部典型温度范围内发射的辐射信号,从约 50 C 50 C -50^(@)C-50^{\circ} \mathrm{C} 到约 150 C 150 C 150^(@)C150^{\circ} \mathrm{C} 。这种情况简化并提高了由 FPA 控制器执行的图像增强的有效性。然而,高动态模数转换器与低动态(8/12 位)模数转换器相比,成本更高且速度更慢。
因此,后者在大多数热成像仪中被使用。
表 7. FPA 控制器中模拟放大/数字转换模块的技术规格
  参数名称   数值
模数转换通道数量 从1到4(选项可达16个)
A/D 转换器输入电压范围 0 5 V 0 5 V 0-5V0-5 \mathrm{~V} (有时高达 10 V)
  A/D 动态范围 从8位到16位
每个通道的探测速率 从5兆赫到80兆赫
  模拟/数字噪声 低于1个数字电平
每个通道的模拟增益 从1到8
  增益/偏移调节   
Parameter name Value number of A/D conversion channels from 1 to 4 (option up to 16) A/D converters input voltage range 0-5V (sometimes up to 10 V ) A/D dynamic range from 8bits to 16 bits probe rate per channel from 5 MHz to 80 MHz analogue/digital noise below 1 digital level analogue gain per channel from 1 to 8 gain/offset regulation Yes| Parameter name | Value | | :--- | :--- | | number of A/D conversion channels | from 1 to 4 (option up to 16) | | A/D converters input voltage range | $0-5 \mathrm{~V}$ (sometimes up to 10 V ) | | A/D dynamic range | from 8bits to 16 bits | | probe rate per channel | from 5 MHz to 80 MHz | | analogue/digital noise | below 1 digital level | | analogue gain per channel | from 1 to 8 | | gain/offset regulation | Yes |

6.2.7 片上系统

片上系统(SoC)模块可被视为红外焦平面阵列(FPA)控制器的大脑,负责两个关键任务:
  1. 通信和控制 FPA 控制器的所有模块,
  2. 对红外 FPA 传感器生成的原始图像进行图像增强。
从电子学角度来看,系统级芯片(SoC)是一个广义术语,用于描述将不同功能的电子元件(如数字驱动器、高速数据处理、通信接口、存储器接口或内置内存,以及模拟外围设备)压缩到一个电子芯片中的一大类集成电子电路。
系统级芯片可以简化电路板设计,在不影响系统功能的前提下提高功率和速度。
在热像仪控制器设计中,有五种主要类型的系统级芯片:
  1.   现场可编程门阵列(FPGA),
  2.   带有 CPU 的现场可编程门阵列(FPGA),
  3.   数字信号处理器,
  4.   专用集成电路,
  5.   微控制器。
现场可编程门阵列(FPGA)是一种可由电子设计团队编程的可配置集成电路。只要系统内存允许,这种结构可以创建几乎任何处理功能。
FPGA 系统的编程主要基于硬件
描述语言 VHDL、Verilog,但也可能包括用 C/C++、汇编语言编写的可执行程序。与微控制器不同,FPGA 系统可以轻松实现并行数据处理,这极大地提高了数据处理速度。
FPGA 广泛应用于需要灵活性、速度和并行处理能力的场景。
带有 CPU 核心的现场可编程门阵列(FPGA)是处理器或微控制器与可编程逻辑的组合。处理器核心可以有其独立的外围引脚和 I/O 端口,并连接到 FPGA 可编程逻辑。
为了充分利用此类系统的资源,设计师必须使用硬件描述语言设计逻辑块,并使用 C / C + + C / C + + C//C++\mathrm{C} / \mathrm{C}++ 、汇编语言编写管理程序。这种解决方案更加灵活,通过使用现成的 CPU 核心和众多外设可以节省大量时间。
数字信号处理器(DSP)是一种执行顺序计算的专用微控制器,包含支持数据处理的特殊模块。基本通信外设如 USB、SPI、I2C 可以包含在该芯片中。
编程 DSP 系统涉及用 C/C++、汇编语言编写程序,并可能得到额外工具的支持。只有部分 DSP 芯片适用于热成像仪,因为它们不如之前讨论的基于可编程逻辑的两种解决方案那样灵活。
微控制器是一种具有 CPU 和许多附加外围设备的集成电路。对于不需要高级数据处理的成像设备,可以使用微控制器。
详细来说,它们可以在焦平面阵列控制器中与使用先进的 DPROIC 系统构建的红外焦平面阵列传感器一起工作,这些系统可以降低对焦平面阵列控制器的要求。在实践中,这种情况仅在一些简单的低分辨率红外焦平面阵列中发生。
专用集成电路(ASIC)是专门为精确定义的应用而设计的专用电子芯片组件。
设计这样的系统是多阶段的,它涉及使用现场可编程门阵列(FPGA)设计整个内部逻辑,然后根据逻辑设计在硅基上设计结构。
为焦平面阵列控制器制造专用集成电路是昂贵的,只有在大规模生产的情况下才有利可图。然而,这种系统级芯片的专用架构使得能够在保持非常高的图像帧率的同时实现高级图像增强。
总之,微控制器的片上系统(SoC)仅适用于具有非常简单控制任务的焦平面阵列(FPA)控制器(低分辨率图像,无需图像增强)。
其他形式的片上系统(FPGA、FPGA+CPU、DSP、专用 ASIC)可用于设计能够控制先进红外焦平面阵列传感器的 FPA 控制器。然而,如今以 FPGA+CPU 形式构建的片上系统由于其灵活性和工作负载最小化而成为首选解决方案。
在表 8 中显示了 FPA 控制器中使用的片上系统类型的其他细节。关于片上系统执行的图像增强任务的详细讨论将在第 7 章中呈现。
表 8. FPA 控制器中使用的片上系统类型比较
  芯片类型   灵活性   外围设备可用性   速度   工作负载   实施成本
1 FPGA      使用逻辑编程 中等/高,取决于编程逻辑和芯片类型   中等   
2   FPGA+处理器    以逻辑编程+内置 如 FPGA 的情况   中等   
3 DSP   中等   内置,有限的 高数据处理速度   中等   
4   微控制器      内置、有限的         
5 ASIC   有限的   专用的   超高速      
Type of chip Flexibility Peripheral availability Speed Workload Implementat ion cost 1 FPGA High Programmed in logic Medium/High, depending on the programmed logic and type of chip Medium Low 2 FPGA+ CPU High Programmed in logic+built-in as in case of FPGA Medium Low 3 DSP Medium Built-in, limited High data processing speed Medium Low 4 Microcontroller Low Built-in, limited Low Low Low 5 ASIC Limited Dedicated Very high speed High High| | Type of chip | Flexibility | Peripheral availability | Speed | Workload | Implementat ion cost | | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | | 1 | FPGA | High | Programmed in logic | Medium/High, depending on the programmed logic and type of chip | Medium | Low | | 2 | FPGA+ CPU | High | Programmed in logic+built-in | as in case of FPGA | Medium | Low | | 3 | DSP | Medium | Built-in, limited | High data processing speed | Medium | Low | | 4 | Microcontroller | Low | Built-in, limited | Low | Low | Low | | 5 | ASIC | Limited | Dedicated | Very high speed | High | High |

6.2.8 图像增强模块

图像增强模块本质上是系统级芯片(SoC)中的软件模块,负责对红外焦平面阵列(IR FPA)传感器生成的原始视频图像进行图像增强。可以将其视为焦平面阵列控制器的大脑。该模块需要完成三项主要任务:
  1. 校正红外焦平面阵列传感器的空间噪声,
  2. 热成像仪温度范围的调节
  3. 由红外焦平面阵列传感器生成的图像清晰度的提高
这些任务将使用大量方法进行,这些方法将在第7章中详细讨论。

  6.2.9 视频接口

之前讨论的焦平面阵列(FPA)控制器的图像增强模块生成的热成像输出以多种非标准的电子视频图像形式,这些图像不能轻易地在常规商业电子显示设备上呈现、无法记录在计算机系统使用的大容量存储器中,也难以传输到不同的电子系统。FPA 控制器的视频接口模块是一个将图像增强模块生成的非标准视频图像转换为可以被典型视频电子设备轻松解析的标准化形式的电子模块。
标准视频图像可以定义为一种电子信号,它包含以标准化方式(精确定义的电气连接器、传输介质和电气/软件协议)呈现的动态图像序列信息,并得到国际认可。
每个标准都提出了自己明确定义的接口,术语"视频标准"或"视频接口"基本上具有相同的含义。
从设计角度来看,视频接口可以被视为一组视频发射器和视频连接器。
发射器通常是一种专用芯片,它根据标准通信协议准备数据并将数据发送到传输介质(例如专用电缆)。
视频连接器是一种可用于传输视频图像的电子连接器。
有许多标准由不同组织提出,用于调节视频接口的设计。下面是热成像仪设计中最常用的接口列表:
A. 模拟视频接口:
  1. 标准模拟视频(PAL、NTSC)
  2. 增强型模拟视频(AHD、HD-CVI、HD-TVI)
    B. 数字视频接口:
  3. CameraLink(CL Base、CL Deca、CL HS)
  4. USB(USB 1.0、USB 2.0、USB 3.0、USB 3.1 Gen1、USB 3.2 Gen1)
  5. SDI 串行数字接口(SDI),变体包括 SD-SDI、HD-SDI、双链路 HD-SDI、3G-SDI、6G-SDI、12G-SDI
  6. HDMI:1.0-1.2a、1.3-1.3a、1.4-1.4b、2.0-2.0b、2.1-2.1b
  7. 基于以太网的 UDP-IP:SMPTE 2022、网络设备接口、SMPTE 2110
  8.   GigE(1GigE、5GigE)
  9. CoaXPress(СХР-1、СХР-1、СХР-2、СХР-3、СХР-4、СХР-5、СХР-6、СХР-10)
  10. LVDS(低压差分信号)
模拟视频标准(PAL、NTSC)是最古老且仍然最流行的热成像视频标准。这些接口主要应用于对简单性和可靠性要求至关重要的场景,例如军事应用和监控领域。
PAL/NTSC 视频标准的缺点包括
  1. 视频分辨率的限制(仅为标准电视分辨率),
  2. 单向传输(需要另一个接口来控制成像仪设置),
  3. 对电磁兼容性干扰的敏感性,
  4. 无法编辑视频,
  5. 难以将模拟信号与其他视频信息(瞄准标记、目标距离、成像仪方位角等)融合,
  6. 记录模拟视频需要大量内存,模拟电子信号通过典型电缆的传输距离短,
更先进的模拟标准如 AHD、HD-CVI、HD-TVI 消除了第 1 个局限性。数字视频接口已被提出以部分或全面解决模拟接口的所有局限性。
用于图像传输的最常见的数字标准通常是 HDMI(从 1.0 版本到最新的 2.1b 版本)和 SDI(有多种变体)。
HDMI 连接由差分对组成,通过这些差分对传输颜色信息和时钟,传输介质是严格定义的多芯电缆。SDI 连接则通过单根同轴电缆进行。
这两种接口仅支持已定义的分辨率和时钟,因此不适用于具有非标准分辨率的摄像机。HDMI 和 SDI 接口,与模拟接口类似,不能用于控制成像仪设置。
一些通用数字接口还可以实现视频传输:各种版本的 USB 和以太网。
随着相机技术的发展,为成像系统创建了更多标准化的接口类型,如 USB3-Vision、GigE 和 5GigE。这些接口还允许实现成像仪设置的控制。
热成像仪中常用的另一种接口是 CameraLink 和 LVDS。第一种可以被视为第二种的标准化版本。
LVDS 是差分对,可用于串行传输构成图像的大量信息:像素值、同步信号。
CameraLink 标准严格定义了关于差分对的数量和排列、连接器类型以及频率范围的所有参数,但同时又允许发送非标准分辨率的图像。
CameraLink 连接还具有其他额外选项,例如为相机供电和控制接口的能力。
专门为工业相机创建的最新和最快的接口是 CoaXPress。它支持从 1.25 Gbit / s 1.25 Gbit / s 1.25Gbit//s1.25 \mathrm{Gbit} / \mathrm{s} 12.5 Gbit / s 12.5 Gbit / s 12.5Gbit//s12.5 \mathrm{Gbit} / \mathrm{s} 的传输。CoaXPress 的主要传输介质是同轴电缆,通过该电缆从相机向接收器进行传输。CoaXPress 还支持低速上行返回通道,可用于控制图像传感器参数、触发参数或更新软件。
这些视频接口最容易注意到的特征是电气连接器(见图13)。然而,以此为标准划分视频接口是混乱的,因为存在多种不同的视频接口使用相同视频连接器的情况。
例如,BNC 连接器/电缆可同时用于模拟视频(PAL、NTSC、AHD、HD-CVI、HD-TVI)以及数字接口,如 SDI 和 HD-SDI 接口、CoaxPress 接口,以及部分基于以太网的 UDP-IP。
因此,只有在研究了发布这些视频图像标准的组织所准备的详细文件之后,才能对这些视频标准进行详细比较。
比较视频接口的基本规则在第9.4.2节中介绍。
  图13。
流行的电子输出热像仪使用的常见电连接器照片:a) BNC 连接器(用于模拟视频、SDI、CoaXPress、某些以太网类型接口),b) CameraLink 连接器,c) USB2.0 连接器,d) HDMI 连接器,e) RJ45 连接器(用于千兆以太网/以太网热像仪)

  6.2.10 近端板

近端板是一个位于红外焦平面阵列(FPA)传感器非常近的小型电子板(有时传感器是该板的一部分),执行四种不同任务:
  1. 提供电源电压,
  2. 传感器输出信号的模拟预放大,
  3. 通过使用各种类型的数字缓冲器对传感器输入进行保护,
  4. 调整电压电平的能力。
精心开发的接近板对于设计良好的焦平面阵列控制器极为重要。为了便于焦平面阵列控制器的设计,红外焦平面阵列传感器通常与包含的接近板一起销售。
然而,从技术上讲,接近板的设计通常比其他模块更为简单。

6.2.11 测试焦平面阵列控制器

使用与测试红外焦平面阵列传感器相同的测试系统来进行焦平面阵列控制器的测试。不同之处仅在于现在使用了已知参数的参考红外焦平面阵列传感器。
如果被测焦平面阵列控制器是完美的,那么传感器-控制器组合的测量参数将与红外焦平面阵列传感器的参数相同。

  6.3 光学目镜

6.3.1 基本工作概念

热像仪所用的光学目镜(称为红外目镜)的主要任务是在位于目镜焦平面的红外焦平面阵列(FPA)传感器上创建感兴趣目标的图像(通常是远距离物体)。
红外目镜通常是使用表面曲率精确加工并以精确确定的距离分隔的一组折射透镜构建的光学系统(图14)。
目标镜头有时也会使用混合折射-衍射透镜或反射镜,但这种情况比较罕见。
详细来说,热像仪的红外目标镜头传统上是由一组具有球面曲率的透镜设计而成。如今,由球面表面透镜组成的目标镜头已在市场上成为少数。
更为普遍的是使用非球面表面(非球面、旋转对称表面)的目标镜头。
非球面目标镜头的主要优势在于能够减少透镜数量,同时保持生成高质量图像的能力。实际上,这意味着非球面目标镜头可以比传统的球面目标镜头更小、更轻。
然而,非球面目镜在极端温度下工作时更容易出现图像劣化(非恒温性问题)。
图14. 热成像仪用红外目镜的光学示意图

6.3.2 红外目镜特性

国际市场上的红外目镜可以使用七个标准进行特征描述:
  1. 热像仪合作类型(光谱波段和冷却)
  2. 焦距调节能力
  3.   焦距
  4.   光学 F 数
  5. 红外焦平面阵列传感器的最小像素尺寸,
  6. 红外焦平面阵列传感器的最大尺寸,
  7.   非热适应性水平。
根据第一个标准,热像仪的光学目镜分为两种主要类型:
  1. LWIR 目镜为非制冷 LWIR 热成像仪优化
  2. MWIR 目镜为制冷 MWIR 热成像仪优化
具体而言,还存在为制冷 LWIR 热成像仪优化的目镜,但极为罕见。根据第二个标准,热成像仪的目镜可分为三组(图 15):
  1.   1-FOV 目镜,
  2.   M-FOV 目镜
  3.   变焦目镜
1-FOV 目镜是固定焦距的目镜,可以设计出只具有单一且无法改变的视场的热像仪。
M-FOV 目镜是具有步进调节焦距的目镜,可以设计出可以分步改变视场的热像仪(通常为 2 5 2 5 2-52-5 步)。
变焦目标镜头是具有连续可调焦距的目标镜头,能够设计出视场角可以连续调节的热成像仪。
它们通常通过最长焦距与最短焦距的比率来描述。例如,焦距从 50 mm 到 300 mm 的变焦镜头可以被描述为"6x"变焦。
真正的变焦目镜是具有对焦特性的镜头,能在焦距变化时保持对焦。然而,大多数热像仪中使用的红外变焦目镜是变焦镜头,在改变放大倍率(焦距)时无法完美保持对焦,需要重新对焦。
此外,灵活的 FOV 调节是以增加复杂性、设计妥协(降低图像质量、增加重量/尺寸、提高 F 数)和增加成本为代价的。
图 15. 代表三个主要组群的红外目镜照片:a) 1-FOV 目镜(Opthir SupIR 24 mm f / 1.0 24 mm f / 1.0 24mmf//1.024 \mathrm{~mm} \mathrm{f} / 1.0 ),b) M-FOV(Ophir SupIR 45 / 135 mm , f / 1.1 , f / 1.6 45 / 135 mm , f / 1.1 , f / 1.6 45//135mm,f//1.1,f//1.645 / 135 \mathrm{~mm}, \mathrm{f} / 1.1, \mathrm{f} / 1.6 电动对焦 LWIR XGA),c) 变焦目镜(Ophir SupIR 40 300 mm f / 1.5 40 300 mm f / 1.5 40-300mmf//1.540-300 \mathrm{~mm} \mathrm{f} / 1.5 LWIR 电动连续变焦 SXGA 成像镜头)
变焦目镜现在是高端热像仪最流行的红外目镜类型。M-FOV 目镜是不太常用的解决方案。然而,人们常常忽视变焦目镜相比 M-FOV 目镜存在一些缺点。
然而,M-FOV 目标物镜更亮(较低的 F 数值 rarr\rightarrow 意味着更好的成像仪 NETD),并且在改变视场时提供更低的光轴偏差。后者意味着由中心瞄准标记指示的图像位移更小。对于用于热成像瞄准/目标系统的目标物镜来说,这个特征极其重要。
红外目标物镜的焦距可以从约 2 mm 变化到约 1500 mm。目前对红外目标物镜的焦距没有标准划分。
然而,可以估计焦距低于 3 mm 的目标物镜可以称为极短焦距目标物镜,而焦距超过约 900 mm 的目标物镜可以称为极长焦距目标物镜。这两种极端情况都很少出现。
第四个准则(F 数值)描述了目标物镜所创建图像的相对亮度。从数学上讲,F 数值是焦距与光学视界孔径(输入瞳孔直径)的比值。
F 数在热成像仪使用的光学目镜中变化很大,从非制冷成像仪超亮目镜的 0.85 左右到制冷长波红外成像仪目镜的 5.5 左右(详见表 9)。
此外,还有一个明确的规律,即 1-FOV 目镜的 F 数低于 M-FOV 目镜的 F 数。M-FOV 目镜的 F 数又低于变焦目镜的 F 数。
实际上,这意味着使用 1-FOV 目镜开发低 NETD 的热成像仪最为容易;而使用变焦目镜开发则最为困难。
红外焦平面阵列传感器的最小像素尺寸决定了目镜可接受的最大像差/衍射模糊程度。这一条件通常以红外目镜的调制传递函数(MTF)要求的形式呈现(见表 10)。
通常要求红外焦平面阵列传感器奈奎斯特频率处的光学目镜 MTF 需达到一定水平。
表 9. 市场上主要红外目镜类型的近似 F 数值
目镜类型(成像仪类型) 1 FOV 1 FOV 1-FOV1-\mathrm{FOV} M FOV M FOV M-FOV\mathrm{M}-\mathrm{FOV}   变焦
  未冷却的 LWIR 成像仪 0.85 1.4 0.85 1.4 0.85-1.40.85-1.4 1.1 1.6 1.1 1.6 1.1-1.61.1-1.6 1.2 1.6 1.2 1.6 1.2-1.61.2-1.6
  制冷的 MWIR 成像仪 1.2 2 1.2 2 1.2-21.2-2 3 5 3 5 3-53-5 3.4 5.5 3.4 5.5 3.4-5.53.4-5.5
Objective type (type of imager) 1-FOV M-FOV Zoom Uncooled LWIR imager 0.85-1.4 1.1-1.6 1.2-1.6 Cooled MWIR imager 1.2-2 3-5 3.4-5.5| Objective type (type of imager) | $1-\mathrm{FOV}$ | $\mathrm{M}-\mathrm{FOV}$ | Zoom | | :--- | :--- | :--- | :--- | | Uncooled LWIR imager | $0.85-1.4$ | $1.1-1.6$ | $1.2-1.6$ | | Cooled MWIR imager | $1.2-2$ | $3-5$ | $3.4-5.5$ |
表 10. 热像仪红外目镜的 MTF 要求[73]
未冷却探测器的 MTF 标准: 制冷型探测器的 MTF 准则请注意,这些准则取决于 f/#:
  焦平面阵列间距   线对/毫米 最小水平边缘 MTF(S&T 平均值)   焦平面阵列间距   周期/毫米 最小水平边缘调制传递函数(S&T 平均)
F/3.6 f/4 F5.5
25 μ 25 μ 25 mu25 \mu 20 35% 30 μ 30 μ 30 mu30 \mu 16.7 30% 25%
17 μ 17 μ 17 mu17 \mu 29.4 25% 20 μ 20 μ 20 mu20 \mu 25 25% 15%
12 μ 12 μ 12 mu12 \mu 41.7 17 % 17 % 17%17 \% 或不低于衍射极限值的一半 15 μ 15 μ 15 mu15 \mu 33.3 15% 7%
10 μ 10 μ 10 mu10 \mu 50 17 % 17 % 17%17 \% 或不低于衍射极限值的一半 10 μ 10 μ 10 mu10 \mu 50 8% 5%
MTF criteria for uncooled detectors: MTF criteria for cooled detectors Please note that the criteria depend on the f//#: FPA Pitch cy/mm Min. Horizontal Edge MTF (S&T Average) FPA Pitch cy/mm Min. Horizontal Edge MTF (S&T Average) F/3.6 f/4 F5.5 25 mu 20 35% 30 mu 16.7 30% 25% 17 mu 29.4 25% 20 mu 25 25% 15% 12 mu 41.7 17% or no less than half of the diffraction limit value 15 mu 33.3 15% 7% 10 mu 50 17% or no less than half of the diffraction limit value 10 mu 50 8% 5% | MTF criteria for uncooled detectors: | | | MTF criteria for cooled detectors Please note that the criteria depend on the f//#: | | | | | | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | | FPA Pitch | cy/mm | Min. Horizontal Edge MTF (S&T Average) | FPA Pitch | cy/mm | Min. Horizontal Edge MTF (S&T Average) | | | | | | | | | F/3.6 | f/4 | F5.5 | | $25 \mu$ | 20 | 35% | $30 \mu$ | 16.7 | | 30% | 25% | | $17 \mu$ | 29.4 | 25% | $20 \mu$ | 25 | | 25% | 15% | | $12 \mu$ | 41.7 | $17 \%$ or no less than half of the diffraction limit value | $15 \mu$ | 33.3 | | 15% | 7% | | $10 \mu$ | 50 | $17 \%$ or no less than half of the diffraction limit value | $10 \mu$ | 50 | 8% | 5% | |
根据表10可以得出以下几点结论:
  1. 在红外焦平面阵列(FPA)传感器奈奎斯特频率下,光学目镜的最小调制传递函数(MTF)要求系统性地降低:新一代像素更小的 FPA,对要求也更低,
  2. 中波红外(MWIR)光学目镜的最小 MTF 要求明显低于长波红外(LWIR)光学目镜的最小 MTF 要求。
    实际上,这意味着在使用像素更小的红外 FPA 传感器的热成像仪中,图像模糊会更加明显,特别是对于使用高 F 数光学目镜的中波红外热成像仪。
众所周知,光学目镜在其光轴上能产生最佳图像。实际上,这意味着最佳图像在目镜焦平面处的红外传感器中心位置生成。
图像质量(光学 MTF)随着远离中心的距离增加而自然下降是很正常的。关键在于这种下降的速度有多快。因此,目镜可以配合的红外焦平面阵列(FPA)传感器总有一个最大尺寸。
尺寸主要取决于在奈奎斯特频率下,与轴向 MTF 相比,非轴向 MTF 的可接受退化容差。因此,红外焦平面阵列传感器的最大可接受尺寸应被视为红外目镜的一个关键参数。
许多监视型热成像仪(军用成像仪)需要在实验室和极端条件下(环境温度从约 40 C 40 C -40^(@)C-40^{\circ} \mathrm{C} 到约 + 70 C + 70 C +70^(@)C+70^{\circ} \mathrm{C} )工作,且不会显著降低成像性能。使用恒温红外目镜(对环境温度不敏感的光学系统)对实现这一目标至关重要。
然而,实现这一目标很困难,主要有两个原因导致红外目镜在变化的环境温度下的图像质量会受到影响:
  1. 大多数红外目镜所用材料的折射率变化很大(至少比可见光波段材料高一个数量级)。
  2. 用于外壳的光学元件材料的热膨胀。
通常通过被动热补偿,并可选择手动或自动重新对焦来校正这两种效应。
后一术语可定义为光学元件和外壳部件的材料优化,目的是使一组元件的热变化被另一组光学元件引入的变化所抵消。
几乎所有热成像仪制造商都声称他们的产品使用了非热光学技术,并且能够在实验室和极端条件下工作。然而,现实中热成像仪在极端温度下的性能差异很大[74]。
确实存在一些对极端温度不敏感的成像仪,但通常主导的热成像仪在极端条件下生成的图像质量显著下降。红外目镜性能不佳是造成这种情况的典型原因。

6.3.3 红外目镜与可见近红外目镜的比较

红外目镜的主要任务与常用可见近红外相机中的光学目镜的任务相同。这些目镜同样由一组可以具有球面或非球面表面的透镜组成。
因此,热像仪所使用的光学目镜(后文简称为红外目镜)从外观上看起来与可见光近红外相机(VNIR 相机)使用的目镜非常相似(图 16)是不足为奇的。
然而,热像仪所需的红外目镜与广泛应用于 VNIR 相机和经典光学系统(如望远镜或双筒望远镜)的常规 VNIR 目镜之间存在显著差异。
这些差异将在讨论红外目镜的开发过程时予以阐明。
图 16. 两种光学目镜的照片:1)VNIR 镜头:Vbestlife 全画幅相机镜头 50 / 1.4 50 / 1.4 50//1.450 / 1.4 ASPH [75],2)LWIR 镜头:SupIR 50 mm f / 1.2 50 mm f / 1.2 50mmf//1.250 \mathrm{~mm} \mathrm{f} / 1.2 固定对焦 LWIR 镜头 [76]
热像仪所用的红外目镜系统主要经历四个关键阶段:
  1. 选择最佳材料,
  2.   光学设计,
  3. 零部件制造与测试,
  4. 总目标的装配/测试。
这些阶段将在后续章节中详细讨论。

6.3.4 选择红外光学材料

用于制造热成像仪目镜的潜在材料列表相当长:AMTIR-1(传输红外辐射的非晶材料)、氟化钡(BaF2)、碲化镉(CdTe)、氟化钙(CaF2)、溴化铯(CsBr)、碘化铯(CsI)、熔融硅-红外级、砷化镓(GaAs)、锗(Ge)、氟化锂(LiF)、氟化镁(MgF2)、溴化钾(Kbr)、氯化钾(Kcl)、硅(Si)、氯化钠(NaCl)、溴碘化铊(KRS-5)、硒化锌(ZnSe)、硫化锌(ZnS)。
然而,实际用于制造红外目镜的光学材料列表仅限于五种材料:锗、硫属玻璃、 Si , ZnSe Si , ZnSe Si,ZnSe\mathrm{Si}, \mathrm{ZnSe} 和硫化锌。主要原因是这些材料具有高折射率,使得可以使用少量透镜设计出高质量的目镜。
图17. 由最常见的红外材料制成的单个平面窗口的透射率
锗是一种具有非常高折射率( > 4 > 4 > 4>4 )的银白色金属状固体,使得可以用最少数量的锗透镜设计高分辨率光学系统。其有用的传输范围从 2 到约 15 μ m 15 μ m 15 mum15 \mu \mathrm{~m} 。它相当脆性且难以切割,但可以得到很好的抛光。锗是非吸湿的、非毒性的,具有良好的热导率、优异的表面硬度和良好的强度。
对于任何锗传输光学系统来说,抗反射涂层是必不可少的,这是由于其非常高的折射率和高反射损耗。
锗具有低色散性,除非在最高分辨率的系统中,否则不太需要色彩校正。锗的一个显著缺点是其折射率对温度有严重的依赖性。
这使得由锗制成的目镜的热不变性变得困难,并且在沙漠条件下使用基于锗光学的热像仪进行日间监视变得很成问题。
尽管存在先前提到的技术缺陷以及抗反射涂层的高材料价格和成本,但锗仍然是热像仪高性能红外目镜光学设计师的首选。
红外硫族玻璃在从 1 μ m 1 μ m 1mum1 \mu \mathrm{~m} 13 μ m 13 μ m 13 mum13 \mu \mathrm{~m} (从短波红外到长波红外范围)提供良好的透射性。诸如低 dn / dT dn / dT dn//dT\mathrm{dn} / \mathrm{dT} 和低色散等物理特性,使光学设计师能够设计无热去焦的色彩校正光学系统。此外,这些玻璃可以模塑,这一特点使得在中到大批量生产中复杂的透镜几何形状的成本效益制造成为可能。
此外,这些玻璃还可以使用传统的研磨和抛光技术进行加工,如果需要更高的性能,还可以使用单点金刚石车削技术。
由于这些特性,红外硫族玻璃在过去几十年中彻底改变了热像仪光学制造,通过实现低成本、高光学性能的光学目镜的批量生产,现在这些玻璃已经与锗竞争,成为最流行的红外光学材料。
红外硫族玻璃最受欢迎的品牌包括:来自 Amorphous Materials 公司的 AMTIR(传输红外的非晶材料)、来自 Umicore 公司的 GASIR®,以及来自肖特公司的 IRG 玻璃[78-80]。
然而,应当注意的是,与锗相比,硫族玻璃在制作高精度透镜方面更为困难。
硅的物理和化学性质与锗相似。它具有高折射率(约 3.45),质脆,不易解理,能达到 excellent 抛光效果并具有大的 dn / dT dn / dT dn//dT\mathrm{dn} / \mathrm{dT} 。与锗类似,硅光学元件也必须具有抗反射涂层。硅提供两个透射范围: 1 7 1 7 1-71-7 25 300 μ m 25 300 μ m 25-300 mum25-300 \mu \mathrm{~m} ,其中只有第一个范围用于典型的红外系统。该材料明显比锗便宜, ZnSe , ZnS ZnSe , ZnS ZnSe,ZnS\mathrm{ZnSe}, \mathrm{ZnS} 。它主要用于工作在 3 5 μ m 3 5 μ m 3-5mum3-5 \mu \mathrm{~m} 波段的红外系统。由于其低密度,硅是对重量有限制的 MWIR 物镜的理想选择。
硫化锌是一种光学性质与锗大致相似的光学材料,但其透射范围更广,从约 0.55 μ m 0.55 μ m 0.55 mum0.55 \mu \mathrm{~m} 到约 20 μ m 20 μ m 20 mum20 \mu \mathrm{~m} ,折射率约为 2.4。它部分透明,呈红色。由于相对较高的折射率,需要抗反射涂层。该材料的化学抗性极佳。
长波红外(LWIR)和中波红外(MWIR)目标镜头以及宽带红外窗口的常用材料。
硫化锌在从约 3 μ m 3 μ m 3mum3 \mu \mathrm{~m} 微米范围内具有相对良好的透射性。它表现出卓越的高断裂强度、高硬度和高化学抗性。由于对雨水侵蚀和高速尘埃磨损的高抵抗性,硫化锌在高速机载应用的热成像仪外窗或外部镜头中广受欢迎。

6.3.5 红外目镜设计

光学设计是一个选择一系列精确定义的光学元件并将它们置于精确定位置的过程。这个过程还包括对系统参数的估算和优化,同时考虑其制造的公差。
如今,光学目镜的设计已实现计算机化,并且得到先进计算机程序的支持。然而,尽管已经计算机化,设计新型高性能光学目镜仍然是一项非常困难的任务。
红外目镜设计师在设计高性能 MWIR/LWIR 光学目镜时面临四个挑战。
首先,与可见近红外(VNIR)范围甚至短波红外(SWIR)范围的光学玻璃数量相比,适用于 MWIR/LWIR 光学目镜的材料明显更少且更加昂贵。这使得实现目镜消色差变得困难。
热像仪目镜设计者面临的第二个挑战是遮蔽眩光效应。FOV 范围外的高强度目标可能在热像仪生成的图像中产生伪像。
这些伪像可能会遮蔽真实目标或被误认为是感兴趣的目标。同样的效果也可能发生在可见近红外光学目镜上,但通常要弱得多。主要原因是理论上的黑色镜头外壳墙面具有较高的反射率。
这种现象在非制冷成像仪的明亮目镜中尤其明显,这是由于通过光线的广角波束。设计者应预测潜在的反射,并通过使用黑化处理或挡光片来消除这些反射。
第三个挑战是"水仙花"效应,由于目镜镜片表面上的非预期内部反射,这种效应会导致实际目标的图像与冷红外焦平面阵列传感器的模糊图像在成像 FOV 中融合。这种效应特定于制冷型热像仪。
第四个挑战是非热性问题。红外光学材料的光学特性(折射率、热膨胀系数)对环境温度的敏感性远高于用于制造可见近红外和短波红外成像仪的玻璃材料的特性。
因此,设计能在实验室和极端条件下工作的非热红外目镜比设计可见近红外光学系统要困难得多。

6.3.6 光学元件的制造/测试

制造阶段有两个主要任务。第一个任务是将透镜加工成符合指定规格的形状并抛光。第二个任务是为透镜镀上抗反射涂层,以减少不必要的反射。
用于可见光-短波红外光谱波段的高精度透镜,通常采用一系列重复的研磨和抛光工艺来制造。低精度透镜(如眼科透镜)则是通过模塑或浇铸制成。
然而,红外目镜的光学元件(透镜)情况则有所不同。
红外目镜透镜的制造通常采用两种方法:
  1. 单点金刚石车削(SPDT)
  2.   精密成型。
第一种方法基于利用配备金刚石切削刀具的数控车床(或其他精密机床)来实现光学元件表面的指定形状的思路。
精密玻璃成型是一种复制工艺,其中将光学材料装载到期望形状的模具工具中,加热至材料的转变温度和软化点之间的工作温度,然后冷却该材料。
大多数红外目镜的光学元件可以使用传统的研磨/抛光方法加工,并且可以实现更高的精度。
然而,与自旋成型精密成型技术(SPDT)方法或精密模塑相比,应用于红外材料的传统研磨/抛光成本更高且耗时更长。因此,后者的方法完全主导了红外物镜光学元件的制造。
然而,需要注意的是,使用自旋成型精密成型技术(SPDT)方法制造的光学元件的精度明显低于传统研磨/抛光(SPDT:在 L = 630 nm L = 630 nm L=630nm\mathrm{L}=630 \mathrm{~nm} 时不能优于 L/4,而 L / 8 L / 8 L//8\mathrm{L} / 8 对于研磨/抛光来说则很容易实现)。
无论如何,这种对红外物镜透镜制造精度的降低由于红外物镜光谱波段的较长波长而完全可以接受。
所有用于红外物镜光学元件的典型红外材料都以高折射率为特征,这导致未涂层表面的高反射损耗。
实际上,这意味着未涂层的红外元件由于低透射率而难以透光(图 17)。简单来说,可以说由三个未涂层透镜制成的锗物镜的透射率大约处于 10 % 10 % 10%10 \% 的水平。因此,对红外物镜的光学元件使用防反射(AR)涂层是必须的。
防反射(AR)涂层是一种应用于镜头表面的光学涂层,目的是减少这些表面的反射。
它基于透明薄膜的概念,通过优化薄膜的宽度和折射率,使反射在上下边界的光束相位偏移达到 180 180 180^(@)180^{\circ} 的水平。通过这种方式,可以实现覆盖光学元件表面的薄膜两个边界反射光束的近乎完全的相互销毁干涉。
单层薄膜涂层可以将反射降低至接近零的水平,但仅限于特定波长附近的窄带范围。
薄膜的最佳折射率应该是入射介质的折射率和涂覆光学元件的折射率的乘积的平方根。以宽度为 MgF 2 MgF 2 MgF_(2)\mathrm{MgF}_{2} 、在 1 / 4 λ 1 / 4 λ 1//4lambda1 / 4 \lambda 水平、针对 550 纳米波长优化的简单薄膜是此类单层抗反射(AR)涂层的典型示例。宽带抗反射(BBAR)涂层旨在通过使用针对不同波长优化的多层薄膜,以减少更宽波段上的反射。
为 MWIR 目镜使用的光学元件优化的 BBAR 涂层,其开发方法与为 VNIR 目镜使用的光学元件涂层的开发方法非常相似:使用相同材料(主要是氧化物),但仅仅更厚。
对于 LWIR 目镜的涂层,差异则更大,因为通常使用的氧化物在约 7 μ m 7 μ m 7mum7 \mu \mathrm{~m} 处不具有透光性。因此,LWIR 光学元件的涂层通常由三种新材料制成,如氟化物化合物、 ZnS , ZnSe ZnS , ZnSe ZnS,ZnSe\mathrm{ZnS}, \mathrm{ZnSe}
还应注意,红外目镜中外部光学元件的表面不仅需要低反射率,还必须具有耐磨性。
因此,这个外部表面通常使用类金刚石涂层(DLC)进行涂覆,该涂层提供了接近天然钻石的硬度、抗应力、抗腐蚀、
耐磨损和抗划伤特性。DLC 的抗反射性能几乎与典型的宽带抗反射(BBAR)涂层相当。
对红外目镜的制造光学元件进行测试至关重要,以确保它们可用于创建高性能红外目镜。所有光学元件(通常是透镜)的参数必须被测量。
参数清单包括:光学材料的折射率、球面半径、非球面表面的非球面系数、透镜宽度、透镜边缘角度以及偏心误差。
测试红外光学元件通常是使用基于不同干涉测量方法的计算机化测试站进行的,这些方法与测试可见近红外光学镜头的方法/测试站类似。然而,存在一些局限性。
典型的干涉测量测试站仅在反射模式下可用于测试中波红外/长波红外镜头,因为典型的中波红外/长波红外镜头对于测试站中使用的典型可见近红外光源是不透明的。
只有当干涉测量测试站使用工作在中波红外/长波红外范围的激光器时,才能使用透射模式。

6.3.7 红外目镜的装配/测试

高质量的元件是制造高质量红外目镜的必要条件。然而,这并不是充分条件,因为元件(通常是透镜)还必须完美定位。
实际上,这意味着必须满足两个条件:
  1. 每个透镜的光轴相同,
  2. 目镜的光轴与目镜筒的旋转轴重合。
从技术上讲,镜头和镜头筒都可以实现亚微米精度的制造。因此,理论上可以以亚微米精度将镜头定位在筒内。
然而,实际上由于镜头在与装配温度不同的温度下可能产生机械应力,这种情况是无法实现的。
镜头必须总是留有一些空间,以容纳镜头和镜头筒的热膨胀,而这种公差将导致图像质量的下降。
此外,镜头之间的距离必须随环境温度而变化。因此,通常会使用一些机械机构(通常是间隔垫),将镜头移动到不同温度下的正确对焦位置。
再次强调,这种移动无法达到亚微米精度。
组装红外目镜有四种主要方式:
  1. 由简单光学工具支持的熟练光学技术人员,
  2. 使用精度适中(百微米公差)的机器人手臂进行自动装配,
  3. 由人工操作的先进居中站,
  4. 由 MTF 测试站支持的熟练光学技术人员。
由熟练的光学技术人员(通常是女性)进行的第一种方式仍然是组装红外光学目镜的主导方式。由经验丰富的光学人员使用简单的传统光学工具可以生产出高性能的目镜。
第二种方式是使用机器人手臂进行自动组装,可以高速组装,但精度适中(公差为数百微米),适用于低成本目镜。
第三种方法假设使用先进的中心度测量站,能够以亚微米精度测量每个镜头的中心度偏差以及光学目标中所有镜头之间的距离。然而,使用这类机器对红外目镜进行中心度校准是非常耗时的。
如果一个目镜有4个镜头,这意味着需要测量8个表面的中心度,测量5个距离,然后分析结果,最后应用最优的校正。
第四种方法基于使用 MTF 测试站的概念,该站可以对光学目镜进行实时 MTF 测量。
该站的操作员可以在改变目镜不同镜头的位置时进行实时 MTF 测量,并找到所有镜头的最佳位置(最佳 MTF 函数的位置)。
这种方法速度更快,当由熟练的光学技术人员使用测试站点时,可以产生令人惊叹的结果。

  6.4 成像仪外壳

成像仪外壳是一个广泛的术语,描述了机械块,其他所有模块(热像仪核心、红外目镜、可选模块)都机械连接到这个块上。
成像仪外壳有两个主要任务:
  1. 保护成像仪内部免受外部环境影响:必须具备耐热、防尘、防水、防震性能,并填充干燥氮气。
  2. 保持热像仪光学/电气部件的适当位置,以实现光学/机械对准:
  • 红外目镜相对于红外焦平面阵列传感器的适当对焦范围,
  • 红外目镜聚焦/变焦的适当机械轴,
  • 使成像器光学轴线与机械参考轴线正确对准(例如在皮卡汀尼导轨上),
  • 输出双筒光学系统的平行轴线,
  • 热成像附加装置的零偏转角度。
完成这些任务的难度水平取决于热成像仪的类型。
对于军用热像仪内部的环境保护,有非常严格的要求,而在相比之下,用于民用应用且在实验室条件下的测量热像仪的相关要求则要宽松得多。
在第二个任务中,不同类型的热像仪之间的差异甚至更大。在一些简化的情况下,可以说热像仪对定位误差的敏感程度与红外目镜的焦距成正比。
此外,上面列出的校准误差第2-5点对于热瞄具/夹装式瞄具、双筒镜至关重要,但对于仅用于监视应用的短距离成像仪来说是完全可接受的。
由于这些差异,为仅用于监视应用的小型短距离热像仪设计外壳相对容易,但为同时用于监视和瞄准应用的远程热瞄具设计外壳则非常困难。
由于表面看起来简单,设计团队往往会低估成像仪外壳对整个项目的重要性。然而,这是一种危险的做法,因为糟糕的外壳可能会严重限制热成像仪的整体性能。

  6.5 可选块

热成像仪设计中可选择的一系列组件包括:
  1.   快门,
  2.   显示屏,
  3.   目镜镜头,
  4.   角向平台
  5.   稳定平台。
快门是一种具有电子控制可移动部件的机械阻挡器,用于临时填充成像仪的视场。
显示器是许多便携式成像仪内部使用的电子模块,能够呈现输出图像。如果显示器被微型化,则需要目镜透镜将显示器的图像投射/放大到人眼的方向。
热像仪的显示屏和目镜与数字夜视设备中使用的是相同的部件。
角度平台是一个机械部件,热像仪连接到该部件上,并能够调节热像仪的角度位置。稳定平台是一种机械部件,能够对所连接热像仪的振动进行被动/主动衰减。
这两种部件可以融合,创建角度/稳定平台,通常以不同类型的云台形式开发。在后一种情况下,可以实现在调节的角度方向上获得场景的稳定输出图像。
用于设计某些热像仪的可选部件2-5与其他类型电光成像仪中使用的类似部件没有区别。只有快门是热像仪特有的重要部件,因此仅对这个部件进行详细讨论。
热像仪快门的主要任务是模拟均匀的热目标,填充热像仪的整个 FOV,以便对红外焦平面阵列(FPA)传感器生成的原始噪声图像进行单点非均匀性校正。
使用机械快门增强热图像的方法详细信息将在第7章中介绍。在此,我们仅需注意大多数热像仪都使用快门。
热像仪的大众市场中主要有两种类型的快门:
  1.   单叶快门,
  2. 多叶片快门(图18)
后一种类型据说能提供更长的使用寿命。两种类型通常都采用直流微型螺线管电机设计。
图 18. 两种快门的照片:a)单叶片快门,b)多叶片快门[77]
快门通常位于红外焦平面阵列(FPA)传感器近距离处,以保持快门有效窗口尺寸的低要求(仅略大于红外焦平面阵列传感器)。
快门叶片通常由碳纤维、铝或不锈钢制成的薄片形式,并涂覆不同类型的表面处理,如黑色阳极氧化、无电解镀镍、扩散金镀层或涂漆。这类快门的切换时间可以短至50毫秒。
这些大众市场快门提供小型化、轻量化,并以相对低的成本实现高可靠性。然而,这类大众市场快门也存在一些局限性:
  1. 热均匀性较差,
  2. 发射率/反射率一般,
  3. 有效窗口尺寸较小,
  4. 最小切换时间过长。
具体而言,理想的快门应具备以下特征:
  1. 完美的发射体/吸收体(发射率接近1,反射率接近0,漫反射,温度均匀性完美)
  2. 使有源窗口的尺寸比传感器尺寸大几倍,以便能够将快门定位在与镜头目标之间更远的距离(更好地模拟通过镜头看到的均匀目标),
  3. 切换时间对于人类观察者来说是不可察觉的(低于约20毫秒)。
一些热像仪的高级制造商使用定制的快门,几乎满足这些要求。
后一种改进尤为重要,因为这种快门使得能够开发新一代快门热像仪,它们具有快门的优点(近乎完美地校正空间噪声),同时避免了老式快门技术的典型缺点(热像仪的人眼可察觉的非工作期)。

7. 图像增强方法

图像增强是一个广泛的术语,指的是覆盖所有电光成像技术的图像改进方法。因此,在这一主题上有大量科学文献,这并不令人意外。
在过去的五十年里,可能已发表了数万篇关于这一主题的科学论文。仅 SPIE 数字图书馆,使用"图像增强"作为关键词就能搜索出超过 10000 个结果。
然而,即使是粗略分析这类文献,也能很快发现没有一个标准化的图像增强术语定义。
在作者看来,最通用的解决方案可能是将图像增强定义为对任何图像(任何光谱波段、静态或动态视频、数字或模拟、任何图像分辨率、任何图像动态)进行改进的任何过程,以实现一系列不同的目标:使图像在视觉上更加吸引人、降低噪声、减少模糊、改善对比度、提高场景均匀性、突出有趣的细节等。进一步来说,同一术语"图像增强"既指静态图像的无限时间图像增强过程(使用 PC 软件编辑记录的位图/视频),也指通过快速图像处理器(微控制器、DSP、FPGA)对原始视频图像进行实时图像增强,这些处理器被用于不同的视频成像设备,包括热成像仪。
图像增强方法通常是为改善由 VNIR 相机生成的图像而开发的。这些相机使用 CMOS 传感器,与红外 FPA 传感器的图像相比,可以生成相对较好的原始视频图像。
后者的传感器生成具有许多缺陷的原始图像:
  1. 大量的坏点,
  2.   高空间噪声,
  3. 图像像素数量低,
  4.   中等清晰度,
  5.   低对比度。
因此,在热成像仪的设计中,某些图像增强是必不可少的解决方案。使用先进和有效的图像增强方法,可能是专业设计团队的最佳指标。
即使是初学团队也可以购买好的红外焦平面阵列传感器、红外光学器件,并开发可工作的焦平面阵列控制器。
然而,这样的团队极不可能开发出能将噪声大、低分辨率、低对比度的图像转换为几乎无噪声、高分辨率、高对比度/最佳亮度的高质量图像的先进软件,该图像质量可与可见光近红外相机相媲美。
热像仪执行的图像增强主要有三项任务:
  1. 热成像仪生成的视频图像中空间噪声的减少,
  2. 盲点的校正,
  3. 成像仪温度跨度的调节,
  4. 热成像仪生成的视频图像的分辨率/清晰度提升。
前两项任务是强制性活动。红外焦平面阵列传感器(尤其是非制冷传感器)生成的典型原始视频图像噪声非常大,因此没有噪声校正的热成像仪不适合用于监视和测量应用。
此外,红外焦平面阵列传感器生成的原始图像对比度非常低,无法直接在标准的8位电子显示器上呈现。
因此,需要通过调节成像仪的温度跨度来对此类成像仪的对比度和亮度进行一些调节。
第三项任务是可选活动,仅在最先进的热成像仪中使用。

7.1 空间噪声的降低

热成像图像生成的视频图像中存在两种类型的噪声:
  1.   时间噪声,
  2.   空间噪声。
时间噪声由光学信号传入红外焦平面阵列(FPA)传感器的时间随机过程,以及该信号向电信号的随机转换和进一步处理而产生。空间噪声
主要由红外焦平面阵列传感器中像素偏移/增益不均匀引起。电子模块也会增加一些空间噪声。在非制冷热成像仪的情况下,空间噪声尤其强烈,远远超过时间噪声。
时间噪声通常由 NETD 参数表征;空间噪声则由 FPN(高频空间噪声)和 NU(低频空间噪声)表征。
如果无法降低图像帧率(或者很难校正时间噪声),则时间噪声无法减少。然而,空间噪声在时间上不会发生变化(至少在短时间间隔内不会)。
它无法通过帧平均来减少,但可以使用一系列其他方法进行校正。
热像仪空间噪声校正最常用的方法基于两阶段标定的概念:
  1. 很少重复的两点非均匀性校正(NUC)操作用于校正热像机核心的增益(并部分校正偏移),
  2. 频繁重复的单点非均匀性校正用于校正红外焦平面阵列(IR FPA)传感器的时间偏移波动。
在第一阶段,热成像仪以短时间间隔捕获两个黑体在两个显著不同温度(例如环境温度和更高温度 30 C 30 C 30^(@)C30^{\circ} \mathrm{C} )下的视频图像。对这两个视频图像的比较分析使得可以计算数学模型,从而校正红外焦平面阵列传感器的非均匀增益和非均匀偏移(图 19)。
这种校准在热成像仪的最终制造阶段进行,在设备的使用寿命期间很少重复。
两点非均匀性校准通常是通过将被测试的成像仪移动到两个模拟不同温度均匀目标的区域黑体之间来完成(图20)。
这种解决方案通常用于缩短成像仪"看到"两个不同温度黑体的时间间隔。
这个两点非均匀性校正(NUC)校准组可以被单个黑体替代,但风险在于黑体改变温度所需的时间内,被测热像仪的噪声将会改变,从而导致两点 NUC 操作的结果变得不正确。
图 19. 示例图像:a) 红外焦平面阵列传感器的原始图像,b) 经过两点 NUC 后的热像仪图像(去除盲元并减少空间噪声)
图20. 用于热像仪两点非均匀性校正的专用设备照片
两点 NUC 操作使得可以计算增益和偏移校正表,从而能够减少这两种效应。
然而,偏置非均匀性在时间上是不稳定的,因此热成像仪必须周期性地捕获其快门的图像,以模拟一个均匀的目标(对于无快门成像仪无效)。快门可以旋转并暂时遮挡热成像仪的视场。
通过这种方式,快门模拟了一个均匀且接近环境温度的大目标。这种目标的图像用于开发红外焦平面阵列图像传感器非均匀偏置的时间变化校正。
将外部两点非均匀性校准与使用成像仪快门周期性重复的一点非均匀性校准相结合,形成了一种低成本、极其高效的降低热成像仪空间噪声的方法。
如果在从 40 C 40 C -40^(@)C-40^{\circ} \mathrm{C} 到超过 + 60 C + 60 C +60^(@)C+60^{\circ} \mathrm{C} 的多个环境温度下进行两点非均匀性校准(在温度箱中进行测试),则可以设计出在任何工作条件(环境温度)下都能生成低空间噪声热图像的热成像仪。
当 FPN 参数低于 NETD 参数时,这是空间噪声低水平的良好指标。
快门式热成像仪的缺点在于快门会使成像设备在一段时间内失明(在老式热成像仪中可长达1秒)。
在某些热成像仪应用中,这种情况是不可接受的(例如用于防空系统的军用热成像仪)。因此,无快门热成像技术应运而生。
无快门热成像仪是指没有机械快门,而是通过先进的图像处理/增强软件来校正成像器空间噪声的成像设备。
已经开发出一系列不同的无快门偏移噪声校正算法[81-84]。市场上提供的热成像仪中,很大一部分是无快门热成像仪。
然而,作者的个人经验表明,截至目前,无快门热像仪无法像具有快门的热像仪那样实现空间噪声的校正。
固定图案噪声(FPN)参数在无快门热像仪中通常更为明显,尤其是当热像仪在极端温度下工作时。此外,无快门热像仪倾向于在点光源周围产生一些图像伪影。
因此,作者个人更倾向于使用改进的高速快门方法。在这种方法中,快门仅在视场(FOV)中短暂阻挡(通常低于 30 毫秒)。
这种短暂的时间盲区通常在需要监视动态目标的应用中是可以接受的。
总而言之,空间噪声校正可以通过基于成像仪校准、场景分析或深度学习算法的一系列长方法来实现[13]。
然而,到目前为止,最流行和最有效的方法是基于两点 NUC 操作和使用机械快门的周期性重复单点 NUC 操作的成像仪校准概念。

7.2 盲点校正

盲点(坏点)是描述红外焦平面阵列传感器缺陷像素的常用术语。大多数盲点在红外焦平面阵列传感器生成的原始图像中表现为高对比度的像素大小斑点,但盲点也可能形成簇(相邻盲点的组)。
盲像素通常在输出图像中表现为黑点,但有时也会出现亮点。
红外焦平面阵列(IR FPA)传感器的像素根据不恰当的响应性通常可分为两类[85]:
  1. 死像素(低响应像素)- 响应性远低于平均像素响应性的像素(例如精度标准:低于平均响应性的某个水平),
  2. 过热像素(高响应像素)- 响应性远高于平均像素响应性的像素(例如与平均响应性相比)。
    像素也可以根据噪声过高或偏置过高/过低的标准被分类为盲点,但不当的响应性通常是主要标准。
绝大多数盲点的位置和属性随时间不会改变(固定盲点)。但是,还有一些像素(称为瞬态或可变盲点)可以随时间改变位置和属性(响应性、偏置、噪声)。
此外,随时间推移还可能出现新的盲点。
盲点的数量取决于传感器制造商声明的红外焦平面阵列(IR FPA)传感器的可操作性。可操作性被定义为从所有像素中有效(非盲)像素的百分比,并且可以
大约从 99 % 99 % 99%99 \% 99.9 % 99.9 % 99.9%99.9 \% 不等。即使在后一种高可操作性红外焦平面阵列传感器中,红外焦平面阵列传感器的盲点也是明显的、恼人的,并且必须进行校正。盲点通常使用两阶段过程进行校正:
  1. 确定盲点的位置,
  2. 用模仿正常工作像素的替代信号替换盲点信号。
确定盲点位置的方法根据热像仪的类型而异:
  1.   带快门热像仪
  2. 无快门热像仪
带快门热像仪的盲点像素通过两个阶段确定。
首先,在典型的两点非均匀性校正(NUC)操作期间,对校准热像仪的所有像素的响应性/偏移/噪声进行精确测量,从而罕见地准确检测盲点像素组(主要是固定像素)[85-86]。
其次,在进行一次均匀目标方法的快门非均匀性校正(NUC)期间,经常会粗略检测盲点(包括新的瞬变像素)(被认为是盲点的像素是指产生的信号与平均信号显著不同的像素)。
无快门热成像仪中的盲点是通过基于场景的方法检测的,该方法基于这样一个假设:即使在非均匀场景中,相邻像素也应该表现相似。因此,比较它们的响应可用于检测异常行为。
通常使用相邻像素的中值作为检测盲点的准则[87],但也存在许多不同的详细方法[88,89]。
有时,不是使用相邻像素,而是使用检测器或跟踪目标在视场中的移动。当连续快速捕获帧时,可以合理地假设观察到的场景或物体是不变的。
该算法根据运动方向比较像素的响应[90]。
对于基于场景的方法,一些场景非均匀性是可以接受的,但无论如何,在准均匀背景的情况下,该方法可以工作得更好。因此,常用光学散焦来模糊由经过校准的热成像仪生成的图像。
此外,为了模拟不同的背景温度(检查信号传输的能力),可以改变制冷型热成像仪的曝光时间[91]。
最后,可以使用一系列方法用替代信号替换检测到的盲点像素。
这些方法的示例包括:像素复制法、空间滤波法、中值滤波法、时域估计法以及这些方法的组合[92]。
相同的替代方法可以用于替换快门热像仪和无快门热像仪中的盲点像素。
盲点像素现象可以被视为热像仪空间噪声(固定图案噪声)的一种极端形式,该噪声会产生极强的固定图案噪声(非常低或非常高的输出信号)。
因此,校正盲点的任务通常与前面讨论过的典型空间噪声抑制任务相结合。
具体来说,从数学角度看,盲点校正通常首先进行,随后进行降低空间噪声的图像处理。

7.3 成像仪温度跨度调节

对于用于非接触温度测量的测量型热成像仪,成像仪温度跨度是指可以使用色彩调色板测量和可视化呈现的目标温度范围。
如果这些温度不在指定范围内,这些温度信息将丢失,并被标记为黑色或白色。
对于主导市场的典型监控热成像仪来说,其成像温度范围的精确值并不为人所知,因为它们并不需要,但无论如何,热成像仪的温度范围仍然是受控的,这个概念有助于解释输出热视频图像的对比度/亮度调节。
用于监控应用的典型热成像仪,预期能够生成目标的图像,这些目标的温度差异从约 10 C 10 C -10^(@)C-10^{\circ} \mathrm{C} 摄氏度到约 + 80 C + 80 C +80^(@)C+80^{\circ} \mathrm{C} ,位于环境温度约 40 C 40 C -40^(@)C-40^{\circ} \mathrm{C} 到约 + 70 C + 70 C +70^(@)C+70^{\circ} \mathrm{C} 的背景中。这意味着要可视化的目标温度可以从约 50 C 50 C -50^(@)C-50^{\circ} \mathrm{C} 变化到超过 + 150 C + 150 C +150^(@)C+150^{\circ} \mathrm{C} (目标温度范围在 200 C 200 C 200^(@)C200^{\circ} \mathrm{C} 水平)。
与此同时,应该注意的是,现代热成像仪的温度分辨率对于非制冷成像仪约为 40 mK,对于制冷成像仪约为 20 mK。
这意味着热成像仪预期能够捕获和处理具有巨大动态范围的辐射图像,其大致等于之前提到的工作温度范围与热成像仪温度分辨率的比值(对于非制冷热成像仪约为10000的动态范围,对于制冷热成像仪约为20000)。
热成像仪的动态范围实际上必须更高,原因有两点:
  1. 模数转换器的数字电平必须至少比模拟噪声(温度分辨率)小两倍,
  2. 温度和辐射强度之间的关系实际上是非线性的(特别是对于 MWIR 光谱波段)。
    同时还应记住,热像仪要在8位动态的模拟/数字显示器上生成电子图像(典型模拟输出图像的动态范围大致相同)。
将高动态输入辐射图像显示在低动态显示器上的问题,可以通过调节要可视化的热像仪温度范围来解决。具体可以通过两种主要的调节方式实现:
  1. 对比度调节(调节热像仪温度范围的宽度),
  2. 亮度调节(调节热像仪工作范围的平均温度)。
目的通常是使用覆盖图像视场(FOV)中所有目标温度的成像器温度跨度。如果不满足此要求,则可能会丢失这些目标的某些信息(图 21)。
图 21. 使用同一热成像仪在不同输出图像设置下获得的单个士兵图像:a)最佳对比度/亮度,b)对比度过高,c)对比度过低,d)亮度过高,e)亮度过低
热成像仪软件通常提供手动、半自动和自动对比度/亮度设置调节。具体来说,热成像仪可以工作在四种对比度/亮度调节模式:
  1. 手动调节对比度/亮度:可以设置任意宽度和位置的成像器温度跨度,
  2. 自动对比度但手动亮度:成像仪温度范围的宽度已优化,以覆盖所有目标温度,但平均跨度温度可能不是最优的(与目标平均温度不同)
  3. 手动对比度但自动亮度:平均跨度温度是最优的(等于目标平均温度),但成像仪温度范围的宽度可能不是最优的(与目标温度跨度宽度不同)
  4. 自动对比度和自动亮度:成像仪跨度的宽度和平均温度都是最优的
    从技术上讲,对比度/亮度调节是通过热像仪核心图像处理链的四个阶段的增益/偏移调节来实现的:
  5. 辐射测量增益:调节红外焦平面阵列(IR FPA)的积分时间 - 仅对光子型红外焦平面阵列传感器有效,
  6. 电气增益/偏移:调节模数转换器(ADC)前置放大器的增益/偏移,
  7. 输入 ADC 偏移/范围选择:调节待数字化的模拟信号的范围(宽度/平均电平),
  8. 输出 ADC 偏移/范围选择:调节待作为最终输出图像呈现的数字信号的范围(宽度/平均电平)。
图22. 增益/偏移调节阶段
需要注意的是,相同的效果(对比度/亮度变化)可以通过不同的调节方式实现。因此,热像仪软件通常提供使用多个按钮进行对比度/亮度调节,而实际方法因不同热像仪而异。
然而,增益/偏移调节阶段的基本规则如图22所示。

7.4 图像质量改进方法

自热成像技术在1970年代末期出现以来,人们就对由热像仪生成的图像质量改进(增强)产生了一些兴趣[93]。
已发表了许多科学论文,提出了一系列改进此类热像仪生成图像质量的方法[94-101]。
已提出了大量图像增强方法:可变阈值区域滤波、统计差分算子、非锐化掩蔽、直方图均衡、高通滤波、与专用拉普拉斯算子的图像卷积、改进的 Canny 算法、离散余弦变换(DCT)、快速单位变换、维纳滤波、Lucy-Richardson 算法、正则化滤波、模糊逻辑、自适应算法等。
这些发表的论文都声称所提出的增强方法效果良好。通常通过展示看起来对人眼观察者更加吸引人的大型目标的增强图像来验证所提方法的有效性。
然而,这种主观的照片比较并不是评估热成像图像质量改进方法的精确标准,因为最重要的任务是检测角度较小的远距离目标。
更为重要的是,实际上并不清楚前面列出的图像增强方法中哪些已被热成像仪制造商实际应用,因为他们将此类信息视为公司机密。
因此,在本讨论的下一部分,作者将省略文献,并主要基于他在实际测试热成像仪的经验提供信息。
从用户的角度来看,热成像仪使用什么增强方法并不重要,重要的是该方法产生的效果。
作者认为,热成像图像增强方法的有效性可以通过热像仪的测量 MRTD 特性很好地描述。
具体来说,关闭增强和开启增强的热像仪的 MRTD 之间的差异,能够精确确定增强方法的实际价值。
MRTD 是热像仪最重要的特性,通常用于计算热像仪的探测、识别、识别(DRI)范围,用于评估此类热像仪。因此,更好的 MRTD 意味着更长的探测距离。
这一陈述对 MRTD 曲线的高频部分尤其适用。
从图23中我们可以看到,不同热成像仪使用的图像增强方法结果差异很大。
有些热成像仪开启图像增强会生成看起来更清晰的图像,但同时也更加噪杂,并且有效分辨率略有下降。在这种热成像仪中激活图像增强只会恶化图像的 MRTD(如图 23a 所示)。
然而,市场上有一些热成像仪采用了先进的图像增强方法,能够显著改善热成像仪的 MRTD 曲线(如图 23b 所示)。
正如在此图中所见,MRTD 在低频范围略有下降,但在高频范围有显著改善(MRTD 渐近线限制被移动了约 20 % 20 % 20%20 \% )。在这个频率范围的改善至关重要,因为热成像仪的操作范围直接取决于 MRTD 渐近线限制的位置。
图 23. 两种热成像仪的 MRTD 曲线:a) 采用性能较差的图像改善方法的成像仪,b) 采用高性能图像改善方法的成像仪
解释是,第一种成像仪使用经典的边缘增强算法,该算法显著提高了人眼感知的图像对比度。
在空间域中可以说,这种方法提高了低/中频范围的 MTF,但降低了接近奈奎斯特频率的高频范围的 MTF。
第二种成像仪采用了一种工作良好的超分辨率重建算法。这意味着该方法提高了图像分辨率并减少了图像模糊。一些使用 640 × 480 640 × 480 640 xx480640 \times 480 像素红外焦平面阵列传感器构建的先进热成像仪可以生成有效分辨率约 800 × 600 800 × 600 800 xx600800 \times 600 像素的图像。这种情况可以被视为使用超分辨率重建方法之一成功提高图像质量的示例。
总的来说,目前市场上热像仪所采用的图像质量改进方法尚不清晰。
然而,这些方法的有效性差异很大,建议通过在两种工作模式下(图像改进开启/关闭)测量 MRTD 来确定其效果。

8. 热像仪的商业细分

所有热像仪基本上都使用相同的主要部件(红外焦平面阵列传感器、焦平面阵列控制器、红外目镜、机械外壳)以及一些可选部件。
然而,根据这些模块的具体细节,最终结果可能会有很大不同,并且国际市场上提供了众多类型的热像仪。
热成像仪制造商使用不同的分类方式,以帮助潜在客户理解他们的产品供应。
在此,我们将分析 Teledyne-FLIR 的分类逻辑,该公司可能是世界上最大、最先进的热成像仪和基于热成像仪的多传感器电光系统制造商。
从公司网站[102]可以看出,热成像仪被划分为十个主要市场,并进一步细分为29个子组,其名称指示了预期的应用。通过这种方式,超过250种类型的热成像仪被分类。
表11所示的热成像仪按预期市场/应用标准的划分对潜在客户非常有用。他们首先需要确定自己代表哪个市场/应用,然后可以找到制造商为他们提供的产品。
然而,这种典型的商业划分几乎没有提供关于设计差异的精确技术信息,甚至对不同类型热成像仪的实际技术能力或性能差异也缺乏详细说明。
因此,在接下来的章节中,将提出一种基于热成像仪技术能力/设计的新划分方法。
表11. 基于市场标准的热成像仪商业划分
A. 政府和国防 1. 机载系统 2. 无人机系统 3. 陆地系统(1-固定监视,2-车载/移动系统)4. 战术解决方案(1-手持,2-武器瞄具)5. 海事系统
A. Government and defense 1. airborne systems 2. UAS (unmanned aerial systems) 3. land systems (1-fixed surveillance, 2-vehicle/mobile systems) 4. tactical solutions (1-handheld, 2-weapon sights) 5. maritime systems| A. Government and defense | | :--- | | 1. airborne systems | | 2. UAS (unmanned aerial systems) | | 3. land systems (1-fixed surveillance, 2-vehicle/mobile systems) | | 4. tactical solutions (1-handheld, 2-weapon sights) | | 5. maritime systems |
B. 工业领域 1. 手持热像仪 2. 固定热像仪 3. 气体检测摄像机 4. 无人机系统摄像机 5. FLIR 一号
B. Industrial 1. handheld thermal cameras 2. fixed thermal cameras 3. gas detection cameras 4. UAS cameras 5. FLIR one| B. Industrial | | :--- | | 1. handheld thermal cameras | | 2. fixed thermal cameras | | 3. gas detection cameras | | 4. UAS cameras | | 5. FLIR one |
C. 公共安全 1. 消防摄像机 2. 战术和执法 3. 无人机系统摄像机和套件
C. Public Safety 1. firefighting cameras 2. tactical and law enforcement 3. UAS cameras and kits| C. Public Safety | | :--- | | 1. firefighting cameras | | 2. tactical and law enforcement | | 3. UAS cameras and kits |
D. 安全 1. 热成像安全摄像机 2. 反无人机系统
D. Security 1. Thermal security cameras 2. Counter UAS| D. Security | | :--- | | 1. Thermal security cameras | | 2. Counter UAS |
E. 智能交通系统 1. 城市 2. 城际
E. Intelligent transportation systems 1. Urban 2. Inter-Urban| E. Intelligent transportation systems | | :--- | | 1. Urban | | 2. Inter-Urban |
F. 测试和测量 1. 热成像相机 2. FLIR One
F. Test and measurement 1. thermography cameras 2. FLIR One| F. Test and measurement | | :--- | | 1. thermography cameras | | 2. FLIR One |
G. 研究和开发 1. 台式测试套件 2. 高性能相机
G. Research and development 1. Bench Top Test Kits 2. high performance cameras| G. Research and development | | :--- | | 1. Bench Top Test Kits | | 2. high performance cameras |
H. 海洋 1. 固定安装摄像机 2. 手持热像仪 3. 监控系统
H. Marine 1. fixed mount cameras 2. handheld thermal cameras 3. monitoring systems| H. Marine | | :--- | | 1. fixed mount cameras | | 2. handheld thermal cameras | | 3. monitoring systems |
I. 家用和户外 1. FLIR ONE 2. 手持光学设备 3. 无人机摄像机
I. Home and outdoor 1. FLIR ONE 2. Handheld Optics 3. UAS cameras| I. Home and outdoor | | :--- | | 1. FLIR ONE | | 2. Handheld Optics | | 3. UAS cameras |
J. 原始设备制造商(OEM)相机 1. 红外相机核心和镜头 2. 汽车 3. 球面成像系统
J. OEM cameras 1. infrared camera cores and lenses 2. automotive 3. spherical imaging systems| J. OEM cameras | | :--- | | 1. infrared camera cores and lenses | | 2. automotive | | 3. spherical imaging systems |
"A. Government and defense 1. airborne systems 2. UAS (unmanned aerial systems) 3. land systems (1-fixed surveillance, 2-vehicle/mobile systems) 4. tactical solutions (1-handheld, 2-weapon sights) 5. maritime systems" "B. Industrial 1. handheld thermal cameras 2. fixed thermal cameras 3. gas detection cameras 4. UAS cameras 5. FLIR one" "C. Public Safety 1. firefighting cameras 2. tactical and law enforcement 3. UAS cameras and kits" "D. Security 1. Thermal security cameras 2. Counter UAS" "E. Intelligent transportation systems 1. Urban 2. Inter-Urban" "F. Test and measurement 1. thermography cameras 2. FLIR One" "G. Research and development 1. Bench Top Test Kits 2. high performance cameras" "H. Marine 1. fixed mount cameras 2. handheld thermal cameras 3. monitoring systems" "I. Home and outdoor 1. FLIR ONE 2. Handheld Optics 3. UAS cameras" "J. OEM cameras 1. infrared camera cores and lenses 2. automotive 3. spherical imaging systems"| A. Government and defense <br> 1. airborne systems <br> 2. UAS (unmanned aerial systems) <br> 3. land systems (1-fixed surveillance, 2-vehicle/mobile systems) <br> 4. tactical solutions (1-handheld, 2-weapon sights) <br> 5. maritime systems | B. Industrial <br> 1. handheld thermal cameras <br> 2. fixed thermal cameras <br> 3. gas detection cameras <br> 4. UAS cameras <br> 5. FLIR one | | :--- | :--- | | C. Public Safety <br> 1. firefighting cameras <br> 2. tactical and law enforcement <br> 3. UAS cameras and kits | D. Security <br> 1. Thermal security cameras <br> 2. Counter UAS | | E. Intelligent transportation systems <br> 1. Urban <br> 2. Inter-Urban | F. Test and measurement <br> 1. thermography cameras <br> 2. FLIR One | | G. Research and development <br> 1. Bench Top Test Kits <br> 2. high performance cameras | H. Marine <br> 1. fixed mount cameras <br> 2. handheld thermal cameras <br> 3. monitoring systems | | I. Home and outdoor <br> 1. FLIR ONE <br> 2. Handheld Optics <br> 3. UAS cameras | J. OEM cameras <br> 1. infrared camera cores and lenses <br> 2. automotive <br> 3. spherical imaging systems |

9. 热成像仪的技术分类

市场上提供的热成像仪因其成像能力和设计的相互关联而存在很大差异。用于划分热成像仪市场的商业标准令人困惑。
因此,建议通过使用七个精确的技术标准(表12)对热成像仪市场进行技术审查。以这种方式划分的热成像仪将在后续章节中详细讨论。
表12. 根据成像仪性能的热成像仪技术划分标准
  序号   标准   划分
1   图像传感器冷却   1)制冷型,2)非制冷型
2   成像器光谱波段   1)中波红外,2)长波红外
3   辐射测量校准 1)非辐射测量热成像仪(监控/军事成像仪)2)辐射测量热成像仪(工业/测量成像仪)
4 输出图像形式 1)光学输出图像 2)电子输出图像及其额外细分
5   工作距离范围 1)超短距,2)极短距,3)短距,4)中距,5)长距,6)超长距,7)极长距成像仪
6 辐射测量能力
1)热成像摄像机 2)气体成像摄像机 3)消防摄像机
1) Thermography cameras 2) Gas imaging cameras 3) Firefighting cameras| 1) Thermography cameras | | :--- | | 2) Gas imaging cameras | | 3) Firefighting cameras |
7 与成像/激光传感器的集成
1)独立热成像仪,2)带有简单激光工具的热成像仪,3)多成像/激光系统
1)Independent thermal imagers, 2)Thermal imagers with simple laser tools, 3)Multi imaging/laser systems| 1)Independent thermal imagers, | | :--- | | 2)Thermal imagers with simple laser tools, | | 3)Multi imaging/laser systems |
No Criterion Division 1 Image sensor cooling 1)Cooled, 2)Uncooled 2 Imager spectral band 1)MWIR, 2)LWIR 3 Radiometric calibration 1)Non-radiometric thermal imagers (surveillance/military imagers), 2)Radiometric thermal imagers (industrial/measurement imagers) 4 Form of output image 1)optical output image 2)electronic output image and additional subdivision 5 Operational range 1)Ultra short, 2)Very short, 3)Short, 4)Medium, 5)Long, 6)Very long, 7)Ultra long imagers. 6 Radiometric measurement capabilities "1) Thermography cameras 2) Gas imaging cameras 3) Firefighting cameras" 7 Integration with imaging/laser sensors "1)Independent thermal imagers, 2)Thermal imagers with simple laser tools, 3)Multi imaging/laser systems"| No | Criterion | Division | | :--- | :--- | :--- | | 1 | Image sensor cooling | 1)Cooled, 2)Uncooled | | 2 | Imager spectral band | 1)MWIR, 2)LWIR | | 3 | Radiometric calibration | 1)Non-radiometric thermal imagers (surveillance/military imagers), 2)Radiometric thermal imagers (industrial/measurement imagers) | | 4 | Form of output image | 1)optical output image 2)electronic output image and additional subdivision | | 5 | Operational range | 1)Ultra short, 2)Very short, 3)Short, 4)Medium, 5)Long, 6)Very long, 7)Ultra long imagers. | | 6 | Radiometric measurement capabilities | 1) Thermography cameras <br> 2) Gas imaging cameras <br> 3) Firefighting cameras | | 7 | Integration with imaging/laser sensors | 1)Independent thermal imagers, <br> 2)Thermal imagers with simple laser tools, <br> 3)Multi imaging/laser systems |

  9.1 传感器冷却

图像传感器的冷却可能是科学文献、制造商网站、教育网站等中用于划分热像仪的最常见标准。
具体来说,有些制造商不使用第8节中介绍的商业市场划分,而是使用这一简单的技术标准将其产品分为两组:
  1.   制冷型热像仪/模组
  2. 非制冷型成像仪/模组。
采用这一划分标准的主要原因是,"制冷"或"非制冷"这些术语不仅决定了图像传感器的温度,还确定了图像传感器的类型、焦平面阵列控制器的类型以及成像仪光学系统的类型。
事实上,"制冷"和"非制冷"这些术语通常甚至能指示成像仪的光谱波段。
制冷成像仪采用制冷光子图像传感器,而非制冷热成像仪则使用在接近环境温度下工作的热微测辐射图像传感器。
进一步来说,由于输入信号(光子红外焦平面阵列的可变电流和非制冷红外焦平面阵列的可变电阻)、传感器控制以及图像处理/增强的不同,制冷成像仪需要不同的焦平面阵列控制器。
最后,两种热成像仪使用的光学系统的 F 数(焦距与直径的比值)通常存在很大差异。这些技术差异还导致有效监视范围的显著不同。
因此,基于这些根本性的差异,制冷成像仪和非制冷成像仪可以被视为完全不同的热成像仪群组。
基于市场上热成像仪数据手册的分析,可以得出四个主要结论。首先,热成像仪主要分为两大类:
  1. 使用热成像 LWIR 焦平面阵列和光圈范围在 0.9 到 1.5 之间的明亮光学系统的非制冷 LWIR 成像仪;
  2. 使用光子 MWIR 焦平面阵列和光圈范围在 3 到 5.5 之间的暗光学系统的制冷 MWIR 成像仪。
使用光子 LWIR 焦平面阵列和光圈范围在 2 到 3 之间的光学系统的制冷 LWIR 成像仪的制造数量远低于制冷 MWIR 成像仪。
由于中等地球温度目标在中红外波段发射的红外辐射极少,导致热分辨率较差,目前非制冷 MWIR 成像仪尚未在监控热成像仪市场上使用。
其次,这两种成像仪的温度分辨率存在一些差异,但差异并不很大:
  1. 非制冷热像仪:NETD 范围从 30 mK 到 70 mK
  2. 制冷的 MWIR 成像仪:NETD 范围从约 10 mK 到约 30 mK
第三,使用焦距约 200 mm 的目镜的非制冷 LWIR 热像仪主导短/中程热像仪市场,而使用焦距达 1000 mm(或更多)的制冷 MWIR 热像仪主导长程热像仪市场。
让我们找出造成这种市场现状的原因、逻辑和设计规则。具体来说,让我们找出以下问题的答案。
  1. 为什么非制冷 LWIR 成像仪的温度分辨率 NETD 相差如此之小,尽管众所周知,制冷 MWIR 焦平面阵列的探测能力比非制冷 LWIR 焦平面阵列的探测能力高几个数量级?
  2. 为什么非制冷 LWIR 成像仪主导了短距离成像市场,但却不用于长距离监视?
  3. 为什么与制冷 MWIR 成像仪相比,制冷 LWIR 成像仪很少使用?
  4. 为什么非制冷的中波红外成像仪没有被用于监控应用市场,而在某些工业应用中却被使用?
  5. 为什么非制冷的长波红外成像仪采用明亮光学系统(F 数在 0.9 至 1.5 范围内),而制冷的中波红外成像仪使用暗光学系统(F 数在 3-5.5 范围内)?
    非制冷热电堆焦平面阵列的探测能力约为 2 × 10 8 cm Hz 0.5 W 2 × 10 8 cm Hz 0.5 W 2xx10^(8)cmHz^(0.5)W2 \times 10^{8} \mathrm{~cm} \mathrm{~Hz}{ }^{0.5} \mathrm{~W} ,比制冷的光子中波红外焦平面阵列探测能力约 1 × 10 11 cm Hz 0.5 1 × 10 11 cm Hz 0.5 1xx10^(11)cmHz^(0.5)1 \times 10^{11} \mathrm{~cm} \mathrm{~Hz}{ }^{0.5} 低 500 倍。然而,正如之前所述,非制冷长波红外热成像仪的温度分辨率 NETD 仅比制冷中波红外热成像仪的 NETD 差约两倍。
这种看似不合逻辑的情况源于三个主要原因。首先,典型地球温度(300 K)的物体在现代中波红外成像仪的典型波段( 3.7 μ m 3.7 μ m 3.7 mum3.7 \mu \mathrm{~m} 4.8 μ m 4.8 μ m 4.8 mum4.8 \mu \mathrm{~m} )的差分辐射强度,与长波红外波段( 8 μ m 8 μ m 8mum8 \mu \mathrm{~m} 12 μ m 12 μ m 12 mum12 \mu \mathrm{~m} )的差分辐射强度相比要低得多。具体而言,这个比率超过约 13.5 倍。
其次,非制冷热像仪采用超高亮度光学系统(F 数接近 1),而制冷热像仪则使用更暗的光学系统(F 数约为 4)。
这种光学系统亮度的差异使非制冷热像仪的 NETD(噪声等效温差)提高了约 13 倍(非制冷成像仪的温度分辨率 NETD 与光学系统 F 数的平方成正比)。
第三,非制冷红外焦平面阵列(FPA)传感器信号的积分时间通常比制冷中波红外(MWIR)FPA 的信号积分时间长得多。
详细来说,NETD 与积分时间的平方根成反比,4 倍更长的积分时间可以将 NETD 降低约 2 倍。
这些论据解释了为什么最好的非制冷长波红外成像仪的 NETD 几乎与制冷中波红外成像仪的 NETD 一样好。
现在让我们找出原因,为什么即便两种类型的 NETD 非常相似,非制冷长波红外成像仪仍未在长距离成像仪市场上占据主导地位,而该市场目前由中波红外成像仪主导。
只有使用具有长焦距光学系统的成像仪,能够生成低角度尺寸像素的图像,才能实现对人体目标的远程监视。
可以使用约翰逊探测准则估算(等效方形目标的角度尺寸是图像像素尺寸的两倍),使用 17 μ m 17 μ m 17 mum17 \mu \mathrm{~m} 像素焦平面阵列(大多数非制冷长波红外成像仪的典型像素尺寸)建造的非制冷 LWIR 成像仪,只有当光学系统焦距约为 350 mm 时,才能在 10 公里距离探测到人体目标(等效方形尺寸为 0.95 m)。
实际上,如果要在计算模型中包括大气衰减,则需要更长的焦距。此外,需要注意的是,对于大多数监视任务来说,变焦目镜(或可变视场目镜)是必需的。
从技术上讲,开发最大焦距超过 350 mm 的 LWIR 变焦目镜没有问题。然而,为了将成像仪温度分辨率 NETD 保持在合理的低水平,
需要使用 F 数低于约 1.5(最好低于 1.2)的明亮光学系统。这意味着需要开发口径超过 233 mm(实际上是口径超过约 250 mm)的长距离非制冷成像仪的光学镜头。
问题在于主要制造商的典型供应中没有这种巨大的 LWIR 目镜[73]。造成这种情况的主要原因有两个。
首先,由于材料价格(通常是锗)和大型透镜抛光成本高昂,大型 LWIR 光学系统的制造成本非常高。
其次是来自中波红外成像仪的竞争,它们可以使用高 F 数(从约 3.5 到约 5.5)的暗光学系统。这意味着对于制冷中波红外成像仪的光学系统可以比同等焦距的非制冷长波红外成像仪的光学系统便宜得多,因为在前一种情况下光圈尺寸要小几倍。
因此,由于光学系统制造成本高昂,长距离长波红外成像仪在经济上是不合理的(图24)。
图 24. 使用 640 × 480 640 × 480 640 xx480640 \times 480 焦平面阵列传感器和暗 F4 15 倍变焦光学系统的中波红外制冷热成像仪,以及使用 640x480 焦平面阵列传感器和明亮 F1.2 5 倍变焦光学系统的长波红外非制冷热成像仪的成本粗略估算
大范围非制冷长波红外成像仪将是体积和重量巨大的系统。
因此,尽管对这类成像仪有巨大需求,但实际上几乎没有光学焦距超过 250 mm 的非制冷远程成像仪,这主要是因为非制冷成像仪具有更好的可靠性(更长的使用寿命)。不过,这一规则也有一些例外(如图 25)。
十年前,伊朗电子工业公司(IEI)制造的 Sadad 102 热成像仪可以被视为罕见的远程非制冷热成像仪案例,当时伊朗对制冷型红外焦平面阵列技术的获取渠道十分有限。
这是一个笨重且昂贵的系统,但据认为它是叙利亚战争中一个有效的成像系统。这是一个很好的视觉示例,展示了如果无法获得制冷热成像技术可能会出现的情况。
图 25. 两台作战距离相似的远程热成像仪照片 a)伊朗电子工业公司生产的非制冷型 Sadad 102 热成像仪[103],b)泰利丹-FLIR 公司生产的制冷型 Ranger HDC

9.2 成像仪光谱波段

这是划分热成像仪的第二个常用标准。尽管这个标准非常流行,但实际上它对成像仪的性能提供了很少的信息。
从逻辑上讲,热成像仪的光谱波段(实际上是图像传感器和成像仪光学系统的光谱波段)必须与所谓的大气窗口(大气高透射率的光谱波段)相同。
几十年来人们都知道,在所谓的"热红外范围"中存在两个大气窗口,其中以典型地球温度目标发射的热辐射为主:MWIR 窗口约从 3 μ m 3 μ m 3mum3 \mu \mathrm{~m} 到约 5 μ m 5 μ m 5mum5 \mu \mathrm{~m} ,以及 LWIR 窗口约从 8 μ m 8 μ m 8mum8 \mu \mathrm{~m} 到约 12 μ m 12 μ m 12 mum12 \mu \mathrm{~m} 。因此,按照光谱波段的标准,热成像仪自然被划分为两种类型:中波 MWIR 系统和长波 LWIR 系统。不过,这两种热成像仪的光谱波段精确边界有所不同:MWIR 成像仪( 3 5 μ m , 3.7 4.8 μ m 3 5 μ m , 3.7 4.8 μ m 3-5mum,3.7-4.8 mum3-5 \mu \mathrm{~m}, 3.7-4.8 \mu \mathrm{~m} 2.7 5.3 μ m , 3.4 4.2 μ m ) 2.7 5.3 μ m , 3.4 4.2 μ m ) 2.7-5.3mum,3.4-4.2mum)2.7-5.3 ~ \mu \mathrm{~m}, 3.4-4.2 ~ \mu \mathrm{~m}) )和 LWIR 成像仪( 7.7 9.5 μ m , 8 10.4 μ m , 8 12 μ m , 8 14 μ m 7.7 9.5 μ m , 8 10.4 μ m , 8 12 μ m , 8 14 μ m 7.7-9.5mum,8-10.4mum,8-12mum,8-14mum7.7-9.5 ~ \mu \mathrm{~m}, 8-10.4 ~ \mu \mathrm{~m}, 8-12 ~ \mu \mathrm{~m}, 8-14 ~ \mu \mathrm{~m} )。无论如何,将热成像仪分为 MWIR 和 LWIR 是有效的。
关于热成像仪的最佳光谱波段(LWIR 成像仪相对于 MWIR 成像仪的优势,反之亦然)的讨论已持续数十年[104-108]。
关于这个主题,已经发表了数百甚至数千篇文献,但这些众多文献得出的结论往往相互矛盾。
因此,在此仅呈现作者对这场持续不断的科学争议的实践性观点的简要总结。
在作者看来,关于热成像仪的最佳光谱波段问题,并不存在简单的是或否的答案。
答案不仅取决于大气物理学(辐射传播定律),还取决于辐射物理学(热辐射发射定律)、红外焦平面阵列传感器/红外光学技术的可用性,以及制造成本。
总的来说,热辐射的物理特性以及这种辐射在大气中的传播,出于多个原因更有利于 LWIR 热像仪。
首先,在长波红外(LWIR)波段,地球典型温度目标发出的差分辐射功率远高于中波红外(MWIR)波段发出的同等功率。位于 20 C 20 C 20^(@)C20^{\circ} \mathrm{C} 背景下的温差 1 C 1 C 1^(@)C1^{\circ} \mathrm{C} 的目标,在长波红外(LWIR)波段发出的辐射约为中波红外(MWIR)波段的 15 倍( 8 14 μ m 8 14 μ m 8-14 mum8-14 \mu \mathrm{~m} )。当同一目标位于低温背景下时,这一比率将增加到约 38 倍
20 C 20 C -20^(@)C-20^{\circ} \mathrm{C} 温度。这意味着与 MWIR 成像仪所需的红外焦平面阵列相比,使用探测率较低的红外焦平面阵列传感器也可以制造性能良好的 LWIR 成像仪。
其次,在长波红外(LWIR)波段的波长传输通常比中波红外(MWIR)波段更好。在低能见度条件下(如烟雾、雾天、下雨),这种差异会显著增大。热带地区清湿大气是个例外。
第三,长波红外(LWIR)成像仪在军事应用中还有其他优势:
  1. 长波红外(LWIR)成像仪对水面阳光反射或人工目标(太阳光泛光)的敏感性要低得多,这些反射可能会遮蔽感兴趣的目标。
  2. 长波红外(LWIR)成像仪对高温光焰的敏感性较低,可以避免输出图像部分饱和。
  3. 盲化 LWIR 成像仪更加困难,特别是当光谱波段被限制在 8 10 μ m 8 10 μ m 8-10 mum8-10 \mu \mathrm{~m} (消除大型二氧化碳激光器在 10.6 μ m 10.6 μ m 10.6 mum10.6 \mu \mathrm{~m} 发射的危险)时,这是由于缺乏便携式 LWIR 激光器。
    这些是非常重要的优势,有利于 LWIR 成像仪,并使未冷却的热 LWIR 成像仪主导了市场。
    应该注意的是,从技术上讲,制造未冷却的热 MWIR 成像仪很容易,但由于早先报告的 MWIR 波段热辐射水平明显较低,这类成像仪并未被制造。
    然而,对于使用光子红外焦平面阵列(FPAs)的热成像仪来说,LWIR 波段的优势并不那么明确,这是由于冷却 LWIR 成像仪技术的局限性。
与在 LWIR 波段工作的同类型成像仪相比,冷却光子 MWIR 成像仪有三个主要优势。
首先,冷却光子 MWIR 焦平面阵列的探测能力通常比冷却光子 LWIR 焦平面阵列高出 4-5 倍。
其次,与制造冷却 LWIR 焦平面阵列的困难和成本相比,制造冷却 MWIR 焦平面阵列在技术上更加容易且更便宜。
第三,由于波长更短(衍射效应更低),可以设计出分辨率(MTF)相同但尺寸更小的 MWIR 镜头,相较于尺寸更大的 LWIR 镜头(相同焦距但孔径约小 2.5 倍)。
这一特征使得制冷型光子中波红外成像仪在中/长距离热成像仪市场中占据主导地位(这已在第9.1节中讨论过)。

9.3 辐射测量校准

所有热成像仪都会生成一个亮度取决于辐射强度(辐射率、出射率)的热图像,并间接依赖于成像仪视场内物体的温度。
如果使用正向图像极性,则较高的辐射强度/温度意味着更亮的图像。这种关系意味着可以根据目标图像的亮度来确定目标的温度/辐射强度。
根据成像仪标定的标准,热成像仪被分为两个主要类型:
  1. 非辐射测量成像仪,
  2.   辐射测量成像仪。
第一组成像仪创建的热图像可提供关于成像仪 FOV 中目标表面辐射强度分布的一些信息,但输出亮度与目标温度/辐射强度之间的精确关系是未知的。
因此,无法通过非辐射计成像仪(典型的监控热成像仪)生成的目标图像来测量目标的辐射强度。
第二组成像仪创建经过辐射计校准的热图像。这意味着它们生成的输出图像的亮度(或颜色)根据已知关系取决于目标的温度/辐射强度。
因此,可以通过辐射计成像仪生成的目标图像来确定目标的辐射强度(通常是温度)。
非辐射计热成像仪通常会生成单色灰度图像。辐射计成像仪通常会生成彩色图像(使用不同的色彩调色板)。图像
由辐射测量成像仪生成的图像通常包含一些额外的数据(数字、刻度),这些数据使得能够估算图像中目标的辐射强度(图26)。
因此,可以通过查看输出图像来预测热像仪的类型(非辐射测量/辐射测量)。
非辐射测量热像仪主要用于军事/安全应用,通过创建被观测地面场景的相对温度分布,使得在黑暗和/或恶劣大气条件下能够观察战场,通常被称为监视成像仪。
辐射测量热像仪主要用于工业、科学和医疗行业的民用应用(主要用于非接触式温度测量)。
由于这种市场差异,非辐射测量热像仪通常看起来像军用风格的坚固产品,而辐射测量热像仪则看起来像民用照相设备(图27)。
图 26. 两种类型热像仪生成的示例图像:a) 非辐射测量成像仪生成的图像[109],b) 辐射测量成像仪生成的图像[110]
图 27. 两种在辐射校准标准上不同的热像仪照片:a) 非辐射测量的 Thermosight HIS-HD 长距离制冷型热成像瞄准镜,b) 辐射测量的 FLIR T865(均来自 Teledyne-FLIR)
从设计角度来看,辐射测量热像仪可以被视为非辐射测量热像仪的一个特殊改进版本。将典型的非辐射测量成像仪转换为辐射测量成像仪需要四个主要修改:
  1. 能够处理绝对电子信号的图像处理/增强电子设备(输出信号与绝对输入信号成正比)
  2. 辐射测量校准(测量电子信号与外部黑体温度之间的关系)
  3. 用于捕获感兴趣目标的可见光和近红外相机
  4. 特殊的辐射测量视频格式,用于记录带有辐射强度分布(通常是温度分布)信息的图像
  5. 记录观测目标静态/视频图像的能力
这些修改看起来并不重要,因为两个组都使用相同的图像传感器和红外目镜。然而,这些修改创造了完全不同的产品。
非辐射测量热像仪几乎对许多需要绝对温度测量的工业应用无用,而典型的辐射测量热像仪对长距离监控也很有限,尤其是在极端现场条件下。
因此,非辐射测量/辐射测量的划分具有至关重要的意义。

9.4 不同输出图像类型的成像仪

热成像仪有两种主要形式的输出图像:
  1.   光学输出图像,
  2. 电子输出图像。
因此,热成像仪可以分为两类:
  1.   光学输出成像仪,
  2. 电子输出成像仪。
光学输出成像仪是在其内部显示设备上生成输出光学图像的热成像仪。这种图像可以立即被人眼观察到。在大多数情况下,观察者通过光学目镜来观察图像。
电子输出成像仪(也可以称为视频热成像仪)是以电子视频图像形式生成输出图像的热成像仪。这种输出图像需要后续转换为光学图像,才能被人眼观察。
直接成像仪和视频成像仪之间的界限有时会变得模糊,因为某些光学输出成像仪也能生成电子视频信号。
然而,这第二种输出被视为备用输出,所提出的光学输出/电子输出成像仪的划分仍然基本有效。
这两类热成像仪可以进一步划分,如图28所示。应当注意,图中使用的术语是作者的建议。
这并非一个完美的解决方案,但在不同制造商使用不同名称描述基本相同的热成像仪的情况下,这是对该类热成像仪术语进行梳理的一次尝试。
图28. 根据输出图像类型对热成像仪进行分类

9.4.1 光学输出热成像仪

光学输出成像设备可以进一步分为两组(如图29所示):
  1.   热成像观察设备,
  2.   热成像瞄准具。
热成像观察设备是生成热图像并用于常规监视的光学输出热成像设备。
热成像瞄具是输出热图像并带有一些辅助瞄准标记的热像仪,其目的是用于瞄准应用(通常是为了支持射击)。
这些热像仪通常还具有特殊的机械设计(作为机械参考轴的机械导轨)。
热成像观测设备根据输出光学通道的数量进一步分为两组
  1. 热成像单筒镜(单一输出通道),
  2. 热成像双筒望远镜(双输出通道)。
热成像单筒望远镜是产生单一图像且仅供一只眼睛观察的热成像观察设备。由于设计相似,它们可以被视为与夜视单筒望远镜等同:热成像相机核心与显示屏替代了图像增强管。
热成像双筒望远镜是产生两个输出图像,供观察者两只人眼观看的热成像观察设备。
它们通常构建为具有两个输出光学通道(两个显示屏和两个目镜)但仅有一个输入光学通道(一个光学物镜和一个红外焦平面阵列传感器)的成像设备。
请注意,典型的热像仪双筒望远镜不像夜视双筒望远镜那样为人类观察者提供真正的立体视觉。
最后,热成像瞄具可以分为两组:
  1.   热成像瞄准镜,
  2.   热成像夹装式瞄具。
热成像瞄准镜是专为人眼直接通过目镜观察输出图像而优化设计的热成像瞄准具。
热成像附件是专为人眼通过望远镜瞄准具间接观察输出图像而优化设计的热成像瞄准具。
这两种热成像瞄准具(热成像瞄准镜、热成像附件)的设计都支持对小型武器进行瞄准:输出图像中的瞄准标记和特殊的机械参考机械轴。但是,由于使用方式的不同,它们在设计上存在一些差异。
从设计的角度来看,热成像附件可以被视为具有大型目镜的特殊热成像瞄准镜。此外,安装在步枪上的热成像瞄准镜的输出图像预计将直接由射手观察。
热成像夹式瞄准镜的输出图像应由通过望远镜瞄准镜间接观察。
这种结合典型望远镜瞄准镜的热成像夹式瞄准镜的间接视觉概念看似不实用,但实际上狙击手很喜欢这种设计。
图 29. 四种不同类型的光学输出成像仪照片:a) 热成像单筒望远镜:Teldyne-FLIR 公司的 Ocean Scout 320,b) 热成像双筒望远镜:PCO SA 公司的 NPL-1T,c) 热成像瞄准镜:ATN 公司的 THOR 5 XD 4-40X,d) 热成像夹式瞄准镜:Teledyne-FLIR 公司的 ThermoSight。
还应注意的是,某些光学输出热成像仪与夜视通道相结合,提供融合功能(能够呈现由热成像仪和夜视仪组合而成的单一融合图像)。
最后需要强调的是,一些辐射热像仪是具有内部显示的光学输出热像仪。然而,本节中呈现的总体划分仅限于监视热像仪。

9.4.2 电子输出热像仪

电子输出热像仪是以标准化方式生成电子信号的热像仪,该信号包含关于移动视觉图像(电子视频图像)的详细信息(如图30所示)。
与前一节讨论的光学输出热像仪不同,这些热像仪预期使用以多种不同方式连接的外部显示设备。
如第6.2.9节所阐明的,这些成像仪可以生成由大量电子视频图像标准版本组成的输出图像。
评估视频接口没有固定的规则。但是,可以推荐使用一组十二个标准来评估热成像仪中使用的不同视频接口。
  1. 接口对特定图像传感器分辨率的兼容性(某些接口如 HDMI 只能与特定分辨率的图像传感器配合;而其他接口如 CameraLink 则更加灵活,可以从任意分辨率的传感器捕获视频图像)
  2. 与无法更改的特定基础设施的兼容性(有时新的热成像仪必须与特定标准的显示设备配合,或者视频图像必须使用旧的指定电缆/连接器传输)
  3. 以兆比特/秒为单位表征视频图像快速传输能力的最大可接受带宽(通过传感器像素数量、帧率和图像位深度的乘积计算),
  4. 最大可接受电缆长度(将热成像仪连接到接收设备的最大电缆长度)
  5. 对压缩视频图像的可选支持(所有接口都支持传输未压缩的视频图像,但仅部分接口支持传输压缩视频图像)
  6. 连接器可靠性(某些连接器比其他连接器更可靠;例如,SDI 接口中使用的 BNC 连接器比 HDMI 连接器更可靠)
  7. 光纤兼容性(某些接口可以与光纤线路配合使用)
  8. 帧捕获器要求(某些接口如 CameraLink 需要帧捕获器来捕获视频图像,而 GigE、以太网 IP 等则不需要)
  9. 接收设备的市场可用性(与特定接口兼容的显示器、计算机卡)(某些接口可以直接连接到显示器)
  10. 相机电源选项/通信(某些接口不仅能传输视频图像,还能用于控制/供电成像仪)
  11. 电缆现场终端能力(某些接口使用可在现场轻松终端的电缆)
图 30. 示例性电子输出成像仪:a) 远程武器瞄准镜 ThermoSight V4000,b) MilSight® LIRC 车载瞄准镜(均来自 Teledyne-FLIR)
正如我们所见,热成像仪视频接口的评估很困难,这是由于前面讨论的一系列标准和众多视频标准版本所致。
更使情况复杂的是,还应记住存在一长串用于传输视频图像的视频压缩格式(视频编码格式)(示例格式:H.120、H.261、Motion JPEG、MPEG-1、MPEG-2、DV、H.263、MPEG-4 等诸多其他格式)。
最后,有一长串用于在计算机系统中存储数字视频数据的视频文件格式。常见的格式包括:MP4、MOV、WMV、AVI、AVCHD、FLV、F4V、SWF、MKV、WEBM、HTML5 和 MPEG-2。
视频图像通常使用压缩技术来减小文件大小。因此,视频文件格式在一定程度上与之前讨论的视频压缩格式相关。
总之,市场上提供的电子输出热成像仪因不同的视频接口、视频压缩格式和视频文件格式而呈现出较大的差异。
这种情况基本与家用或监控摄像机的情况相同。
大量的接口、视频压缩和文件记录标准对于热成像仪的设计者和用户来说是一个挑战,但同时这也是一个优势,使其能够为任何应用找到最佳解决方案。

9.5 最大监控范围

世界各地的军队都喜欢根据对军事目标的有效监控操作范围来评估热成像仪的性能。这一标准也经常用于采购招标,以描述对热成像仪的要求[111]。
监控型热成像仪的操作范围有时直接在数据手册中列出。详细来说,操作范围被定义为描述成像仪探测、识别和鉴别特定目标能力的一组距离(即 DRI 范围)。
从技术上讲,可以在实际目标测试的现场条件下确定操作范围。然而,这种方案耗时且成本高昂。
因此,热成像仪的 DRI 范围通常是使用基于热成像仪某些参数的理论模型计算得出的。
文献中已经提出了数十种计算 DRI 范围的模型/方法。此外,很自然地,DRI 范围还取决于特定目标类型(如人、坦克、卡车等)。
因此,由于缺乏明确的标准,根据探测、识别和辨认(DRI)范围标准对热像仪进行划分是困难的。然而,对监视型热像仪的性能进行一些粗略的描述是必要的。
在这种情况下,作者决定根据使用经典约翰逊模型(辨别水平为1个周期/目标)计算的人体目标探测范围来划分热像仪[112]。
这种划分热像仪的标准的主要优点在于其简单性和清晰度。
典型的人体目标 ( 1.8 × 0.5 m ) ( 1.8 × 0.5 m ) (1.8 xx0.5m)(1.8 \times 0.5 \mathrm{~m}) 可以转换为尺寸为 0.95 m 的等效方形目标,这与 1 m 近似相等。在这种情况下,使用简化约翰逊模型计算的人体目标探测范围大致等于热像仪的奈奎斯特频率:
R ( D human ) f 2 p i x = N F , R ( D  human  ) f 2 p i x = N F , R_((D-" human "))∼(f^('))/(2*pix)=NF,R_{(D-\text { human })} \sim \frac{f^{\prime}}{2 \cdot p i x}=N F,
其中 f f f^(')\mathrm{f}^{\prime} 是成像光学系统的焦距,pix 是红外焦平面阵列传感器的像素间距, N F N F NFN F 是成像仪的奈奎斯特频率,单位为线对/毫弧度。
具体而言,作者建议根据对人体目标的探测距离将热成像仪分为七组(表13):
  1.   极短距离,
  2.   很短距离,
  3.   短的,
  4.   中等的,
  5.   长的,
  6.   非常长的,
  7.   极其长。
表13. 根据工作范围(对人体目标的探测距离)划分的热像仪
  参数名称   极其短   非常短   简短   中等      非常长   超长
  距离值[公里] <0.1 <0.3 0.3-1 1-3 3-10 10-30 >30
奈奎斯特频率 [lp/mrad] <0.1 <0.3 0.3-1 1-3 3-10 10-30 >30
15μm 焦平面阵列的焦距 [mm] <3 <9 9-30 30-90 90-300 300-900 >900
水平 FOV ['] 用于 15 μ m / 640 × 512 15 μ m / 640 × 512 15 mum//640 xx51215 \mu \mathrm{~m} / 640 \times 512 焦平面阵列 >116 56.1-116 56.1-18.2 18.2-6.11 6.1-1.83 1.8-0.61 <0.61
Parameter name Extremely short Very short Short Medium Long Very long Ultra long Range value [km] <0.1 <0.3 0.3-1 1-3 3-10 10-30 >30 Nyquist frequency [lp/mrad] <0.1 <0.3 0.3-1 1-3 3-10 10-30 >30 Focal length [mm] for 15um FPA <3 <9 9-30 30-90 90-300 300-900 >900 Horizontal FOV ['] for 15 mum//640 xx512 FPA >116 56.1-116 56.1-18.2 18.2-6.11 6.1-1.83 1.8-0.61 <0.61| Parameter name | Extremely short | Very short | Short | Medium | Long | Very long | Ultra long | | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | | Range value [km] | <0.1 | <0.3 | 0.3-1 | 1-3 | 3-10 | 10-30 | >30 | | Nyquist frequency [lp/mrad] | <0.1 | <0.3 | 0.3-1 | 1-3 | 3-10 | 10-30 | >30 | | Focal length [mm] for 15um FPA | <3 | <9 | 9-30 | 30-90 | 90-300 | 300-900 | >900 | | Horizontal FOV ['] for $15 \mu \mathrm{~m} / 640 \times 512$ FPA | >116 | 56.1-116 | 56.1-18.2 | 18.2-6.11 | 6.1-1.83 | 1.8-0.61 | <0.61 |
众所周知,约翰逊模型会产生过于乐观的结果,尤其是在长距离情况下(未考虑大气传输)。
此外,应用于热成像的约翰逊模型是基于分辨率目标的条纹宽度大致等于热成像仪像素尺寸的假设。
对于老一代的大像素传感器焦平面阵列来说,这种假设是完全合理的,但对于使用小像素构建的现代热成像仪,这两个参数之间存在明显差异
焦平面阵列(例如 12 μ m 12 μ m 12 mum12 \mu \mathrm{~m} 现代非制冷热成像仪的像素)。因此,实际检测距离可能会短得多,特别是对于超长/极长距离成像仪,这是由约翰逊模型未包含的大气影响造成的。
不过,表13中呈现的划分对于根据热成像仪的距离进行初步分类仍然很有用。
公式(2)表明,探测识别距离(DRI)范围与成像仪光学系统的焦距成正比,与红外焦平面阵列传感器像素尺寸成反比。这实际上意味着要实现长距离 DRI 范围,必须使用长焦距光学系统。
然而,需要注意的是,随着像素更小的新一代焦平面阵列(FPA)传感器的出现,"长焦距"这一术语的解释会逐渐发生变化。目前, 15 μ m 15 μ m 15 mum15 \mu \mathrm{~m} 制冷型 FPA 传感器和 17 μ m 17 μ m 17 mum17 \mu \mathrm{~m} 非制冷型传感器可被视为典型解决方案,但新一代 10 μ m 10 μ m 10 mum10 \mu \mathrm{~m} 制冷型 FPA 传感器和 12 μ m 12 μ m 12 mum12 \mu \mathrm{~m} 非制冷型传感器可能在近期主导市场。
此外,热成像仪的视场角(FOV)与成像光学系统的焦距成反比,并与传感器尺寸成正比。因此,采用长焦距光学系统的远程成像仪意味着其视场角也较窄(见表 13)。
最后,(2)表明探测识别成像(DRI)范围与光学物镜孔径成反比,因为焦距与孔径的比值必须保持在较低水平(对于非制冷成像仪低于 1.5,对于制冷成像仪低于 5.5)。
这意味着为了获得更长的工作距离,必须使用尺寸更大的光学系统,最终导致成像仪的尺寸和重量也随之增大。
在9.4.1节中讨论的光学输出热成像仪通常是便携式设备,针对短/中距离应用进行了优化(在约300米至3公里的距离内进行人员探测)。如图29所示,它们在尺寸上并没有太大差异。
对于9.4.2节中讨论的电子输出热成像仪(视频热成像仪),由于应用领域更广,其操作范围从几十米到10公里以上不等,因此存在更大的差异。
因此,市场上提供的电子输出成像仪种类繁多,从重量不到0.1公斤的微型摄像机到超过30公斤的超远程成像仪(如图31所示)。
还有一个普遍适用的规律,即热成像仪的价格大约与其操作范围的平方成正比。
图 31. 不同作用距离的两种热成像仪照片:a) 超短距热成像仪:Vue Pro 336(焦距 9 mm,FOV 35 35 35^(@)35^{\circ} ),来自 Teledyne-FLIR;b) 超远距热成像仪:HeatSeekIR(可变焦距 57 825 mm 57 825 mm 57-825mm57-825 \mathrm{~mm} ),来自 Optix JSC

9.6 辐射测量能力

根据测量能力的标准,辐射热成像仪主要分为三种类型:
  1.   热成像相机,
  2. 光学气体成像热成像仪,
  3. 消防热成像摄像机

9.6.1 热像仪

热成像摄像机是专门用于非接触温度测量的辐射成像仪,能够生成与目标温度直接相关的彩色输出图像(多种彩色
通过使用数学模型(校准图表),可以理解为灰体目标的温度/发射率与由该目标生成的测量输出信号之间的关系(可以使用调色板)。
热成像相机可以分为两类[102]:
  1. 手持热成像相机,
  2. 固定热成像相机。
第一类是便携式、光学输出相机,可在内部显示生成输出图像。这些相机通常由连接到大型手持框架的热成像相机模块构建(如图 32a 所示)。
然而,它们也以看起来像照相机的外形制造(图 32b),或带有附件的智能手机(图 32c)。在所有情况下,关键的外部特征是能够用双手握持并操作。
后者这一特征产生了这类热像仪摄像机的名称。
图 32. 三种手持相机形态:a)手持帧摄像机(FLIR E86 24 24 24^(@)24^{\circ} )b)类似照相机的摄像机(FLIR T560 24 24 24^(@)24^{\circ} ),c)智能手机附件摄像机(FLIR ONE® Edge Pro)
热像仪摄像机的第二组(固定热像仪摄像机)是电子输出摄像机,以电子视频图像形式生成感兴趣场景的辐射图像。
它们本应固定(因此得名)在外部平台上,以便能够正常工作(成像感兴趣的目标)。
固定热像仪可以进一步分为两组:
  1. 针对户外监控和早期火灾检测优化的户外摄像机,
  2. 用于工业自动化和机器视觉的室内摄像机。
这两种类型的设计相似。主要区别在于户外摄像机需要外部外壳。需要注意的是,户外热成像摄像机(图 33a)在外观上与安全领域使用的热成像摄像机(图 27a)非常相似。
然而,户外热成像摄像机生成辐射测温图像,而安全热成像摄像机生成非辐射测温热图像。
其结果是,在第一种情况下,可以精确地确定目标表面的绝对温度,而在第二种情况下,仅可能对温度差进行粗略估算。
图 33. 两种类型的固定热成像摄像机:a)户外摄像机(用于户外监测和早期火灾检测的 FLIR A500f/A700f),b)室内摄像机(用于工业自动化和机器视觉的 FLIR A38/A68)

9.6.2 光学气体成像热像仪

光学气体成像(OGI)热像仪是为检测、可视化和可选的工业用不同气体泄漏分析而优化的辐射成像仪。
OGI 热像仪可用于检测、可视化和分析多种气体:烃类、挥发性有机化合物(VOC)、二氧化碳、一氧化碳、甲烷、氢氟碳化物、制冷剂、氨、六氟化硫、乙烯。
这些热像仪能生成图像,显示以与背景不同的模糊条带形式呈现的气体泄漏(图34)。
光学气体成像(OGI)成像仪与热成像仪有一些相似之处,因为它们都是辐射热成像仪。然而,从原理上讲,OGI 的工作概念与热成像仪的工作概念完全不同。
热成像仪基于通过测量目标表面发出的辐射信号来确定目标温度的概念。热成像仪的典型光谱带相对较宽(对于中波红外(MWIR)相机约为 3 5 μ m 3 5 μ m 3-5mum3-5 \mu \mathrm{~m} ,对于长波红外(LWIR)相机约为 8 12 μ m 8 12 μ m 8-12 mum8-12 \mu \mathrm{~m} ),这些波段位于所谓的大气窗口中,其中对于热成像仪典型的短工作距离,平均传输率较高。
OGI 成像仪的工作概念基于两种不同的物理现象:
  1. 气体泄漏通常与周围目标的温度不同,
  2. 对于工业感兴趣的大多数气体,在约 3 μ m 3 μ m 3mum3 \mu \mathrm{~m} 到约 15 μ m 15 μ m 15 mum15 \mu \mathrm{~m} 的光谱范围内具有窄吸收带(高发射率带)。
    这意味着经过特殊改装的热成像相机,如果具有精确匹配感兴趣气体吸收带的窄光谱带,就可以看到这种气体的泄漏。光学气体成像仪(OGI)就是以这种方式改装的热成像相机。
    表 14 展示了 OGI 成像仪用于检测和可视化不同气体的光谱带列表。然而,OGI 成像仪的设计并不像其工作原理那样简单。
表 14. OGI 热成像仪用于气体成像的不同气体吸收带
   光谱波段 [ μ m ] [ μ m ] [mum][\mu \mathrm{m}]   气体名称
1 3.2-3.4 碳氢化合物、挥发性有机化合物、甲烷
2 4.2-4.4   二氧化碳
3 4.52-4.87   一氧化碳
4 7.0-8.5   甲烷、氢氟碳化物
5 8.0-8.6   制冷剂气体、氢氟碳化物
6 10.3-10.7 氨气、六氟化硫、乙烯
No Spectral band [mum] Name of gas 1 3.2-3.4 Hydrocarbons, VOC, methane 2 4.2-4.4 Carbon dioxide 3 4.52-4.87 Carbon monoxide 4 7.0-8.5 Methane, HFCs 5 8.0-8.6 Refrigerant gases, HFCs 6 10.3-10.7 Ammonia, Sulfurhexafluoride, Ethylene| No | Spectral band $[\mu \mathrm{m}]$ | Name of gas | | :--- | :--- | :--- | | 1 | 3.2-3.4 | Hydrocarbons, VOC, methane | | 2 | 4.2-4.4 | Carbon dioxide | | 3 | 4.52-4.87 | Carbon monoxide | | 4 | 7.0-8.5 | Methane, HFCs | | 5 | 8.0-8.6 | Refrigerant gases, HFCs | | 6 | 10.3-10.7 | Ammonia, Sulfurhexafluoride, Ethylene |
图 34. 两种典型气体泄漏照片:a)碳氢化合物泄漏,b)R124 压缩泄漏[113]
由于两个主要原因,不可能通过在典型的未冷却 LWIR 热成像相机上添加典型的窄带红外滤波器来实现简单低成本的解决方案。
首先,大约一半的气体吸收带位于 MWIR 波段。其次,需要使用冷却滤波器(与冷却的红外焦平面阵列传感器集成)以消除滤波器发出的有害辐射信号。
因此,需要超高探测能力的制冷中波红外/长波红外焦平面阵列传感器,以便检测气体发出的低差分辐射信号(在窄光谱带中气体与周围目标的温度差异很小)。
由于这些原因,OGI 成像仪市场由基于光电传感器(InSb、HgCdTe、QWIP)的昂贵制冷热像仪主导(图 35a)。未制冷的低成本 OGI 仅用于要求较低的应用场景(图 35b)。
市场上提供的 OGI 相机的测试能力差异很大。所有 OGI 相机都能检测和可视化气体泄漏(相机灵敏度可能有所不同)。
然而,最先进的 OGI 相机还可以提供所谓的定量分析,即对检测到的气体泄漏进行数值表征。
实际上,这意味着这种先进的光学气体成像(OGI)摄像机能够对气体泄漏进行数值调查:确定质量泄漏率、体积泄漏率、浓度(ppm-m)以及泄漏气体的大小。
这类摄像机可能消除了使用接触式气体分析仪(EPA 方法 21)进行二次采样的需要。然而,OGI 技术尚未成熟,此类数值调查的准确性在很大程度上取决于 OGI 操作员的经验[114]。
图 35. 两种类型的 OGI 摄像机:a) 用于氢氟碳化物的制冷 OGI 摄像机(FLIR G304),b) 用于甲烷的非制冷 OGI 摄像机(FLIR GF77a)

9.6.3 消防摄像机

消防热像仪可视为专为消防应用优化的手持式热成像摄像机(在9.6.1节中讨论)。
具体来说,它们被期望能够穿透烟雾,并在消防条件下实现目标的可视化和粗略温度测量。
与典型的热成像摄像机相比,消防热像仪有两个主要特点:
  1.   坚固性
  2. 超宽温度范围。
第一个特点是指消防热像仪的制造方式使其能够耐热、防水且坚固,以承受消防作业中的各种危险。
第二个特点意味着即使在摄像机视场(FOV)内有高达 1100 C 1100 C 1100^(@)C1100^{\circ} \mathrm{C} 的超高温目标时,仍能生成人体的有用图像。
绝大多数消防热像仪是手持摄像机,如图36所示的设备。不过,有时也会使用固定在头盔上的摄像机。
消防热像仪的设计和性能详细要求可在标准:消防服务热像仪标准 NFPA 1801,2013 年版中找到。
图 36. 两种典型的消防热像仪:a) FLIR K65 NFPA 合规热成像仪 320 × 240 320 × 240 320 xx240320 \times 240 ,b) ARGUS4 HR320 消防热像仪

9.7 与其他成像/激光系统的集成

市场上的大多数热像仪都是完全独立(单机)的热像仪。然而,也有一些热像仪与其他成像/激光系统集成,以提高总系统能力。
因此,根据与其他成像/激光系统的集成标准,热像仪可分为四组(图37):
a) 独立热像仪,
b) 带有附加简单激光工具的热像仪,
c) 多成像系统。
d) 多成像/激光系统。
属于第一组的热成像仪是独立的成像设备,仅能对感兴趣的场景生成一幅热图像。
属于第二组的热成像仪配备了一些简单的激光工具(激光指示器/照明器、简单的激光测距仪),可以提供额外的功能,如精确定位、照明或短距离测距。
第二组的热成像仪在外观上与第一组的独立成像仪非常相似,因为激光工具通常体积很小。
属于第三组的热成像仪可以通过使用额外的成像系统(可见近红外相机或短波红外成像仪)在至少两个光谱波段生成图像。
属于第四组的热成像仪可以在至少两个光谱波段生成图像,并另外配备了先进的激光系统(远程激光测距仪/指示器),使其能够用于目标应用。
将热成像仪与激光/成像系统集成可以显著提高监视/目标应用中的成像/定位能力。因此,这种集成是明确的市场趋势。
多传感器成像/激光系统正变得越来越普遍,尤其是在军事市场。如今,独立的热成像仪主要面向短程便携式成像仪市场。
远程应用市场(包括机载、海上或陆地)由多传感器成像/激光系统主导。
图 37. 四种热像仪照片,根据与其他成像/激光系统集成的标准划分:a)独立热像仪,b)带简单测距仪的热瞄准镜,c)多成像系统,d)多成像/激光系统。

10. 热像仪表征基础

热像仪是复杂的系统,无法用普通语言词汇准确描述。为了精确描述,它们需要使用一系列技术参数。参数是热像仪的定量物理测量指标。
描述热像仪的参数可以分为两类:适用于任何技术设备的通用参数和热像仪特有的专用参数。
第一组参数可以进一步细分为机械参数(质量、尺寸)、电气参数(电源/电压供应)和环境参数。
后者描述了热像仪能够正常工作或可以安全存储的环境特性:工作温度范围、存储温度范围、湿度温度范围、抗振动/抗冲击性能等诸多方面。
热像仪的机械、电气和环境特性参数与大众应用电气/机械系统的相应参数并无不同。
关于这些参数的测量方法,可在众多文献中找到,此处不再赘述。我们将专注于描述热像仪设计和性能的参数测量。

10.1 热像仪表征概念

对热像仪参数的测量能提供关于这些热像仪的一些知识。这些知识在热像仪的生命周期的各个阶段都能发挥作用,能够实现不同的任务:
  1. 在研发项目期间优化热像仪的设计,
  2. 对从分包商采购的模块进行质量控制,
  3. 在制造过程中对热像仪进行质量控制,
  4. 购买热像仪时的评估
  5. 维护测试期间的质量检查,
  6. 维修过程中的计量支持。
看起来通过使用人类作为图像分析仪来评估热像仪生成的图像,似乎可以轻松地确定热像仪的性能。
因此,从理论上讲,可以在实际工作条件下(通常是野外条件)使用热成像仪,观察被测试热成像仪生成的感兴趣实际目标的图像,并基于该图像评估该成像仪的性能。
然而,在实践中,通过对实际工作条件下真实目标图像的视觉主观评估来表征/测试热成像仪的概念效果并不理想,主要有两个原因。
首先,所需的现场测试成本高、耗时,并且由于大气条件变化导致结果重复性低。
其次,人们无法通过观察形状复杂、位于非均匀背景上的实际目标图像(如图38所示的场景)精确判断热成像系统的性能。
详细来说,人眼可以精确地比较图38中同时呈现的两幅图像的质量。但是,如果两次测试之间有较长的时间间隔,人眼就很难对复杂目标的图像质量进行评估。
图 38. 同一目标的两幅不同质量的图像:a)清晰无噪声图像,b)模糊噪声图像
总的来说,由于人眼视觉的局限性和现场条件的可变性,无法仅通过在真实现场情景中生成的几个感兴趣目标的图像来恰当地评估热成像仪的性能参数。
然而,人眼可以相当精确地评估形状简单目标(4条线、边缘、圆形、狭缝、十字、方形、均匀)的图像质量。
进一步来说,在实验室条件下生成的这类简单形状目标图像,通过软件分析时,可以提供大量有价值的客观信息。
因此,热成像仪的特性表征通常是通过对实验室条件下简单形状目标图像的分析来进行的,这种分析可以是人工主观评估,也可以是软件客观评估[18-20]。
具体而言,特殊的红外图像投影仪用于将此类目标的图像投射到被测热成像仪的方向。
之后,基于对模拟目标辐射的辐射度和光度参数的了解,可以确定能精确描述被测热成像仪生成的视频图像属性的参数。
图 39. 热成像仪测试中使用的简单形状目标图像:a) 4 杆目标,b) 边缘目标(放大),c) 方形目标
测试系统测试热成像仪的任务是生成形状、尺寸和温度精确已知的某些标准静态目标的图像。
这些图像可以由测试系统投射到被测热成像仪,或直接被被测热成像仪观察。在这两种情况下,被测热成像仪都会生成原始目标图像的副本。
接下来,对被测热成像仪生成的图像进行评估,并确定被测热成像仪的重要特征。
用于在实验室条件下测试热像仪的图像投影仪,通常是一种偏轴反射准直器系统,它能投射不同图案的测试目标图像,这些目标图像被插入位于准直器焦平面的旋转轮中。
目标投射区域被区域黑体辐射。通过旋转转轮,可以快速更换待投射的目标。
图40. 测试热像仪的典型测试系统(图像投影仪)示意图
图 41. 由 6 个主要模块组成的测试热成像仪系统(来自 INFRAMET[116]的 DT150),包括:离轴反射准直器、面积黑体、目标集、个人电脑、帧捕获卡、软件
被测热像仪位于红外准直器的输出端,并观察由准直器投射的图像。测试目标与被测热像仪之间的光学距离非常短(约为准直器焦距的两倍)。
这种距离通常低于典型监视热像仪的对焦范围。
然而,由于使用准直器作为图像投影仪,成像仪"看到"目标就像它位于非常远的距离,即光学无穷远处,并且测试是模拟这种超长距离聚焦的。
可以估计, 99.9 % 99.9 % 99.9%99.9 \% 热成像仪的测试是在使用先前描述的概念的实验室条件下进行的。 0.1 % 0.1 % 0.1%0.1 \% 用于实际现场条件下的测试。使用能够在逼真背景下投射复杂热目标图像的红外场景投影仪来测试热成像仪在技术上也是可行的。
然而,红外场景模拟器的巨大成本是一个障碍,并且缺乏明确的测试规则来确定应使用哪些复杂目标来表征热成像仪的响应。

10.2 热成像仪的性能参数

热像仪性能参数的划分在文献中存在差异。最常见的是按六个组别进行划分[18-20]:
  1. 对焦和系统分辨率,
  2.   系统响应率,
  3.   系统噪声,
  4. 对比/调制/相位函数,
  5. 几何传输函数,
  6. 观察者对图像质量的解读
然而,在作者看来,需要更多参数来描述热像仪的性能,这些参数可以分为十二组(图42):
  1. 电子图像参数
  2. 主观图像质量参数
  3.   响应参数
  4. 噪声参数(包括盲像素)
  5. 调制传递函数
  6.   几何参数
  7. 对焦参数(最小对焦距离、无穷对焦、屈光度功率范围、出瞳距离、出瞳直径)
  8. 辐射测量参数
  9. 瞄准轴参数(包括双筒镜)
  10.   非热参数,
  11.   时间参数,
  12.   光谱参数。
图42. 热成像仪性能参数划分
表15中简要介绍了作为黑盒处理的热成像仪特征参数组的简短描述。
表15. 描述热成像仪特征参数组的简短定义
  序号 参数组名称 定义(该参数组传递的信息)
1 电子图像参数 热成像仪生成的电子图像的基本信息
2 主观图像质量 系统能力:热像仪-人类观察者检测/分辨不同对比度的目标
3   响应参数 热像仪对不同大小或不同温度目标的响应
4   噪声参数 限制成像仪探测低对比度目标能力的噪声现象,包括盲像素
5 MTF 正弦目标图像对比度随空间频率的衰减
6   几何参数 输出图像的几何特性
7   对焦参数 为获得最佳感知图像清晰度而操作热成像仪的最佳条件
8 辐射度量准确性参数 使用辐射热成像仪进行非接触温度测量的准确性
9   准线参数 热成像仪不同光学/机械轴之间的相对位置
10   非温度相关参数 热成像仪在不同环境工作温度下的性能稳定性信息
11   时间参数 热像仪的时间惯性
12   光谱参数 成像器相对响应度与波长的关系
No Name of group of parameters Definition (information delivered by the group) 1 Electronic image parameters Basic information on electronic image generated by thermal imager 2 Subjective image quality Ability of the system: thermal imager- human observer to detect/resolve targets of variable contrast 3 Response parameters Response of the thermal imager to variable size or variable temperature targets. 4 Noise parameters Noise phenomenon that limits imager ability detecting low contrast targets including blind pixels 5 MTF Deterioration of contrast of image of sine target with spatial frequency 6 Geometric parameters Geometrical properties of output image 7 Focus parameters Optimal conditions to operate thermal imagers to achieve best perceived image sharpness. 8 Radiometric accuracy parameters Accuracy of non-contact temperature measurement using radiometric thermal imagers 9 Boresight parameters Relative positions between different optical/mechanical axis of thermal imager 10 Athermality parameters Information on stability of performance of thermal imager versus variable ambient work temperature 11 Temporal parameters Temporal inertia of thermal imager 12 Spectral parameters Imager relative responsivity versus wavelength| No | Name of group of parameters | Definition (information delivered by the group) | | :--- | :--- | :--- | | 1 | Electronic image parameters | Basic information on electronic image generated by thermal imager | | 2 | Subjective image quality | Ability of the system: thermal imager- human observer to detect/resolve targets of variable contrast | | 3 | Response parameters | Response of the thermal imager to variable size or variable temperature targets. | | 4 | Noise parameters | Noise phenomenon that limits imager ability detecting low contrast targets including blind pixels | | 5 | MTF | Deterioration of contrast of image of sine target with spatial frequency | | 6 | Geometric parameters | Geometrical properties of output image | | 7 | Focus parameters | Optimal conditions to operate thermal imagers to achieve best perceived image sharpness. | | 8 | Radiometric accuracy parameters | Accuracy of non-contact temperature measurement using radiometric thermal imagers | | 9 | Boresight parameters | Relative positions between different optical/mechanical axis of thermal imager | | 10 | Athermality parameters | Information on stability of performance of thermal imager versus variable ambient work temperature | | 11 | Temporal parameters | Temporal inertia of thermal imager | | 12 | Spectral parameters | Imager relative responsivity versus wavelength |
表16列出了来自不同组的热成像仪的详细参数列表。
表16. 热成像仪性能参数列表
电子图像参数 1. 输出图像分辨率(像素数) 2. 帧率(每秒帧数) 3. 位深度 4. 视频接口类型
Electronic image parameters 1. Output image resolution (pixel number) 2. Frame rate (in FPS) 3. Bit depth 4. Type of video interface| Electronic image parameters | | :--- | | 1. Output image resolution (pixel number) | | 2. Frame rate (in FPS) | | 3. Bit depth | | 4. Type of video interface |
对焦参数 1. 最佳对焦 2. 无穷远对焦 3. 最小距离对焦 4. 无穷远屈光度设置 5. 屈光度功率范围 6. 出瞳直径 7. 出瞳距离
Focus parameters 1. Optimal focus 2. Infinity focus 3. Minimal distance focus 4. Infinity diopter setting 5. Diopter power range 6. Exit pupil diameter 7. Exit pupil distance| Focus parameters | | :--- | | 1. Optimal focus | | 2. Infinity focus | | 3. Minimal distance focus | | 4. Infinity diopter setting | | 5. Diopter power range | | 6. Exit pupil diameter | | 7. Exit pupil distance |
主观图像质量参数: 1. MRTD(最小可分辨温差) 2. MDTD(最小可检测温差) 3. 自动 MRTD 4. 动态 MRTD 5. TOD(三角定向识别) 6. MTDP(最小可感知温差) 7. 虚拟 MRTD
Subjective image quality parameters: 1. MRTD (minimum resolvable temperature difference) 2. MDTD(minimum detectable temperature difference) 3. Auto MRTD 4. Dynamic MRTD 5. TOD (triangle orientation discrimination) 6. MTDP (minimum temperature difference perceived) 7. Virtual MRTD| Subjective image quality parameters: | | :--- | | 1. MRTD (minimum resolvable temperature difference) | | 2. MDTD(minimum detectable temperature difference) | | 3. Auto MRTD | | 4. Dynamic MRTD | | 5. TOD (triangle orientation discrimination) | | 6. MTDP (minimum temperature difference perceived) | | 7. Virtual MRTD |
辐射精度参数 1. "精度"(最小误差) 2. NETD - 噪声等效温差(噪声生成误差) 3. 温度稳定性 4. 温度测量范围 5. 缝隙响应函数 6. 测量角分辨率
Radiometric accuracy parameters 1. "Accuracy" (Minimal Error) 2. NETD - Noise Equivalent Temperature Difference (Noise Generated Error) 3. Temperature stability 4. Temperature measurement range 5. Slit Response Function 6. Measurement angular resolution| Radiometric accuracy parameters | | :--- | | 1. "Accuracy" (Minimal Error) | | 2. NETD - Noise Equivalent Temperature Difference (Noise Generated Error) | | 3. Temperature stability | | 4. Temperature measurement range | | 5. Slit Response Function | | 6. Measurement angular resolution |
响应参数 1. 响应函数(包括信号传输函数 SiTF、线性度和动态范围) 2. ATF(非周期传输函数) 3. SRF(缝隙响应函数) 4. PVF(点可见性函数)
Response parameters 1. Response function (including signal transfer function SiTF, linearity and dynamic range) 2. ATF (aperiodic transfer function) 3. SRF (slit response function) 4. PVF (point visibility function)| Response parameters | | :--- | | 1. Response function (including signal transfer function SiTF, linearity and dynamic range) | | 2. ATF (aperiodic transfer function) | | 3. SRF (slit response function) | | 4. PVF (point visibility function) |
瞄准参数 1. 变焦 2. 对焦 3. 目镜对焦 4. 热成像仪与参考机械平面/轴 5. 夹具偏转角度 6. 热成像仪到可见光-近红外 7. 热成像仪到激光测距仪(或激光指示器)
Boresight parameters 1. Zoom through 2. Focus-through 3. Ocular focus through 4. TI to reference mechanical plane/axis 5. Deflection angle of clip-ons 6. TI to VIS-NIR 7. TI to LRF (or laser designator)| Boresight parameters | | :--- | | 1. Zoom through | | 2. Focus-through | | 3. Ocular focus through | | 4. TI to reference mechanical plane/axis | | 5. Deflection angle of clip-ons | | 6. TI to VIS-NIR | | 7. TI to LRF (or laser designator) |
噪声参数 1. NETD(噪声等效温度差) 2. FPN(固定图案噪声) 3. 非均匀性 4. 1 / f 1 / f 1//f1 / \mathrm{f} 5. 增益/偏移非均匀性 6. 3D Noise 模型(七个分量) 7. NPSD(噪声功率谱密度) 8. 盲像素
Noise parameters 1. NETD (noise equivalent temperature difference) 2. FPN ( fix pattern noise) 3. Non-uniformity 4. 1//f 5. gain/offset non-uniformities 6. 3D noise model (seven components) 7. NPSD (noise power spectral density) 8. Blind pixels| Noise parameters | | :--- | | 1. NETD (noise equivalent temperature difference) | | 2. FPN ( fix pattern noise) | | 3. Non-uniformity | | 4. $1 / \mathrm{f}$ | | 5. gain/offset non-uniformities | | 6. 3D noise model (seven components) | | 7. NPSD (noise power spectral density) | | 8. Blind pixels |
无热参数: 1. 归一化空间分辨率 2. 归一化温度分辨率
Athermality parameters: 1. Normalized spatial resolution 2. Normalized temperature resolution| Athermality parameters: | | :--- | | 1. Normalized spatial resolution | | 2. Normalized temperature resolution |
调制传递函数 1. MTF
Modulation Transfer Function 1. MTF| Modulation Transfer Function | | :--- | | 1. MTF |
时间参数 1. 时间常数 2. 有效帧率
Temporal parameters 1. Time constant 2. Effective frame rate| Temporal parameters | | :--- | | 1. Time constant | | 2. Effective frame rate |
几何参数 1. 视场 2. 畸变 3. 放大率
Geometric parameters 1. Field of view 2. Distortion 3. Magnification| Geometric parameters | | :--- | | 1. Field of view | | 2. Distortion | | 3. Magnification |
光谱参数 1. 相对光谱灵敏度
Spectral parameters 1. Relative spectral sensitivity| Spectral parameters | | :--- | | 1. Relative spectral sensitivity |
"Electronic image parameters 1. Output image resolution (pixel number) 2. Frame rate (in FPS) 3. Bit depth 4. Type of video interface" "Focus parameters 1. Optimal focus 2. Infinity focus 3. Minimal distance focus 4. Infinity diopter setting 5. Diopter power range 6. Exit pupil diameter 7. Exit pupil distance" "Subjective image quality parameters: 1. MRTD (minimum resolvable temperature difference) 2. MDTD(minimum detectable temperature difference) 3. Auto MRTD 4. Dynamic MRTD 5. TOD (triangle orientation discrimination) 6. MTDP (minimum temperature difference perceived) 7. Virtual MRTD" "Radiometric accuracy parameters 1. "Accuracy" (Minimal Error) 2. NETD - Noise Equivalent Temperature Difference (Noise Generated Error) 3. Temperature stability 4. Temperature measurement range 5. Slit Response Function 6. Measurement angular resolution" "Response parameters 1. Response function (including signal transfer function SiTF, linearity and dynamic range) 2. ATF (aperiodic transfer function) 3. SRF (slit response function) 4. PVF (point visibility function)" "Boresight parameters 1. Zoom through 2. Focus-through 3. Ocular focus through 4. TI to reference mechanical plane/axis 5. Deflection angle of clip-ons 6. TI to VIS-NIR 7. TI to LRF (or laser designator)" "Noise parameters 1. NETD (noise equivalent temperature difference) 2. FPN ( fix pattern noise) 3. Non-uniformity 4. 1//f 5. gain/offset non-uniformities 6. 3D noise model (seven components) 7. NPSD (noise power spectral density) 8. Blind pixels" "Athermality parameters: 1. Normalized spatial resolution 2. Normalized temperature resolution" "Modulation Transfer Function 1. MTF" "Temporal parameters 1. Time constant 2. Effective frame rate" "Geometric parameters 1. Field of view 2. Distortion 3. Magnification" "Spectral parameters 1. Relative spectral sensitivity"| Electronic image parameters <br> 1. Output image resolution (pixel number) <br> 2. Frame rate (in FPS) <br> 3. Bit depth <br> 4. Type of video interface | Focus parameters <br> 1. Optimal focus <br> 2. Infinity focus <br> 3. Minimal distance focus <br> 4. Infinity diopter setting <br> 5. Diopter power range <br> 6. Exit pupil diameter <br> 7. Exit pupil distance | | :--- | :--- | | Subjective image quality parameters: <br> 1. MRTD (minimum resolvable temperature difference) <br> 2. MDTD(minimum detectable temperature difference) <br> 3. Auto MRTD <br> 4. Dynamic MRTD <br> 5. TOD (triangle orientation discrimination) <br> 6. MTDP (minimum temperature difference perceived) <br> 7. Virtual MRTD | Radiometric accuracy parameters <br> 1. "Accuracy" (Minimal Error) <br> 2. NETD - Noise Equivalent Temperature Difference (Noise Generated Error) <br> 3. Temperature stability <br> 4. Temperature measurement range <br> 5. Slit Response Function <br> 6. Measurement angular resolution | | Response parameters <br> 1. Response function (including signal transfer function SiTF, linearity and dynamic range) <br> 2. ATF (aperiodic transfer function) <br> 3. SRF (slit response function) <br> 4. PVF (point visibility function) | Boresight parameters <br> 1. Zoom through <br> 2. Focus-through <br> 3. Ocular focus through <br> 4. TI to reference mechanical plane/axis <br> 5. Deflection angle of clip-ons <br> 6. TI to VIS-NIR <br> 7. TI to LRF (or laser designator) | | Noise parameters <br> 1. NETD (noise equivalent temperature difference) <br> 2. FPN ( fix pattern noise) <br> 3. Non-uniformity <br> 4. $1 / \mathrm{f}$ <br> 5. gain/offset non-uniformities <br> 6. 3D noise model (seven components) <br> 7. NPSD (noise power spectral density) <br> 8. Blind pixels | Athermality parameters: <br> 1. Normalized spatial resolution <br> 2. Normalized temperature resolution | | Modulation Transfer Function <br> 1. MTF | Temporal parameters <br> 1. Time constant <br> 2. Effective frame rate | | Geometric parameters <br> 1. Field of view <br> 2. Distortion <br> 3. Magnification | Spectral parameters <br> 1. Relative spectral sensitivity |
表16列出了50多个用于表征热像仪的参数。这些参数每一个都可以提供关于热像仪性能的一些有价值的信息。
然而,由于主题非常广泛*,本书无法详细阐述表16中列出的所有参数的详细定义和测量方法。
建议研究专门致力于热成像仪表征和测试的书籍/论文[18-20]。此后,这些参数很少被测量,
通常仅在扩展的研究开发项目中进行。热成像仪的测试通常限于测量三个参数:MRTD、NETD 和 FOV。这里将简要讨论这些最常用参数的性能。

10.3.1 MRTD

MRTD(最小可分辨温差)是一个主观参数(函数),描述了成像仪-人类系统分辨可变对比度和可变尺寸的参考目标细节的能力。
详细来说,它是指在标准4栏目标(栏长与宽度之比为7)和背景之间的最小温差,该温差使观察者能够在给定空间频率下分辨出目标的热图像。
空间频率被理解为4栏目标中一对栏的反角尺寸。
MRTD 通常通过人工分析可变温差的 4 栏目标图像来测量(图 43-44)。观察者的任务通常是找出对于给定空间频率的目标,他仍能分辨栏的最小温差。
他应该能看到全部四个栏,尽管并非始终需要同时看到所有栏。通过对一系列温差值进行实验,可以确定最佳温差(MRTD 值)。
对于正对比和负对比的4杆目标,均进行该程序并计算平均值。随后,对其他4杆目标(空间频率)重复该程序。
建议在 5-6 个空间频率下测量 MRTD 以准确确定 MRTD 函数。如果热成像仪工作于多个 FOV,则应为每个 FOV 重复测试。
图 43. 由 NETD 为 52 mK 的非制冷热成像仪生成的同一大型 4 杆目标在三个温差下的图像(a) 80 mK , b 80 mK , b 80mK,b80 \mathrm{mK}, \mathrm{b} 40 mK , c ) 20 mK 40 mK , c ) 20 mK 40mK,c)20mK-40 \mathrm{mK}, \mathrm{c}) 20 \mathrm{mK}- 不可分辨)
图 44. 由奈奎斯特频率的热成像仪在温差 500 mK 下生成的三个不同空间频率的小型 4 杆目标(a)0.6 线对/毫弧分,b) 1.1 lp / mrad , c ) 1.2 1.1 lp / mrad , c ) 1.2 1.1lp//mrad,c)1.21.1 \mathrm{lp} / \mathrm{mrad}, \mathrm{c}) 1.2 lp / mrad lp / mrad lp//mrad-\mathrm{lp} / \mathrm{mrad}- 不可分辨 ) ) )) )位于 1 lp / mrad 1 lp / mrad 1lp//mrad1 \mathrm{lp} / \mathrm{mrad}
通过使用不同空间频率的 4 条杠目标重复测量 MRTD 后,可以创建如图 45 所示的二维函数。X 轴代表测量中使用的 4 条杠目标的空间频率。
Y 轴 - 解析 4 条杆目标所需的最小差分温度值。最常见的挑战是在接近奈奎斯特频率(接近图中垂直渐近线)的空间频率处准确测量 MRTD。
45) 在这种情况下,目标空间频率的微小变化会产生测得的 MRTD 值的显著差异。
这种情况产生了需要拥有一个非常长的由不同空间频率组成的 4 栏目标序列的必要性,以便能够准确测量市场上众多热成像仪的 MRTD。
图 45. 典型短程热像仪的 MRTD:a) 线性刻度,b) 对数刻度。
MRTD 被认为是热像仪最重要(流行)的参数。这是由于三个主要原因:
  1. 测量概念易于理解,且可以直接解释测试结果,
  2. MRTD 提供了整个系统性能的信息:热像仪和人类观察者。
  3. MRTD 提供了在实际工作条件下,关于成像仪对三个主要目标群体的性能信息:低温差的大型目标、中等温差的中等尺寸目标、高温差的小型目标。
    因此,MRTD 是热成像仪最流行和最常测量的参数。

10.3.2 NETD

NETD 直接测量的原始概念,是基于通过调节目标温差,使得均方根噪声电压等于由该温差目标引起的相对信号差的思想。
然而,这种直接方法并不方便,因为要调节差分温度以达到这种情况是困难且耗时的。
为了获得更高的信噪比(电压差分信号与均方根噪声 Vn 的比值),使用更高的差分温度更为便利,并使用以下公式计算 NETD:
N E T D = V n Δ V Δ T = V n [ mV ] SiTF [ mV / K ] N E T D = V n Δ V Δ T = V n [ mV ] SiTF [ mV / K ] NETD=(V_(n))/((Delta V)/(Delta T))=(V_(n)[mV])/(SiTF[mV//K])N E T D=\frac{V_{n}}{\frac{\Delta V}{\Delta T}}=\frac{V_{n}[\mathrm{mV}]}{\operatorname{SiTF}[\mathrm{mV} / \mathrm{K}]}
其中 SiTF(信号传输函数)是成像仪响应函数的线性部分,也称为成像仪响应度(图 46)。
图 46. SiTF 的图形概念
值得强调的是,以这种方式定义的 NETD:
  1. 仅是对老式扫描热像仪单个视频线的高频时间噪声的度量,
  2. 该定义对于扫描成像仪不同视频线之间的空间噪声没有任何信息。
    如今,老式扫描热像仪已被现代定焦热像仪完全取代。
    普遍认为,现代定焦热成像仪的 NETD 是测量某个特定二维区域(可能是总输出图像)内所有像素亮度的时间变化。输出亮度通常以数字级别衡量。
因此,在将模拟电压 V(伏特单位)转换为更通用的信号 S(数字级别单位)后,公式(3)被转换为新的形式:
N E T D = N im [ digL ] SiTF [ digL / mK ] N E T D = N im [ digL ] SiTF [ digL / mK ] NETD=(N_(im)[digL])/(SiTF[digL//mK])N E T D=\frac{N_{\mathrm{im}}[\operatorname{digL}]}{\operatorname{SiTF}[\operatorname{digL} / \mathrm{mK}]}
还有共识认为,SiTF 是通过捕获两种不同温度的黑体图像来测量的。这些温度中的一个通常等于环境温度。
此外,看起来对参考测试条件有以下共识[118,119]:
  1. NETD 在黑体温度为 300 K 时被测量
  2. 测量数据被校正以模拟理想黑体和准直器的情况(黑体的发射率为1,准直器的透射率为1)。
    然而,对于噪声 N im N im N_(im)\mathrm{N}_{\mathrm{im}} 应如何定义和测量,尚无一致共识。不同热成像仪制造商或测试系统制造商使用稍微不同的定义和测量方法。

10.3.3 FOV

视场角(FOV)是热成像仪成像的场景的角度大小。FOV 通常呈矩形,并以水平和垂直两个角度表示。热成像仪的 FOV 可以变化很大:从不到一度(约 0.5 0.5 0.5^(@)0.5^{\circ} )到超过 100 100 100^(@)100^{\circ}
FOV 是热成像仪最重要的参数之一。更宽的 FOV 意味着可以分析更广阔的区域。通过缩小 FOV 可以很容易地提高热成像仪的识别、检测和跟踪(DRI)范围,但在保持较宽 FOV 的同时提高 DRI 范围则是一种高超的技术。
因此,应避免对不同 FOV 的成像仪进行 DRI 比较。
热成像仪主要用于远距离监视,当成像仪与目标之间的距离为成像仪物镜焦距的数千倍。
换句话说,可以认为它们大致用于监视位于所谓光学无穷远处的目标(图 47)。对于这种情况,FOV 可以估算为
a) H F O V = acrtg ( H 2 f ) b) V F O V = acrtg ( V 2 f )  a)  H F O V = acrtg H 2 f  b)  V F O V = acrtg V 2 f {:[" a) "HFOV=acrtg((H)/(2f^(')))," b) "VFOV=acrtg((V)/(2f^(')))]:}\begin{array}{ll} \text { a) } H F O V=\operatorname{acrtg}\left(\frac{H}{2 f^{\prime}}\right) & \text { b) } V F O V=\operatorname{acrtg}\left(\frac{V}{2 f^{\prime}}\right) \end{array}
其中 HFOV 为水平视场角,VFOV 为垂直视场角,H 为红外焦平面阵列传感器的水平尺寸,V 为红外焦平面阵列传感器的垂直尺寸,f'为成像物镜的焦距。
图47. 成像仪视场角、物镜焦距和红外焦平面阵列传感器尺寸之间的图形关系
图48. 准直器测试系统投射的十字目标图像
热像仪的视场角通常由准直器测试系统投射的已知角度尺寸十字目标图像的软件分析来确定(如图48所示)。

10.4 关键重要参数

在前面章节中提到的三个参数(MRTD、NETD、FOV)可以被称为最受欢迎的参数,因为在作者看来,至少 80 % 80 % 80%80 \% 的热成像仪测试是以测量这三个参数的形式进行的。然而,这些关键的三个参数存在两个局限性:
  1. 这三个参数可以很好地描述在实验室条件下工作的热成像仪的图像质量,但无法说明在极端环境温度下工作的成像仪的性能。
  2. 这三个参数未能说明相对于瞄准标记的图像位移/旋转情况,而这对于用于射击或瞄准应用的热瞄具来说极其重要。
    因此,还有两组极其重要的参数:
  3.   非热参数
  4.   准直参数

10.4.1 非热参数

热成像仪通常在实验室条件下进行测试,即热成像仪环境温度和目标背景温度约为 20 C 20 C 20^(@)C20^{\circ} \mathrm{C} ,而在现实生活中,这两种温度可能在约 40 C 40 C -40^(@)C-40^{\circ} \mathrm{C} 到约 + 70 C + 70 C +70^(@)C+70^{\circ} \mathrm{C} 的范围内变化。这种实验室测试条件和实际工作条件之间令人震惊的巨大差异,使得根据实验室条件下的测试精确评估极端温度下热成像仪的有效性变得困难,甚至是不可能的。
为了部分解决这个问题,监视型热成像仪的制造商通常根据流行的 MIL-810-STD 军用标准[120]进行环境测试。
测试通常是将位于温度室中的热成像仪暴露于一组极端环境温度,并在规定的时间段内进行,然后检查与环境测试前的性能测试相比,是否存在可忽略的性能下降。
在监视型热成像仪的数据表中,经常可以看到这类测试的说明[121-124]。
然而,根据 MIL-810-STD 标准进行的此类环境测试结果,仅能提供关于成像仪在极端条件下能够存活特定时间段的精确信息
在测试结束后,在环境温度下不会出现显著的性能损失。这些测试并不能提供关于被测成像仪在极端工作条件下实际性能的信息。
使用一组在从 40 C 40 C -40^(@)C-40^{\circ} \mathrm{C} 到约 + 70 C + 70 C +70^(@)C+70^{\circ} \mathrm{C} 的不同工作温度下测量的 MRTD 函数来表征热成像仪的非热性(在可变工作温度下的性能稳定性)是很诱人的解决方案。然而,这种解决方案存在重要的缺陷。首先,由于测量点数量众多,即使在典型的实验室条件下测量 MRTD 也非常耗时。
其次,在数十种工作温度下测量的 MRTD 图形的分析将会困难且耗时。
在这种情况下,作者在最近的一篇论文[74]中提出,将传统的以一维函数形式表示的 MRTD 替换为以两个数值参数形式表示的简化 MRTD。
这两个数值参数描述了 MRTD 函数的极限值:成像分辨率和热分辨率(图 49)。这一解决方案缩短了测量时间。
此外,为了使测量结果分析更加容易,建议将成像分辨率和热分辨率的测量结果标准化到在实验室温度下测得的这些参数的值(图50)。
在测量成像分辨率时,目的是找出仍能分辨的最高空间频率的目标。
相比之下,在测量热分辨率时,目的是找出对于一个大型四杆目标,其中仍可以分辨出杆的最小温差。
图 49. 确定 MRTD 函数两个极限的概念
图50. 测量分辨率归一化概念
这两个参数集提供了分析热成像仪在整个工作温度范围内性能稳定性所需的精确信息。如图51-52所示,国际市场上提供的热成像仪的非温度相关性差异很大。
有些热成像仪(成像仪 3-5 号)在整个分析的工作温度范围内性能稳定。然而,也有一些成像仪(成像仪 1-2 号)在极端温度下性能显著下降(低于 0 C 0 C 0^(@)C0^{\circ} \mathrm{C} 或高于 40 C 40 C 40^(@)C40^{\circ} \mathrm{C} )。事实上,许多热成像仪无法通过非温度相关性测试,并在极端工作温度下完全停止工作。因此,以简化的 MRTD 测量方式对不同环境工作温度进行非温度相关性测试至关重要。
只有非温度相关性测试才能确定被测热成像仪在极端温度下的实际价值。
结论是,在实验室条件下使用典型测试系统(图40-41)进行的测试无法确定被测热像仪的实际价值。本节所述的非热测试应使用特殊版本的测试系统(图)进行。
能够在温度腔中工作
图51. 五种典型热成像仪的归一化成像分辨率与工作温度的关系
[74]
图52. 五种典型热成像仪的归一化热分辨率与工作温度关系[74]

10.4.2 光轴参数

A. 光轴参数列表

光轴参数是描述热成像仪各模块间或热成像仪相对外部成像仪/激光器未完美对准所导致的缺陷的参数,这些缺陷会降低热成像瞄准镜或多传感器目标系统的射击/瞄准精度。
有六个准线参数(误差):
  1. 通过变焦/步进 FOV(仅对可变 FOV 热像仪有效)
  2. 通过对焦(对所有可对焦热像仪有效)
  3. 偏转角度(对光学输出的图像仪有效)
  4. 热成像仪参考机械轴/平面(适用于具有参考轴/平面的热瞄准镜)
  5. 热成像仪到可见近红外/短波红外成像仪(适用于多成像系统中使用的热成像仪)
  6. 热成像仪到激光器(适用于多传感器成像/激光系统中使用的热成像仪)

  B.通过变焦/步进 FOV

变焦/步进 FOV 通过描述在变焦/步进改变 FOV 时输出图像的角度变化。变焦误差通常以目标标记在两个变焦目镜/步进 FOV 设置下的最大夹角像素位置来测量。
测量结果可以用像素或角度单位表示,并针对在窄视场模式下工作的光学目镜进行标准化。
图 53. 热像仪在两种不同变焦目镜放大倍率下生成的同一个方形目标图像:a)广视场模式下的图像,b)窄视场模式下的图像

C. 通过对焦误差

通过对焦描述了由于目标对象距离变化而改变对焦时输出图像的角度偏移。对焦误差通常以光学物镜对焦机构两个设置点的瞄准标记所指示的目标(像素位置)之间的角度来测量。
测量结果以像素或标准化为无穷远对焦的光学物镜的角度单位表示。
  图54.
通过目准直仪在两个距离模拟并由热成像仪在聚焦机构两个位置生成的相同方形目标图像:a)无穷远距离目标的图像,b)模拟 100 米距离目标的图像(目标镜聚焦机构故障的极端情况)

  D. 偏转角

偏转角是热成像仪光学物镜入射光束轴线与热成像仪目镜发射的光束轴线之间的角度。
对于热成像夹具,偏转角还可以定义为当夹具安装在望远镜瞄准具前后,人眼观察到的图像角向位移。
该参数对评估热插接设备的实际性能至关重要。

E. 成像仪到参考机械轴的误差

成像仪到参考机械轴的误差的定义方式取决于成像仪所使用的参考机械平面/轴的类型:
  1. 成像仪视线与垂直于热瞄准具参考前壁的机械轴之间的角度(针对具有参考机械前壁的热瞄准具)
  2. 热像仪视线与步枪导轨底部机械安装支架的机械轴线之间的角度(用于小型热成像瞄准镜的情况)

F. 热像仪与近红外/短波红外成像仪的误差

成像仪间误差可以用两种方式定义。首先,是由两个成像系统(例如热像仪和可见光近红外相机)生成的图像中心之间的角度偏移。
其次,是由两个成像系统的瞄准标记所指示的目标之间的角度。这种光轴对准误差通常以毫弧度等角度单位表示。

成像仪到激光器的误差

成像仪到激光器的误差可以定义为热成像仪瞄准标记指示的目标与由激光系统(激光测距仪/激光指示器、激光笔)发射的激光束中心指示的目标之间的角度。
这种光轴误差通常以毫弧度(mrad)等角度单位表示。
图55. 相对于热成像仪瞄准标记的激光测距仪照射的激光感应卡图像

H. 瞄准轴偏差参数的重要性

作者将瞄准轴偏差参数添加到了热成像仪关键性能参数的一个狭窄范围内。然而,这些参数对于某些热成像仪才真正重要
  1. 对于典型的监视类热成像仪(热成像仪),变焦/步进 FOV 的误差是可以忽略的轻微缺陷。只有在支持射击或目标瞄准应用的高端热成像瞄具中,这一点才变得极其重要。
  2. 热成像瞄具的典型目标通常是中远距离目标。对于近距离目标,无需对焦和射击。
    由于拍摄条件下焦点变化很小,对于如此微小的焦点变化,即使在从最小对焦距离到光学无穷远的更广泛的对焦变化中也变得明显,对焦误差通常可以忽略不计。
  3. 偏转角仅对狭窄组别的热成像仪至关重要:热夹具。对于其他类型的热成像仪,如热瞄准镜、热单筒望远镜来说,这是一个次要缺陷。
  4. 对于用于瞄准应用的多成像系统中的热成像仪与可见近红外/短波红外成像仪之间的误差非常重要。如果这种多成像系统仅用于成像应用,则即使高达1度的视准线误差通常是可接受的。
  5. 对于用于瞄准应用的多成像/激光系统中的热成像仪来说,热成像仪与激光之间的误差非常重要。
  6. 仅对具有这种参考机械轴/平面的热成像仪来说,参考机械轴误差很重要。
    总之,视轴对准参数与输出图像质量参数(MRTD、MTF、对焦参数)无关。
    因此,视轴对准参数(误差)仅对特定类型的热成像仪重要:主要是用于支持射击或其他目标瞄准应用的热瞄具。

10.5 热成像仪的检测、识别和识别距离范围

表16中列出的一系列详细参数提供了热像仪性能的详细信息。
然而,仅基于众多测量参数对热像仪进行评估,对于制造商来说可能是可以接受的,但对最终用户,尤其是军事客户而言则不然。
后者更倾向于简单、易于理解的参数。基于这个原因,监视类热像仪的性能通常用三个有效监视范围来描述。
这些范围定义为在检测、识别和辨别三种监视任务感知标准下,可以看到并感知特定目标的最大距离。规则很简单:DRI(检测、识别、辨别)范围越长,热像仪就越优秀。
关于热成像仪探测、识别和识别(DRI)距离的计算,已有大量文献。仅在 SPIE 数字图书馆中,就可以找到数百篇与此主题相关的论文。因此,此处将仅对以下五种最流行的模型进行简要总结:
  1.   约翰逊方法,
  2.   STANAG 4347 方法,
  3.   TRM4 模型,
  4.   昼夜(TOD)模型,
  5.   夜视-集成性能(NV-IPM)模型。
根据约翰逊模型,任务感知准则与目标感兴趣区域的角尺寸和通过被测成像仪可分辨的最小目标条对的角尺寸之比相关[112]。详细地说,探测、识别和辨识(DRI)范围可以使用以下公式计算
DRI range = R when R = X T ( R ) k α min ,  DRI range  = R  when  R = X T ( R ) k α min , " DRI range "=R" when "R=(X_(T)(R))/(k*alpha_(min)),\text { DRI range }=\mathrm{R} \text { when } R=\frac{X_{T}(R)}{k \cdot \alpha_{\min }},
其中 R 是以公里为单位的成像仪范围, X T X T X_(T)\mathrm{X}_{\mathrm{T}} 是感兴趣目标的角尺寸(通常假定为与目标面积相当的方形),单位为毫弧度,amim 是通过成像仪可分辨的最小分辨率目标的条对角尺寸(单位为毫弧度),k 是取决于范围类型的系数( k = 1 k = 1 k=1\mathrm{k}=1 用于探测范围, k = 4 k = 4 k=4\mathrm{k}=4 用于识别范围, k = 6.4 k = 6.4 k=6.4\mathrm{k}=6.4 用于辨识范围,注意建议因文献而异)。
热像仪中所用红外焦平面阵列(IR FPA)传感器像素的角尺寸,通常与分辨率目标的条纹宽度相当。因此,在(6)中,一对条纹的角尺寸通常被一对 IR FPA 传感器像素的角尺寸所替代。
STANAG 4347 方法可被视为改进的约翰逊准则方法[125]:
  1. 测量的二维特征 MRTD(最小可分辨温差)替代了单一值参数(最小分辨目标成对条纹的角尺寸 α min α min  alpha_("min ")\alpha_{\text {min }} )来表征热成像仪,
  2. 与之前的方法不同,本方法考虑了大气传输和目标热对比度。
    TRM4 范围模型也可被视为对约翰逊方法的显著改进,主要基于两个重要变化:
  3. 测量的二维特征 MTDP(最小可感知温差)取代了最小分辨率目标的一对条纹的角尺寸,以表征热成像仪,
  4. 大气传输和目标热对比度的考虑方式与 STANAG 4347 方法类似,但其大气模型更加先进。
    包含 MTDP 概念的 TRM4 模型已由德国弗劳恩霍夫光电系统技术与图像利用研究所(IOSB)开发,并仍在持续推广[126]。
TOD 模型与约翰逊方法、相关的 STANAG 4347 方法和 TRM4 模型有显著不同。之前讨论的所有 DRI 模型都基于使用 4 条杠分辨率目标。
在测试欠采样成像仪时,使用此类目标会产生相位问题(测试目标位置会影响结果)。
为克服这一问题,荷兰 TNO 人为因素研究所提出,通过测量称为三角形方向辨别(Triangle Orientation Discrimination,TOD)的特征来表征热成像仪的性能,该特征基于使用三角形目标 [127]。
TOD 给出了使观察者以 75 % 75 % 75%75 \% 的概率识别等边三角形方向所需的温度差。后续的探测、识别和识别(DRI)范围是基于测得的 TOD 函数,使用类似约翰逊方法的规则计算的。
美国陆军战斗能力发展司令部(DEVCOM)开发了夜间视觉综合性能模型(Night Vision Integrated Performance Model,NV-IPM)[128,129]。该模型的主要应用
该模型是计算人类性能指标(DRI 范围),类似于之前讨论的模型。然而,NV-IPM 模型与其他 DRI 模型相比存在两个主要区别。
首先,所有先前讨论的 DRI 模型使用单一输入参数(分辨率目标成对柱条的角尺寸、MRTD、MDTP、TOD)来表征热成像仪整体。NV-IPM 使用一系列输入参数来表征热成像仪的各个模块。
其次,所有先前讨论的 DRI 模型使用某种形式的约翰逊准则来表征任务感知标准。NV-IPM 使用目标任务性能(TTP)度量的概念。
经验性推导的目标转移概率函数(TTPF)用于将任务性能的概率与 N resolved N resolved  N_("resolved ")N_{\text {resolved }} V 50 V 50 V_(50)\mathrm{V}_{50} 的比率相关联,其中 V 50 V 50 V_(50)\mathrm{V}_{50} 是以 0.5 概率完成任务所需的度量值。同样, V 50 V 50 V_(50)\mathrm{V}_{50} 是针对特定类型的目标对象通过实验确定的。
总的来说,目前尚无一种被普遍接受的方法来确定热成像仪的探测、识别和鉴定(DRI)范围。存在五种主要的确定这些范围的方法,但这些方法可以有多种变体。此外,还有一些不在本节列出的不太常用的方法。
结果是,热成像仪数据表中常见的 DRI 范围可以使用数十种细节方法计算,这些方法会产生显著不同的结果。
因此,只有在详细说明计算方法的情况下,DRI 范围才能提供关于成像仪性能的精确信息。
作者个人更倾向于使用 STANAG 4347 方法,这是国际组织官方标准支持的热成像仪 DRI 范围计算的唯一方法。
根据本标准为目标计算探测、识别和鉴别(DRI)范围提供精确明确的规则,可避免混乱并使所有提供的热像仪之间的 DRI 范围具有可比性 [111]。
从商业角度来看,热成像技术的未来前景看好,甚至非常乐观。所有市场分析都预测,在未来十年期间,年增长率将处于 7 % 7 % 7%7 \% 9 % 9 % 9%9 \% 之间 [130-132]。作者认为,由于以下四个主要因素,实际增长可能会更高。
首先,可以预期国防/安全领域将会增加更多订单,这是因为最近的战争已经证明了热像仪对现代军事的极高价值。
其次,在生产线上实现非接触式温度测量,机器视觉应用中的辐射成像仪正呈现出大规模使用的趋势。
第三,汽车行业的低成本热像仪正越来越多地被主要汽车制造商接受,成为提高夜间驾驶安全性的必要工具。
第四,可以预测,未来的人工智能/仿人机器人将使用热像仪来增强其视觉能力。
在简要概述商业情况之后,让我们分析热成像技术在不久的将来可以预期的主要技术趋势。
可以合理预期,热成像技术发展趋势的总体目标将与国际市场上任何产品改进的目标相同:提高产品性能或降低制造成本。
按照作者观点,热成像技术未来可预期的10个主要发展方向是:
11. 汽车热成像仪,
12. 基于高温光电红外焦平面阵列的长寿命、轻量化、低功耗制冷型热成像仪,
13. 基于超小像素红外焦平面阵列的高采样热像仪,
14. 基于大型红外焦平面传感器的超高图像分辨率热像仪,
15. 融合热像仪,
16. 用于军事应用的制冷 LWIR 热像仪的复兴,
17. 超远程热像仪,
18. 折叠式热像仪,
19. 用于地球观测的空间热像仪,
20. 中等性能、批量生产、低成本热像仪。
应当指出,第 2-5 条方向与红外焦平面阵列(IR FPA)社区对这些图像传感器未来的预测是一致的[133]。

11.1 汽车热成像

汽车热成像仪是针对夜间和/或低能见度环境提供驾驶辅助,或作为自动驾驶系统的成像传感器而优化的热成像仪。在这两种应用类型中,主要目标是通过识别行人和车辆并为人类/机器驾驶员生成早期预警信号来提高驾驶安全性。
驾驶辅助可以通过两种主要形式提供。首先,通过提供路况的热成像图像,以供驾驶员分析。
其次,热成像仪作为高级驾驶辅助系统(ADAS)的一部分,驾驶过程部分由该驾驶辅助系统的软件控制。
对于在自动驾驶系统中使用的汽车热成像仪,实际驾驶是由经过优化可作为驾驶员的机器人执行(可选择在人工智能水平)。
汽车热成像仪已经存在至少二十年。然而,由于过去相对较高的成本和有限的性能(仅能获得低分辨率热图像),它们仅被用作高端汽车/卡车中的新奇技术。
如今,由于制造成本降低和技术改进(高分辨率图像、先进软件),新销售车辆中安装的汽车热成像仪数量正迅速增长。因此,可以预期在不久的将来,
汽车热成像仪可能会成为一个巨大的市场,与军事/安全热成像仪的市场相当。
预测汽车热成像仪快速增长的主要技术原因是热成像技术相比竞争技术(被动/主动可见近红外相机/短波红外成像仪、激光雷达)的技术优势。
热成像几乎是唯一能够在所需的安全距离内可靠地检测/分类杂乱环境中人员的技术,这得益于两个主要优势。首先,人体和车辆由于具有较高温度,能产生自然的正向高对比度。
其次,能够在夜间和低能见度条件下进行观测。第三,热成像仪对来自太阳或人工光源的眩光不敏感(如其他车辆)。
从技术角度来看,汽车热成像仪可以通过十二个特征来描述(图56):
  1. 非辐射测量(监视类型)成像仪,其图像亮度取决于成像仪 FOV 中目标的温差,
  2. 电子输出成像仪 - 输出图像以电子视频信号的形式传递,
  3. 短距离成像仪 - 典型的人体目标最大探测距离不超过300米(通常更低),
  4. 广角 FOV 成像仪 - 汽车成像仪的典型 FOV 超过 20 20 20^(@)20^{\circ}
  5. 非制冷 LWIR 成像仪 - 制冷成像仪成本过高,对于这种短距离应用并不需要,
  6. 非聚焦光学系统 - 为了降低成本,采用非聚焦光学系统,
  7. 非制冷热成像仪 - 汽车用热成像仪必须在极广的环境温度范围内工作,从大约 40 C 40 C -40^(@)C-40^{\circ} \mathrm{C} (极寒冬季)到大约 + 70 C + 70 C +70^(@)C+70^{\circ} \mathrm{C} (夏季阳光直射条件),
  8. 微型化成像仪 - 由于机动车辆前部的机械限制,需要进行微型化,
  9. 空间噪声校正的先进工具 - 简单的慢快门方法不能使用,因为它会产生明显的无图像周期。需要快速快门方法或基于场景的非均匀性校正方法,
  10. 与先进的驾驶辅助/自动驾驶软件配合 - 仅能生成输出图像的老一代汽车热像仪如今已不再被视为驾驶辅助工具。
    需要能将热像仪转换为高级驾驶辅助系统(ADAS)或自动驾驶(AV)系统的软件。
  11. 带加热窗口的热像仪 - 这种工具可以通过消除水汽/霜冻凝结来实现全天候驾驶,
  12. 低成本 - 如果这类热像仪要在批量生产的车辆中使用,汽车热像仪的价格不能显著提高机械车辆的成本。
    汽车热成像仪的设计极其困难。从技术上讲,它们与军用热成像仪类似,都具有相同的超宽环境工作温度范围,但商用热成像仪的价格要低几倍。
    然而,汽车热成像仪代表了一个潜在的巨大市场。因此,可以预期配备热成像仪的车辆将成为近期的常见解决方案,这类热成像仪的数量将快速增长。
图 56. 两种典型的汽车热成像仪:a) FLIR ADK TM TM ^(TM){ }^{\mathrm{TM}} 热成像仪(来自 Teledyne-FLIR 公司),b) IR-Pilot640X/M 热成像仪(来自 Infiray 公司)

11.2 长寿命、小型化、低功耗制冷热成像仪

高性能中/长距离热成像仪市场主要由采用制冷式红外光电焦平面阵列(FPA)的热成像仪主导。
使用光电焦平面阵列(FPA)制造的热像仪可以提供高达 1000 FPS 甚至更高的帧率,而非制冷热 FPA 的最大帧率仅约为 60 FPS。然而,后者的速度在绝大多数制冷热像仪应用中是完全可接受的。
因此,尽管存在普遍观点,制冷光电热像仪的真正优势并非速度,而是良好的灵敏度(低于 30 mK 的 NETD),即使在使用 F 数在 3.5-5.5 范围的暗光学系统时也是如此。这种光学系统(尤其是变焦光学系统)与非制冷热像仪所需的 F 数在 0.9-1.5 范围的明亮光学系统相比,价格要便宜得多。
然而,制冷热像仪也存在一些重要的缺点。
主导市场至少三十年的所有典型光电红外焦平面阵列(如 InSb/QWIP 传感器)都需要将温度冷却至约 80 K。将温度冷却至这一水平可以使探测能力至少提高两个数量级,相比在实验室温度下工作。
将大型红外焦平面阵列传感器冷却至如此低的 80 K 温度,需要使用成本高、相对较大(尺寸约为 125 × 70 × 30 mm 125 × 70 × 30 mm 125 xx70 xx30mm125 \times 70 \times 30 \mathrm{~mm} ,质量约 450 克)、功耗高(稳态功耗超过 5 W)的斯特林制冷器。
显著的功耗(峰值消耗可能超过 15 W)是制冷成像仪的另一个重大缺点。对于从电源供电的成像仪来说,这种功耗水平可以忽略不计,但对于电池供电的系统来说却是一个挑战。
最后,大多数低温制冷器还以平均无故障时间(MTBF)较短(最高 10000 小时)为特征,更重要的是,在成像仪发生故障后,用户无法更换制冷器。
这个 MTBF 值看起来似乎很高,但对于在许多国防/安全应用中 24 小时不间断工作的成像仪来说,这种使用寿命是不够的。这意味着用户可以预期在略高于一年的时间间隔内出现问题;有时甚至更早。
更换冷却器的潜在制造商服务不仅意味着极高的成本(可能高达成像仪价格的 10 % 10 % 10%10 \% ),还意味着热成像仪无法工作的时间段,以及在不同地理位置进行冷却器维修的额外物流问题。
在这种情况下,在过去三十年里,由于军事客户的压力,全球科学家为开发不需要冷却(在环境温度下工作)或能够接受非低温冷却(传感器温度约为 150 K)的光电焦平面阵列传感器而付出了大量努力,这并不令人惊讶。
已分析了一系列不同的技术:光电导检测器、光电电磁检测器、排除的光电导提取光电二极管磁浓度效应检测器、具有光学浸入的检测器、光子俘获检测器、级联红外设备、InAs/GaSb II 型超晶格(T2SL)、II 型应变层超晶格(T2SLSs)以及诸如 nBn 器件等批量势垒检测器[134,135]。
多年来,只取得了相当 poor 的成果:科学出版物但没有真正的产品。然而,最近(最近三年的时期)后三种技术已显著改进,并且红外焦平面阵列传感器
这些方法已开始在商业领域提供[136,137]。这类焦平面阵列(FPA)传感器(称为 HOT 冷却 FPA)也被用于批量生产的热像仪中[137,138]。
InAs/GaSb 二型超晶格(T2SL)是指在几个周期内通过交替 InAs 和 GaSb 层形成的超晶格传感器[139]。
无镓的 InAs/InAsSb 二型应变层超晶格(T2SLS)是一种可调节带隙、宽带 III-V 红外探测器材料[140]。
nBn 是一种红外光电探测器,其结构类型为 nBn,其中势垒层(BL)夹在一个作为接触层(CL)的 n 型半导体和一个 n 型吸收层之间[141]。
这三种技术差异很大,但共同特点是非低温工作温度,这使得微型斯特林制冷器得以使用,降低了功耗,并在一定程度上延长了制冷器的使用寿命(表17,图57)。
使用非低温制冷器的额外好处是降低了制冷器的价格,并且可以由客户车间的训练有素的团队进行潜在的维护。
表 17. 两种商用微型制冷器的参数:a) K508 用于传统低温红外焦平面探测器;b) K580 用于高温红外焦平面探测器[142]
  参数 K508 K580
  总冷却功率 550 mW @ 80 K 550 mW @ 80 K 550mW@80K550 \mathrm{~mW} @ 80 \mathrm{~K} 110 K 时为 600 毫瓦
MTBF   15000 小时   17000 小时
稳态功率消耗 在 80 K 时为 5.5 W 在 150 K 时为 1.5 W
冷却时间 @ 23 C 23 C 23^(@)C23^{\circ} \mathrm{C} 5 分钟@80K 3 分钟@150 K
  冷端温度 65 110 K 65 110 K 65-110K65-110 \mathrm{~K} 130 150 K 130 150 K 130-150K130-150 \mathrm{~K}
制冷器/控制器重量   450克   215 克
Parameter K508 K580 Total cooling power 550mW@80K 600 mW @ 110 K MTBF 15000 hour 17000 hour steady state power consumption 5.5 W at 80 K 1.5 W at 150 K Cooldown time @ 23^(@)C 5 min @ 80K 3 min @ 150 K Cold tip temperature 65-110K 130-150K Cooler/controller weight 450 g 215 g| Parameter | K508 | K580 | | :--- | :--- | :--- | | Total cooling power | $550 \mathrm{~mW} @ 80 \mathrm{~K}$ | 600 mW @ 110 K | | MTBF | 15000 hour | 17000 hour | | steady state power consumption | 5.5 W at 80 K | 1.5 W at 150 K | | Cooldown time @ $23^{\circ} \mathrm{C}$ | 5 min @ 80K | 3 min @ 150 K | | Cold tip temperature | $65-110 \mathrm{~K}$ | $130-150 \mathrm{~K}$ | | Cooler/controller weight | 450 g | 215 g |
图 57. 两种斯特林微型冷却器:a)用于低温汞镉碲焦平面阵列传感器(Lynred 公司的天蝎座),b)用于高温 T2SL 焦平面阵列传感器
总的来说,经过几十年的缓慢进展,高温光电红外焦平面阵列技术最近已跨越商业化水平,预计基于高温焦平面阵列的制冷型热像仪市场份额将迅速增长。
高科技便携式热像仪尤其有望从这项新技术中获益。

11.3 高采样热像仪

红外焦平面阵列(IR FPA)图像传感器是一个对红外目镜生成的图像进行空间采样的系统。采样在所谓的奈奎斯特频率下进行,该频率等于像素间距的倒数。
当光学图像的最高空间频率低于或等于采样系统(红外 FPA 传感器)的奈奎斯特频率时,光学图像可以完美地记录,不会出现任何称为混叠的失真。
众所周知,由红外目镜生成的图像所描述的光学信号的最大空间频率,是由光学衍射效应决定的,并且可以通过计算平均波长与光学 F 数(焦距与出瞳直径的比值)的乘积的倒数来确定。
这一最大频率也可以被解释为空间频率,当光学系统的衍射 MTF 降至零时。
因此,红外焦平面阵列传感器的像素间距应为任务优化,以对图像进行采样,该图像由成像光学系统生成。
采样频率(红外焦平面阵列的像素间距)不能过低(欠采样成像仪的情况),因为红外焦平面阵列传感器无法读取成像光学系统生成的图像的所有细节。
采样频率不应过高(过采样成像仪的情况),因为在这种情况下,红外焦平面阵列传感器能够读取非常小的细节,而这些细节无法由成像光学系统生成。
利用图像生成光学系统优化的红外焦平面阵列传感器的最小像素间距,可以使用公式(7)计算:
N F = 1 2 d = 1 λ F d = λ F 2 N F = 1 2 d = 1 λ F d = λ F 2 NF=(1)/(2d)=(1)/(lambda F)quad rarrquad d=(lambda F)/(2)N F=\frac{1}{2 d}=\frac{1}{\lambda F} \quad \rightarrow \quad d=\frac{\lambda F}{2}
其中 NF 是红外焦平面阵列传感器的奈奎斯特频率, λ λ lambda\lambda 是平均波长,F 是光学系统的 F 数,d 是像素间距。
应当指出的是,这里使用信号采样理论和光学衍射理论推导的公式(7)与红外焦平面阵列(IR PFA)社区使用复杂数学模型模拟热成像仪以生成有效监视范围增加的最小像素间距的公式完全相同[143]。
如果我们假设热成像仪的典型平均波长为 MWIR 成像仪的 4 μ m 4 μ m 4mum4 \mu \mathrm{~m} 或 LWIR 成像仪的 10 μ m 10 μ m 10 mum10 \mu \mathrm{~m} ,并且光圈数为 1 的明亮光学系统,那么我们可以计算红外焦平面阵列(IR FPAs)的最小有效像素间距,MWIR 波段为 2 μ m 2 μ m 2mum2 \mu \mathrm{~m} ,LWIR 波段为 5 μ m 5 μ m 5mum5 \mu \mathrm{~m} 。实际上,设计衍射极限的超亮(光圈数等于 1)光学系统在技术上非常困难。因此,为了设定更现实的目标,可以假设 F1.2 光学系统,此时 MWIR 焦平面阵列的最小像素间距为 μ m μ m mum\mu \mathrm{m} ,LWIR 焦平面阵列的最小像素间距为 6 μ m 6 μ m 6mum6 \mu \mathrm{~m}
目前,大多数 manufactured 的红外焦平面阵列(IR FPAs)的像素间距处于 15 / 17 μ m 15 / 17 μ m 15//17 mum15 / 17 \mu \mathrm{~m} 水平。像素更小的图像传感器,处于 10 / 12 μ m 10 / 12 μ m 10//12 mum10 / 12 \mu \mathrm{~m} 水平,仍然是市场新品。这意味着当今使用的热成像仪仍然是欠采样成像仪,无法捕捉由完美、衍射极限且明亮的红外光学系统创建的图像的所有细节。
公式(7)所示的最小有效像素间距的低值(几乎低于平均波长的两倍),即使在 F1.2 光学系统的情况下,也显示了通过传统方式减小焦平面阵列传感器的像素间距来增加热成像仪有效监视范围的巨大潜力(尤其是对于 MWIR 成像仪)。
因此,最初提出的关于红外焦平面阵列(IR FPAs)像素最小化极限理论的论文,在红外焦平面阵列社区引发了巨大的热情,人们对所谓的小像素焦平面阵列充满期待,这些阵列的像素接近公式(7)确定的极限[144-146]。
具体来说,一些焦平面阵列科学家认为像素尺寸小于波长的焦平面阵列是过采样图像传感器,但根据原始采样信号理论,这种说法并不完全准确。
使用这种超小像素焦平面阵列(中波红外波段像素间距范围为 2.4 4 μ m 2.4 4 μ m 2.4-4mum2.4-4 \mu \mathrm{~m} ,长波红外波段像素间距范围为 6 10 μ m 6 10 μ m 6-10 mum6-10 \mu \mathrm{~m} )并构建高采样成像器,预计将带来一系列好处:
  1. 制造成本更低(同一晶圆可生产更多传感器,或保持相同数量的传感器但像素数量更高),
  2. 更广泛的监控范围,
  3. 与现有成像设备相比体积更小、功耗更低。 12 / 10 μ m 12 / 10 μ m 12//10 mum12 / 10 \mu \mathrm{~m} 焦平面阵列。
所有这些预测显然都基于非常合理的逻辑。
首先,数学模型清楚地表明,通过减小焦平面阵列传感器的像素间距,直到有效衍射模糊是像素间距两倍的极限点,可以增加监视范围 [143]。
其次,一些制造商已经制造出超小像素红外焦平面阵列作为测试设备 [144-145]。DARPA 已支持超小像素焦平面阵列的研发项目 [145]。
然而,作者对使用超小像素焦平面阵列和明亮光学系统制造的热成像仪的性能收益与制造成本之间的比率仍有严重的疑虑。
首先,本文的公式(7)和参考文献143图6-7中的发现基于两个不切实际的假设:
  1.   无像差光学系统,
  2. 高热对比度目标(或无噪声成像仪)。
然而,实际上即使是市场上所谓的衍射极限物镜,其光学系统的像差 MTF 也与光学衍射 MTF 相当。
此外,热成像仪通常用于对长距离目标的监视,这些目标呈现为低对比度目标(温差低于约 2 C 2 C 2^(@)C2^{\circ} \mathrm{C} )。
其次,为高采样热成像仪生产所需的光学系统存在一些商业限制。
当前的高科技中波红外(MWIR)成像仪采用暗变焦光学系统(F 数在 3.5 至 5.5 范围内),而对于新型高采样成像仪,实际需要 F 数不高于 1.2 的超亮变焦光学系统。
设计超亮的衍射极限变焦光学系统极其困难且成本高昂。因此,作者估计,F 数低于 1.2 的超亮光学系统仅适用于使用相对小的 1-FOV 光学系统的短/中程成像仪。
对于中/长程成像仪,可以预期 F 数约为 2 的光学系统(包括变焦镜头)。
对于非制冷的 LWIR 成像仪,经济前景看起来要好得多。它们已经使用光圈数(F 数)低至 1 的超亮光学系统进行了制造。
因此,只需进行一些质量改进(几乎完全消除像差)就可以实现在最优采样热成像仪中的应用。
然而,需要注意的是,在 LWIR 成像仪的情况下,使用最优采样成像仪的理论收益并不像在 MWIR 成像仪中那样显著。
总之,使用超小像素红外焦平面阵列(FPAs)构建的高采样热成像仪,可以在不增加成像仪质量/尺寸的情况下,显著增加监视范围。
然而,这些潜在的能力必须通过实际高采样成像仪的设计和测试来验证,以评估此类成像仪的真实性能/成本比。

11.4 超高分辨率热成像仪

提高图像分辨率意味着延续了增加红外焦平面阵列传感器像素数量的老趋势。
在军用热成像仪中,特别是用于防空系统自动目标识别的成像仪,当这个参数极其重要时,它使热成像仪的视场(FOV)能够增大。
已有报告称已成功制造出分辨率高达 2048 × 2048 2048 × 2048 2048 xx20482048 \times 2048 [133]的制冷光电红外焦平面阵列和分辨率为 2048 的微测辐面阵列 × 1536 × 1536 xx1536\times 1536 [146]。然而,目前尚不确定这些超高分辨率焦平面阵列何时能进入批量生产阶段并投放市场。
值得警示的是,科学论文中报道的红外焦平面阵列图像分辨率与市场上实际提供的红外焦平面阵列图像分辨率之间存在很大的差异。
有论文建议,开发新型超高分辨率红外焦平面阵列(具有大量探测器的大型芯片)将消除使用光学变焦光学系统来调节热成像仪的 FOV [143]。
昂贵、笨重且缓慢的光学变焦镜头将被软件形式的电子变焦所取代。
这种场景在典型数码相机(包括手机相机)中已经实现。早期基于低分辨率 CMOS 传感器(像素数低于 1 Mpx)并配备可变焦距变焦镜头的相机,已被基于超高分辨率 CMOS 传感器(像素数超过 10 Mpx)、简单的光学镜头和低分辨率显示屏的相机取代。后者的相机能通过电子变焦软件调节显示屏上图像的放大倍率。
必须强调的是,我们讨论的不是那种通过软件人为增加像素数量以放大图像的老式准电子变焦。
现代电子变焦是一种通过在低分辨率显示器上呈现由图像传感器生成的高分辨率图像的可变大小中心部分来调节图像放大倍率(成像仪的 FOV)的方法。
最小放大倍率(最大 FOV)发生在传感器的全图像被呈现时;最大放大倍率发生在仅呈现小的中心部分时。
作者认为,这种预测在不久的将来不太可能实现,因为可见近红外相机的情况与热成像相机的情况有很大不同。
电子(软件)变焦的最大真实放大倍率 Mmax 可以使用简单公式(8)计算
M ( max ) = S H R D H R M ( max ) = S H R D H R M_((max))=(SHR)/(DHR)M_{(\max )}=\frac{S H R}{D H R}
其中 SHR 是传感器水平分辨率(像素),DHR 是显示器水平分辨率(像素)。
红外变焦目镜通常可以调节 1 至 10 倍的放大倍率(FOV),在制冷型 MWIR 成像仪的情况下甚至可达 20 倍,而在非制冷 LWIR 成像仪的目镜中为 4-7 倍。
正如在表18中可见的,由于需要使用超高分辨率红外焦平面阵列传感器,在可预见的未来,提供类似光学变焦范围的图像放大调节的热成像仪设计是完全不可能的。
详细来说,当前的红外焦平面阵列技术仅能开发出不超过两倍的电子变焦。与变焦目镜10-20倍的放大倍率相比,这是非常低的水平。
然而,从长远来看(几十年内),很可能会开发出具有高倍数电子变焦的高分辨率热成像仪。
表18. 基于超高分辨率焦平面阵列和低分辨率显示器的数字变焦最大放大倍数
  显示分辨率 [px]
  传感器分辨率 640 × 480 640 × 480 640 xx480640 \times 480 1024 × 760 1024 × 760 1024 xx7601024 \times 760 1280 × 1024 1280 × 1024 1280 xx10241280 \times 1024
640 × 480 640 × 480 640 xx480640 \times 480 1.0 N/A N/A
1024 × 760 1024 × 760 1024 xx7601024 \times 760 1.6 1.0 N/A
1280 × 1024 1280 × 1024 1280 xx10241280 \times 1024 2.0 1.3 1.0
2560 × 2048 2560 × 2048 2560 xx20482560 \times 2048 4.0 2.5 2.0
5080 × 4096 5080 × 4096 5080 xx40965080 \times 4096 7.9 5.0 4.0
10160 × 8188 10160 × 8188 10160 xx818810160 \times 8188 15.9 9.9 7.9
Display resolution [px] Sensor resolution 640 xx480 1024 xx760 1280 xx1024 640 xx480 1.0 N/A N/A 1024 xx760 1.6 1.0 N/A 1280 xx1024 2.0 1.3 1.0 2560 xx2048 4.0 2.5 2.0 5080 xx4096 7.9 5.0 4.0 10160 xx8188 15.9 9.9 7.9| | Display resolution [px] | | | | :--- | :--- | :--- | :--- | | Sensor resolution | $640 \times 480$ | $1024 \times 760$ | $1280 \times 1024$ | | $640 \times 480$ | 1.0 | N/A | N/A | | $1024 \times 760$ | 1.6 | 1.0 | N/A | | $1280 \times 1024$ | 2.0 | 1.3 | 1.0 | | $2560 \times 2048$ | 4.0 | 2.5 | 2.0 | | $5080 \times 4096$ | 7.9 | 5.0 | 4.0 | | $10160 \times 8188$ | 15.9 | 9.9 | 7.9 |
总的来说,可以预期在不久的将来,热成像仪的图像分辨率至少将比典型的电视分辨率水平( 640 × 480 640 × 480 640 xx480640 \times 480 像素)提高 2 倍。然而,这个分辨率仍然太低,无法消除使用光学变焦目镜的需求。

11.5 融合式热像仪

如第9.7节所讨论的,多成像系统(通常集成热像仪和可见近红外相机,很少与短波红外成像仪集成)是电光成像系统中发展迅速的一类。这些多成像系统能够提供感兴趣场景的双(或多)光谱波段图像。
用户可以选择首选的光谱波段:热图像、可见近红外图像或短波红外图像。
在这类多成像系统中,用户通常一次只能在系统显示器上查看一个通道的图像,较少情况下,用户可以在多个显示器上或一个分屏显示器上查看输出图像。
这些多成像系统已经证明对监视应用极其有用,但也存在一些局限性。
主要缺点是需要人类观察者在不同显示屏之间或至少在同一显示屏的不同区域之间进行视觉注意力的循环跳跃。
这一缺点显著限制了典型多成像系统的有效性,但可以通过使用融合成像系统来消除。
从硬件角度来看,融合成像系统基本上是典型的多成像系统,其软件能够分析由两个(或多个)子成像器生成的视频图像,并快速将这些图像融合成一个图像,该图像集合了由不同子成像器生成的图像所传递的最有价值的信息。
热成像仪通常是此类融合成像系统中最重要和最昂贵的部分,这类成像系统也常被称为融合热成像仪。
人眼可以被视为融合成像系统的一个很好的例子。人眼的电光学系统在三个不同的光谱波段(蓝、绿、红)生成图像,但人脑将这些图像组合成一个输出彩色图像。
从理论上讲,融合成像系统的成像器比人类操作的典型多成像系统要好得多。在融合图像中,通过高对比度/颜色指示感兴趣目标要比在典型的低对比度原始图像中容易得多。 %%
在自动目标识别系统中,这些优势并不是很高,尽管这些系统能够对多个视频图像进行实时分析,但一些图像融合仍然是有用的。
融合热成像仪以不同形式(融合夜视镜、融合瞄准镜、融合单筒望远镜、融合热成像双筒望远镜)已经存在至少二十年了。
由融合成像系统生成的高对比度/亮色图像,清晰地显示位于可见波段背景上的检测到的热目标,可以在许多互联网网站上找到。
许多公司都提供融合热成像仪[147-149]。此外,关于热图像融合的文献非常丰富[150-153]。
因此,读者可能会对本书中提出的热像融合技术作为热成像技术的未来发展趋势感到惊讶。作者认为,当前的融合技术仍处于起步阶段。
图58展示了图像融合的两种主要技术:
  1.   光学融合
  2. 电子(数字)融合
第一代融合成像仪通过使用特殊的合并光学系统(一种逆光束分离器)来组合两个光学图像。
第二代融合成像仪通过捕获两个通道的电子视频图像,进行图像分析,并生成一个新的融合视频图像。
图 58. 当今融合技术的示例:a) L3Harris 的双目夜视设备 BNVD-Fused(光学融合),b) Tonbo Imaging 的融合热武器瞄准镜 Cobra(电子融合)
光学融合成像仪的明显设计简单性是第一组的优势。
然而,这类融合成像仪通常存在两个光学图像不精确对准的问题,这会导致明显的模糊或图像偏移,并且该类融合热成像仪的前景相当黯淡。
就电子融合成像仪而言,情况要好得多,这是因为可以通过高级图像处理来实现更好的图像对准和目标定位。然而,电子融合成像仪仍然存在两幅图像不准确对准的问题。
作者测试了一系列融合成像仪(包括光学融合和电子融合),并发现在融合图像上进行测试时,成像仪的 MTF 通常明显更差。
这解释了为什么一些热成像融合仪的用户对融合通道的性能不满意,并转而使用热通道或视觉通道。
然而,电子融合的方法最近已从科学项目产品阶段提升到可靠的商业产品水平。
目前,一些热像仪大型制造商为嵌入式系统提供图像信号处理软件开发包(SDK),能够实现高级图像融合(热成像和可视光)以及其他功能,如降噪、超分辨率、电子图像稳定和湍流缓解。
因此,作者预期超先进的电子输出融合热像仪将在不久的将来成为汽车
行业(先进驾驶辅助系统、自主车辆系统)和军事/安全应用(现场监视、目标识别和目标跟踪)中的流行工具。
然而,热成像融合技术的真正革命将出现在更远的未来。
当前的热成像融合设备基本上是两个独立的成像仪:热成像仪和可见近红外相机。实际上,这意味着两个差异很大的成像系统(具有不同像素的焦平面阵列、不同轴线和放大倍率的光学系统)。
先进的软件可以在一定程度上对这两幅图像进行对准,但在像素级别上总会存在一些限制。对两幅完整图像进行亚像素精度的对准几乎是不可能的。
因此,真正的重大进展可能来自于使用双波段焦平面阵列传感器,这种传感器由两个重叠的图像传感器组成,能够同时生成两幅不同光谱的图像(热图像和可见光图像)。
由于这两幅图像都是由同一个图像传感器创建的,因此可以实现完美对准。
在多波段焦平面阵列技术方面已经取得了明显进展,这种以多波段重叠焦平面阵列和单一宽带光学系统形式构建的先进融合系统在未来有望成为现实。
融合成像也可以被视为增强现实技术的重要组成部分。
微软为美国陆军开发的综合视觉增强系统(IVAS)可以被视为一种增强现实头盔,通过叠加传感器图像(热成像和可见近红外成像的融合)和其他信息(包括地形和建筑物内部地图、友军和敌军位置)来提高态势感知能力(如图)。
该系统为融合技术的未来应用展示了重要的方向。
图 59. 微软公司的综合视觉增强系统(IVAS)

11.6 制冷型长波红外热像仪的复兴

在 20 世纪 70 年代和 80 年代,使用线性 LWIR 焦平面阵列(FPA)制造的制冷型 LWIR 热像仪主导了军用成像市场。
直到 1990 年代,这一市场逐渐被不断改进的 MWIR 成像传感器制造的制冷型 MWIR 成像仪,以及后来的非制冷型 LWIR 成像仪所取代。
目前,短/中程成像仪市场由非制冷型 LWIR 热像仪主导,中/长程成像仪市场则由制冷型 MWIR 热像仪主导,具体原因在第 9.1 节中已作解释。由于需求有限,热像仪光学系统的主要制造商很少提供 LWIR 光学产品。
然而,出于现代战场条件和制冷型 LWIR 焦平面阵列技术的改进等原因,这一情况在不久的将来可能会发生显著变化。
首先,最近的军事冲突表明,越来越多的 MWIR 激光器被用于致盲或损坏 MWIR 范围内的导引寻的器,甚至是典型的 MWIR 成像仪。
MWIR 激光器技术已经提高到便携、成本适中,并且可以在野外条件下使用的水平。
其次,几十年来人们已经知道,MWIR 成像仪的性能会因军用车辆产生的烟雾甚至灰尘而下降。
这些特征增加了 LWIR 成像仪的吸引力,因为它们对烟雾/灰尘不太敏感,而且在 LWIR 波段几乎没有激光器可以运行,只有一个例外:老旧笨重但仍然有效的 CO 2 CO 2 CO_(2)\mathrm{CO}_{2} 激光器。众所周知,在 10.6 μ m 10.6 μ m 10.6 mum10.6 \mu \mathrm{~m} 工作的 CO 2 CO 2 CO_(2)\mathrm{CO}_{2} 激光器可用于致盲典型的
对于波段从 8 μ m 8 μ m 8mum8 \mu \mathrm{~m} 到约 12 μ m 12 μ m 12 mum12 \mu \mathrm{~m} 敏感的 LWIR 热像仪。然而,后一个缺点可以被消除。限定光谱波段为 7.7 9.4 μ m 7.7 9.4 μ m 7.7-9.4 mum7.7-9.4 \mu \mathrm{~m} 的制冷 LWIR 成像仪可以被视为对抗 CO 2 CO 2 CO_(2)\mathrm{CO}_{2} 激光威胁的最佳解决方案,因为这类成像仪对 CO 2 CO 2 CO_(2)\mathrm{CO}_{2} 激光完全不敏感,并且与非制冷成像仪相比可以提供更好的 NETD。此外,由于平均波长从典型的 10 μ m 10 μ m 10 mum10 \mu \mathrm{~m} 移动到约 8.5 μ m 8.5 μ m 8.5 mum8.5 \mu \mathrm{~m} ,衍射效应比典型的非制冷 LWIR 成像仪更弱。
还应注意的是,近期在 HOT 光电 LWIR 焦平面阵列(FPA)技术的改进,已经创造了开发中等成本制冷 LWIR 热像仪的技术,且具有这种最佳光谱波段[155]。
因此,可以预期基于上述原因,制冷 LWIR 成像仪的市场份额在不久的将来将会上升。

11.7 超远程热像仪

数十年来,军事和安全组织日益增长的需求推动了开发更远操作距离的热像仪的竞赛。三十年前,能够探测5公里距离内的人类被认为是一项超群的成就。
如今,在边境监视塔的热像仪招标要求中,能够探测20公里距离内人类已成为相当普遍的情况。
热成像仪已经证明是长距离防空系统或飞行器监视系统中极其有价值的被动工具,能够在40公里甚至更远的距离上有效地监视目标。
因此,可以合理预期这种发展趋势将持续,在不久的将来,我们可以期待出现侦测距离更远的热成像仪(比如能在30公里外探测人体)。
众所周知,热成像仪有效监视的最大作用距离大致与尼奎斯特频率成正比。
换句话说,为了增加探测范围,需要增加被测热成像仪像素的反向角度大小。因此,可以通过两种方式增加探测范围:
  1. 通过减小红外焦平面阵列传感器的像素,
  2. 通过增加光学系统的焦距。
在过去的三十年里,热成像仪的分辨率(奈奎斯特频率)和间接的操作范围主要通过减小红外焦平面阵列传感器的像素而得到了几倍的提升。
光学系统的最大焦距/光圈保持在几乎恒定的水平(焦距高达约1250毫米;光圈高达约250毫米)。
然而,通过减小红外焦平面阵列(IR FPA)传感器的像素同时保持光学系统光圈不变以提高热像仪分辨率/范围的这种模式在未来将无法继续。
目前,超远程热像仪市场由使用暗目标(光圈数在3.5-5.5范围内)、焦距高达约1250毫米的制冷型热像仪主导。
如第 11.3 节所讨论,预计将出现新一代像素间距更小(低至 2.4 μ m 2.4 μ m 2.4 mum2.4 \mu \mathrm{~m} )的红外焦平面阵列传感器,但这些传感器需要与明亮的光学系统(光圈数低至 1)配合。这意味着 MWIR 超远程热像仪的奈奎斯特频率可以得到改善,但代价是增大 MWIR 超远程热像仪光学系统的光圈。
因此,可以预测在不久的将来,使用高达400毫米或更大光学系统的新型超远程中波红外成像仪将会出现。
进一步来说,如果制冷型长波红外成像仪要在这场超远程监测竞赛中与中波红外成像仪竞争,它们需要使用类似焦距但更大光圈的光学系统,这是由于其更长的波长。
因此,在未来,使用高达600毫米或更大光学系统的超远程长波红外成像仪也可以预期会出现。
总而言之,未来可以预期出现具有巨大光学系统的超远程热成像仪,这些系统使它们看起来类似于小型雷达。这类成像仪的主要挑战在于巨大的材料成本和设计所需超大型红外目镜的技术难度。

11.8 折叠式热像仪

热像仪中使用的红外目镜是以机械圆筒的形式构建的,其中安装了镜头。所有镜头的光轴大致相同,这种情况可以称为直线光轴目镜。
这是使用了几个世纪的光学目镜设计的经典解决方案,它使光学元件的对准/居中变得容易。然而,这种经典的设计方法在
针对长距离热像仪优化的大光圈/长焦距目镜的设计中变得 problematic。问题在于成像器的长度必须大约与光学焦距相同。
这一规则意味着,对于使用长焦距光学系统构建的远程成像仪来说,巨大的实际长度(超过1米)在许多应用场景中是不可接受的,例如军用车辆热成像仪,因为缺乏可用空间。
减小红外目镜(进而减小热成像仪)长度的一个潜在解决方案是所谓的折叠(又称 U 型转)长焦距目镜设计(图 60)。
这种方法的基本思路是通过使用几面平面镜折叠目镜的光轴。这样,就可以设计出紧凑型热成像仪,使光学系统和电子设备能够安装在同一个立方体空间内。
图 60. U 型转光学目镜的框图
折叠式红外目镜的紧凑设计是一个巨大的优势,这类成像仪正变得越来越流行。
然而,由于光学元件对准/居中的难度增加,甚至是此类目镜的最终性能测试(MTF 测量)的复杂性,也存在很大的缺点。
具体来说,这类目镜的制造需要专门定制的对准/居中/性能测试站,因为典型的测试站仅针对直线光轴目镜进行了优化。

11.9 用于地球观测的空间热成像仪

如今,人们对太空卫星技术极为关注。即使是小国也开始建立太空计划。世界各地数百个科学研究所和公司正在开发新的卫星。每个月发射的卫星数量不断增加。
由于数字变化很快,提供准确统计数据很困难,但在 2024 年初,太空中已有 8377 颗活跃卫星[156]。估计约 22 % 22 % 22%22 \% 是地球观测卫星[157]。另一个重要的点是,小型卫星(质量约 300 公斤以下)主导太空,占总数的 72 % 72 % 72%72 \% 以上。
地球观测卫星的绝大多数是侦察(监视)卫星,专门用于军事或双重用途的应用。因此,最近冲突地区的卫星图像频繁出现在媒体中并不令人意外。
来自高分辨率/超高分辨率卫星的图像尤其令人印象深刻,因为它们能够生成分辨率目标为细小条宽的图像,对于超高分辨率卫星,这个分辨率可以达到或低于1米。
这些卫星可以提供地面小型目标的清晰图像,如不同的军事目标(坦克、卡车、飞机、直升机、船艇、舰船)或民用目标(汽车、货车、起重机、城市基础设施)。
然而,需要注意的是,几乎所有公开可获得的高分辨率图像都是在可见光、近红外或可见光-近红外光谱波段获得的图像。
目前没有公开的中波红外/长波红外光谱波段的空间图像,其分辨率类似于前面提到的可见光-近红外波段的图像。
关于绝大多数地球卫星的精确信息并不公开。因此,很可能一些监测用的中型/大型卫星具备热成像能力。
然而,出于下文将要阐述的技术商业原因,可以预测这个数字将会很低或极低。
热成像仪由于以下一系列优势,在地球环境下主导了军事/双重用途电光成像系统市场:高热对比度的典型目标、完全黑暗环境下的视觉能力、复杂大气条件下的良好视野,以及与其他电光系统(如可见近红外相机)相比更强的反伪装能力。
然而,与可见近红外相机相比,热成像仪也存在两个主要缺点:
  1.   价格更高,
  2.   更大的尺寸/质量。
第一个缺点在大多数航天项目中可能被视为小成本。第二个缺点在地球条件下使用热成像仪时通常不太重要,但对于航天卫星来说是至关重要的,因为发射成本取决于卫星的质量。
对放置于卫星机舱内的热成像仪的尺寸也有严格的限制。
MWIR/LWIR 热成像仪存在高质量/大尺寸问题的主要原因有两个:
  1. 热像仪中使用的红外焦平面阵列(FPA)的像素尺寸(大于 10 μ m 10 μ m 10 mum10 \mu \mathrm{~m} )通常比 CMOS 传感器的像素尺寸( 5 μ m 5 μ m 5mum5 \mu \mathrm{~m} 或更小)大得多,
  2. 由于衍射效应,需要比可见近红外(VNIR)目镜更大的红外目镜以生成相同角分辨率的图像。
    例如,对于热像仪,需要 F4 MWIR 光学系统(或 LWIR 范围的 F2 光学系统),而空间可见近红外相机通常使用 F8 光学系统(表 19)。
    为了补偿成像传感器像素间距的差异,红外光学目镜的焦距至少需要比可见光近红外(VNIR)目镜长两倍( 10 μ m 10 μ m 10 mum10 \mu \mathrm{~m} 对于红外焦平面阵列(FPA), 5 μ m 5 μ m 5mum5 \mu \mathrm{~m} 对于 CMOS 传感器)。热成像仪还面临着另一个问题,即红外焦平面阵列冷却器的质量/尺寸,这是可见光近红外相机所不需要的。
    这些因素造成了长焦距中波红外(MWIR)热成像仪在航天卫星上的体积/质量比可能比同等性能的可见光近红外相机高出 16 倍。对于长波红外(LWIR)成像仪,这一比例可能再次增加 4 倍。
表19. 三种空间成像仪的参数,具有相同的空间分辨率,位于高度320公里的典型地球低轨道,使用现有技术并按照典型设计规则设计
  成像器光谱波段 像素间距 [ μ m ] [ μ m ] [mum][\mu \mathrm{m}]   光学 F 数 [-]   焦距 [mm]   光学光圈 [mm] 奈奎斯特频率 [lp/mrad] 320 公里高度的地面分辨率 [m]
VNIR 5 8 1600 200 160 1
MWIR 10 4 3200 800 160 1
LWIR 10 2 3200 1600 160 1
Imager spectral band Pixel pitch [mum] Optics F-number [-] Focal length [mm] Optics aperture [mm] Nyquist frequency [lp/mrad] Ground resolution at 320 km height [m] VNIR 5 8 1600 200 160 1 MWIR 10 4 3200 800 160 1 LWIR 10 2 3200 1600 160 1| Imager spectral band | Pixel pitch $[\mu \mathrm{m}]$ | Optics F-number [-] | Focal length [mm] | Optics aperture [mm] | Nyquist frequency [lp/mrad] | Ground resolution at 320 km height [m] | | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | :--- | | VNIR | 5 | 8 | 1600 | 200 | 160 | 1 | | MWIR | 10 | 4 | 3200 | 800 | 160 | 1 | | LWIR | 10 | 2 | 3200 | 1600 | 160 | 1 |
总的来说,与可见光近红外相机相比,空间热成像仪在尺寸和质量方面存在根本性的缺陷。这一缺陷使得热成像无法像地球监视条件下那样主导太空领域。
然而,由于热成像对军事的高度重要性,可以预期空间热成像仪的数量将会增加。

11.10 热成像仪的大规模制造

本章的前几节致力于讨论具有特殊特征的热成像仪,这些特征使其在技术上优于当前的热成像仪。
然而,正如近期的军事冲突所证明的,装备大量中等性能武器的部队可以战胜装备少量超高性能武器的部队。汽车行业的情况也类似。
如果热成像仪要使驾驶更安全,那么它们必须大量使用;仅在精英汽车中使用热成像仪是不够的。
此外,从最近的军事冲突中获得的另一个经验是,热成像仪几乎处处都需要:单兵、机械车辆、无人机、直升机、飞机、防空系统。
这意味着全球军事/安全领域需要大量热成像仪。对于民用领域也可以这么说,汽车行业只是民用市场的一个例子。
因此,热成像技术最难克服的挑战不是技术改进,而是以较低成本进行中等性能热成像仪的批量制造。
理想的情况是热成像仪的价格可以与可见近红外相机的价格相当。实现这种情景的可能性几乎为零。然而,热成像仪与具有相似 FOV 的可见近红外相机之间的价格比率可能会显著下降。
目前,这个比率估计在约10倍左右;在不久的将来,这个比率可能会降至5倍,甚至可能降至3倍。
这种非常显著的价格下降预计将由两个主要因素导致。首先,批量制造自然会降低单位成本。其次,热成像仪关键模块(红外焦平面阵列传感器)的制造商数量正在增加。
日益激烈的竞争将导致这些关键模块的市场价格下降,最终降低热成像仪的价格。

  12. 结论

热成像是一个成熟的技术,已在军事和民用领域得到广泛应用。具体而言,热成像仪是国防和安全应用中最重要的光电成像系统。
这些成像仪对于实现非接触温度测量的一系列民用应用也极其重要。
全球科学界对热成像技术给予了极大的关注。关于这项技术,已经发表了数以万计的科学论文。
尽管已有如此众多的科学论文致力于研究这项技术,但本书仍然独特,因为它试图全面回顾热成像技术,并为与该技术相关的基础性问题提供答案:
  1. 热成像仪是如何制造的,
  2. 热成像仪的模块是如何构建的,
  3. 世界市场上可用的热成像仪如何进行技术分类,
  4. 热成像仪表征的基本规则是什么,
  5. 热成像的未来技术趋势是什么。
因此,这篇关于现代热成像技术的综述可以帮助读者了解国际热成像市场的复杂情况和潜在的未来技术趋势。
作者希望这本书能成为全球从事热成像领域的学生和工程师的参考书。但是,应当指出,为了全面覆盖这一极为广泛的技术,本书做了一些简化处理。
此外,热成像仪的表征和测试未被收录于本书中。因此,建议读者阅读关于热成像仪的设计、制造、分类、应用、表征和测试的文献资料,以补充本书的内容。

13. 缩略语列表

  非晶硅
硅锗合金
专用集成电路
模数转换
AMTIR-1 - 非晶体材料传输红外辐射
反射抗膜(AR)
高级驾驶辅助系统(ADAS)
自动驾驶汽车(AV)
非周期传递函数(ATF)
AHD - 模拟高清,视频接口
BaF2 - 氟化钡
BBAR - 宽带反射抗性涂层
BNC - 卡口式尼尔康曼接头,连接器类型
氟化钙
碲化镉
溴化铯
碘化铯
CCD - 电荷耦合器件(一种使用通过在设备内部逐步"移动"信号来传输电荷的集成电路构建技术)
CCTV - 闭路电视(一种用于近距离监控的可见近红外光谱相机)
CMOS - 互补金属氧化物半导体(一种使用 p 型和 n 型金属氧化物场效应晶体管配对来构建图像传感器的技术)
CPU - 中央处理器
二氧化碳
CL - 接触层,或 CL - 相机链接视频接口
CXP - 同轴传输(CoaXPress)视频接口
DRI - 探测、识别、识别距离
DROIC - 数字读出集成电路
DPROIC - 数字像素读出集成电路
DSP - 数字信号处理器
DLC - 类金刚石碳涂层
离散余弦变换
国防高级研究计划局
显示水平分辨率
  电光学
  电磁兼容性 - 电磁
焦平面阵列
视场
前视红外摄像机(热像仪的名称之一)
FIR - 远红外(波长范围约从 15 μ m 15 μ m 15 mum15 \mu \mathrm{~m} 到约 1000 μ m 1000 μ m 1000 mum1000 \mu \mathrm{~m}
FPS - 每秒帧数
FPGA - 现场可编程门阵列
FPN - 固定模式噪声
  
砷化镓
  
千兆以太网,视频接口
HgCdTe HgCdTe HgCdTe-\mathrm{HgCdTe}- 汞(Hg)镉(Cd)碲(Te)是红外传感器应用的材料
高清(高定义)
高清复合视频接口(HD-CVI),视频接口
高清传输视频接口(HD-TVI),视频接口
HDMI - 高清多媒体接口,视频接口
InSb - 锑化铟(InSb)是由铟(In)和锑(Sb)元素组成的晶体化合物
IR - infrared band (spectral range from about 0.78 \mum to about 1mm)
IIT - image intensifier tube
IRT - infrared thermography
IEI - Iran Electronics Industry
IVAS - integrated visual augmentation system
KBr - Potassium Bromide
KCl - Potassium Chloride
KRS-5 - Thallium Bromoiodide
lp/mm - line pairs per millimeter
lp/mrad - line pairs per miliradian
LWIR - long wave infrared band (spectral range from about 6 \mum to about 15 \mum)
LiF - Lithium Fluoride
LRF -laser range finder
LVDS - Low Voltage Differential Signaling, video interface
MgF2 - Magnesium Fluoride
MWIR - medium wave infrared band (spectral range from about 3 \mum to about 6 \mum)
MIL - United States defense standard, often called a military standard
MTF - modulation transfer function
MRTD - minimum resolvable temperature difference
MTDP - minimum temperature difference perceived
MDTD - minimum detectable temperature difference
MTBF - mean time before failure
NIR - near infrared band (spectral range from about 0.8 \mum to about 1 \mum)
NVD - night vision device
NETD - noise equivalent temperature difference
NaCl - Sodium Chloride
NU - non-uniformity
NUC - non-uniformity correction
NTSC - national television system committee, video interface
OGI - Optical gas imaging
PbSe - polycrystalline lead (Pb) selenide (Se) is a material for infrared sensor applications
PAL - phase alternating line, video interface
PVF - point visibility function
QWIP - quantum well infrared photodetector
RMS - root mean square
ROIC - read out integrated circuit
R/D - research and development
SiTF - signal transfer function
SNR - signal to noise ratio
SWIR - short wave infrared (spectral range from about 1 \mum to about 3 \mum)
SoC - System on chip
Si - Silicon
SPDT - Single Point Diamond Turning
SHR - sensor horizontal resolution
SDK - software development kit
SDI - serial digital interface, video interface
SRF - slit response function
T-temperature
TIC - thermal imaging camera
TI - thermal imager
TOD - triangle orientation discrimination
T2SL - type-II superlattice
T2SLSs - type II strained-layer superlattices
USB - universal serial bus, video interface
UDP - User Datagram Protocol, video interface
V-voltage
VNIR - spectral band that covers both visible and near infrared (from about 400nm to about 1000nm)
VIS - 可见光波段(光谱范围从约 0.4 μ m 0.4 μ m 0.4 mum0.4 \mu \mathrm{~m} 到约 0.8 μ m 0.8 μ m 0.8 mum0.8 \mu \mathrm{~m}
VOx - 氧化钒
硒化锌(ZnSe)
硫化锌(ZnS)

  致谢

作者对 Inframet 光电部门的所有工作人员表示诚挚的感谢和谢意,他们进行了数百次热像仪测试,并帮助我更好地理解这些复杂的成像系统。

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克日什托夫·赫尔扎诺夫斯基在波兰华沙的军事技术大学获得了电子工程的博士学位和博士科学学位,目前在同一所大学担任教授。
他的主要科研兴趣包括电光成像/激光系统的设计、表征、测试和计算机仿真:热成像仪、夜视设备、可见光近红外相机、短波红外成像仪、激光测距仪、激光指示器、多传感器系统、融合系统、紫外线相机和光学瞄具。
他是100多篇科学论文的作者或合著者,这些论文已获得1000多次引用。
他同时是一家制造电光成像/激光系统测试设备的公司的创始人和首席执行官:Inframet(www.inframet.com)。该公司是电光成像/激光系统及其模块测试设备领域的世界领先企业之一。
  • INFRAMET

  1. 1 1 ^(1){ }^{1} Inframet,Bugaj 29A,05-082 Koczargi Nowe,波兰,www.inframet.com
    2 2 ^(2){ }^{2} 军事技术大学,光电研究所,2 卡利斯基街,00-908 华沙,波兰
  2. 作者计划撰写一本关于热成像仪表征/测试主题的新书。
set 限制解除